WO2005069447A1 - 電気的接続装置 - Google Patents

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Ken Kimura
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Kabushiki Kaisha Nihon Micronics
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    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A62—LIFE-SAVING; FIRE-FIGHTING
    • A62B—DEVICES, APPARATUS OR METHODS FOR LIFE-SAVING
    • A62B18/00—Breathing masks or helmets, e.g. affording protection against chemical agents or for use at high altitudes or incorporating a pump or compressor for reducing the inhalation effort
    • A62B18/006—Breathing masks or helmets, e.g. affording protection against chemical agents or for use at high altitudes or incorporating a pump or compressor for reducing the inhalation effort with pumps for forced ventilation
    • A—HUMAN NECESSITIES
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    • H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1053—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
    • H05K7/1061—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting
    • H05K7/1069—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting with spring contact pieces
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted

Definitions

  • the present invention relates to an electrical connection device used for a current test of a flat object to be inspected such as an integrated circuit, and more particularly, to an apparatus for electrically connecting an electrode of an object to be inspected and a conductive portion formed on a substrate. About.
  • Packaged semiconductor devices have multiple leads, or electrodes, protruding from the package body. This type of semiconductor device is subjected to a conduction test using an electrical connection device called a socket.
  • an electrical connection device called a socket.
  • One of such electrical connection devices is described in Patent Documents 1 and 2.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 11-3-1556
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-29097506
  • the electrical connection devices described in Patent Documents 1 and 2 include a plurality of probes each having a curved portion, a cover in which the probes are arranged in parallel, and a cover in a state where the probes extend in a direction in which the probes are arranged. And a bar-shaped needle holder that is arranged.
  • the force par is attached to a board such as a wiring board by a plurality of screw members.
  • the probe has the outer surface of the curved portion pressed against the conductive portion of the substrate by a needle holder with the cover attached to the substrate.
  • the test object is electrically connected to the electrode on the substrate by the probe when the electrode is pressed against the tip of the probe (needle tip).
  • the outer surface of the curved portion of the probe is merely pressed against the conductive portion of the substrate by the needle presser in a state where the force bar is attached to the substrate. Before mounting the probe on the board, the probe is likely to fall off the force bar, and the assembly work is cumbersome. Disclosure of the invention
  • An object of the present invention is to prevent the probe from dropping from the force par.
  • An electrical connection device is a plurality of plate-like probes each of which electrically connects an electrode of a device under test and a conductive portion formed on a substrate, and has a tip pressed by the electrode.
  • a plurality of probes having a curved outer surface on one end side of the probe and having a curved outer surface on one side in the width direction of the probe, and further having a first recess opened on the one side; and
  • the assembling device includes a cover having a second recess extending in the probe arrangement direction and opening to the side of the substrate; and a cover arranged in the second recess so as to extend in the probe arrangement direction.
  • a drop-off prevention member fitted in the first recess to prevent the probe from dropping off the cover, and a needle holder extending in an arrangement direction of the probe.
  • a needle holder disposed in the second recess so as to bring the outer surface of the probe into contact with the conductive portion.
  • the probe is assembled to the force par so as to be sandwiched between the falling-off preventing member and the needle holder. For this reason, the probe is prevented from falling off the cover, and the assembling work of the device becomes easy.
  • the falling-off preventing member may be received in the first recess in an interference fit state. By doing so, the probe is prevented from coming off the drop-off prevention member, and thus the probe is reliably prevented from dropping from the force bar.
  • the probe may further have a third recess opened on the other side in the width direction at the other end, and at least a part of the needle holder may be fitted in the third recess. . By doing so, the position of the probe with respect to the cover is stabilized.
  • the cover further includes a plurality of slots that are communicated with the second recess and open to the side of the substrate and to the opposite side thereof, the slots being spaced in the direction in which the probes are arranged.
  • the probe may extend in the slot and project the tip from the slot to the side opposite to the substrate.
  • the cover further opens on the side opposite to the substrate to receive the test object.
  • the probe may have a fourth recess communicating with the slot to be released, and the probe may have the tip protruding into the fourth recess.
  • the cover further has a fifth recess communicating with a longitudinal end of the second recess, and the fall-off preventing member is connected to the fifth recess at a longitudinal end of the second recess. It may be fitted. By doing so, the falling-off prevention member is prevented from falling off the cover, and the probe is reliably prevented from falling off from the cover.
  • the probe may be pressed against the conductive portion by the needle holder. By doing so, the probe and the conductive portion are electrically connected reliably.
  • the probe may have the other end in contact with the surface forming the second recess.
  • FIG. 1 is a plan view showing a first embodiment of the electrical connection device according to the present invention.
  • FIG. 2 is a bottom view of the electrical connection device shown in FIG.
  • FIG. 3 is a sectional view taken along line 3-3 in FIG.
  • FIG. 4 is a partially enlarged sectional view of FIG.
  • FIG. 5 is a partial cross-sectional perspective view showing the relationship between the probe and the force par.
  • FIG. 6 is a partial cross-sectional perspective view showing the relationship between the probe and the falling-off prevention member.
  • the electrical connection device 10 is used as an auxiliary device used for inspection, that is, a test of the plate-like inspected object 12.
  • the device under test 12 is a semiconductor device such as a package or a molded integrated circuit.
  • the present invention is applicable to a test of another flat device under test such as a liquid crystal display panel. It can also be applied to electrical connection devices.
  • the device under test 12 includes a main body 14 packaged or molded in a rectangular planar shape, and a plurality of leads or electrodes 1 protruding outward from portions corresponding to each side of the rectangle. And 6.
  • the electrodes 16 are divided into a plurality of electrode groups corresponding to the respective sides of the rectangular shape of the main body 14, and are arranged in parallel for each electrode group.
  • the connection device 10 includes a board 20 such as a wiring board, a plurality of plate-like contacts individually corresponding to the electrodes 16, that is, probes 22, and a plurality of long plural pieces for preventing the probes 22 from falling off.
  • the board 20 is a wiring board in which a wiring pattern is formed on one surface of a plate 30 made of an electrically insulating material by a printed wiring technique, and a plurality of strip-shaped wirings corresponding to the probes 22, that is, conductive portions. It has 32 on one side. Each conductive part 32 is a part of a wiring pattern. The conductive part 32 is divided into a plurality of conductive part groups respectively corresponding to the rectangular sides of the main body 14 of the device under test 12, and the conductive part group near the probe 22. Each is arranged in parallel.
  • Each probe 22 is made of a conductive metal material, and is arranged on the cover 28 so that the width direction is the vertical direction (the thickness direction of the force member 28). As shown in FIGS. 4 to 6, each probe 22 has, at one end (front end), a tip 34 pressed against the electrode 16 of the device under test 12 and a curved outer surface 36. It has a recess 38 on one side in the width direction, and further has a recess 38 on the side of the outer surface 36 and a recess 42 on the side of the inner surface 40 opposite to the outer surface 36. .
  • each probe 22 is curved in an arc shape so as to act as a needle tip, and has a smaller width than the rear end.
  • the outer surface 36 is formed at the center of the probe 22 from the rear end to the tip 34.
  • the HQ places 38 and 42 are formed at the rear end of the probe 22.
  • each probe 22 is a straight line extending in the width direction of the probe 22.
  • the upper and lower corners of the rear edge of each probe 22 are arc surfaces having a small radius of curvature.
  • the probe 22 is divided into a plurality of probe groups individually corresponding to the rectangular sides of the main body 14 of the device under test 12.
  • the probe 22 has four probes 16 because the subject 12 has multiple electrodes 16 on each of the four sides of the rectangle. Divided into groups. For the same reason, in the illustrated example, four fall-off preventing members 24 and four needle holders 26 are provided.
  • Each of the falling-off preventing members 24 and each of the needle holders 26 are made of an elastically deformable electrically insulating rubber material such as silicon rubber into a square shape and a round bar shape.
  • each of the falling-off preventing members 24 and each of the needle holders 26 may have another shape, and may be hollow in particular.
  • the cover 28 has an opening or recess 44 formed in the center to accommodate the device under test 12 and opening upward, a plurality of slots 46 extending outward from the recess 44, and a recess. And a plurality of recesses 48 formed outside the location 44 and continuously extending in the direction of arrangement of the slots 46.
  • a force par 28 can be formed from a non-conductive material such as a synthetic resin.
  • the recess 44 has a rectangular planar shape similar to the main body 14 of the test subject 12.
  • the upper part of the concave part 44 is made smaller toward the lower side by an inclined surface 50 facing from the outside to the center side.
  • the slots 46 are slots for accommodating at least the distal end portion and the central portion of the probe 22, and are provided in the same number as the probes 22.
  • the slots 46 are divided into a plurality of slot groups individually corresponding to the rectangular sides forming the recesses 44, and are spaced apart in the array direction of the probes 22 for each slot group. I have.
  • Each slot 46 is open to the side of the substrate 20, that is, downward, and also to the recesses 44 and 48.
  • the recesses 48 correspond individually to the rectangular sides forming the recesses 44 and extend along the corresponding sides. In the illustrated example, four recesses 48 are provided. Each of the recesses 48 is a groove for accommodating the stopper member 24 and the needle holder 26, and is open to the rear end of the corresponding slot 46 and open downward.
  • the cover 28 is placed on the board 20 such that the recess 48 is on the side of the board 20 and is detachably attached to the board 20 by a plurality of screw members 52 such as bolts. .
  • Each screw member 52 penetrates through the force par 28 in the thickness direction thereof, and is screwed into a screw hole formed in the substrate 20.
  • Each probe 22 has a rear end located in the recess 48, a center located in the slot, It is arranged on the force par 48 with its tip protruding into the recess 44, and its rear end edge is in contact with the outer surface 54 forming the recess 48.
  • Each of the falling-off preventing members 24 is fitted in the corresponding recess 38 of the probe 22 in an interference fit, and is disposed in the recess 48.
  • Each needle holder 26 is at least partially received in the corresponding recess 42 of the corresponding probe 22, and is disposed in the recess 48.
  • the width dimension of both ends 56 of each recess 48 is smaller than that at the center as shown in FIG. 2, so that the falling-off preventing member 24 is prevented from falling off the cover 28.
  • connection device 10 can be assembled as follows.
  • the falling-off preventing members 24 are fitted into the recesses 38 of the probes 22 of the corresponding probe group, and four probe assemblies are manufactured.
  • the stopper member 24 is fitted in the recess 38 in a tight fit, the probe 22 is reliably prevented from coming off the stopper member 24.
  • each needle holder 26 is arranged in the recess 48.
  • the probe 22 of each probe group is passed through the corresponding slot 46 from the side of the corresponding recess 48, and the rear end of each probe 22 contacts the surface 54 of the recess 48 and Both ends of the stopper member 24 are fitted to both ends 56 of the recess 48 with the probe tip 34 projecting into the recess 44.
  • the probe 22 is gripped by the drop-off prevention member 24 and the needle holder 26.
  • the force par 28 is placed on the substrate 20 with the probe 22, the drop-off prevention member 24 and the needle presser 26 arranged as described above, and then the screw member 52 is used. Mounted on the substrate 20.
  • the reverse operation is performed.
  • the probe 22 is pressed against the conductive portion 32 of the substrate 20 by the needle presser 26 on a part of the outer surface 36, and the probe 20 and the needle presser 26 are connected to each other. And is maintained in that state. Therefore, the probe 22 is securely prevented from dropping from the cover 28, and the probe 22 and the conductive portion 32 are electrically connected reliably.
  • the fall-off preventing device 24, the needle holder 26, the cover 28, and the screw member 52 act as an assembling device for assembling the probe 22 to the substrate 20.
  • the test object 12 is put into the recess 44 from above. At this time, if the position of the device under test 12 with respect to the connection device 10 is displaced, the device under test 12 comes into contact with the inclined surface 5.0, and is located at the center of the recess 44 by the inclined surface 50. You will be guided. As a result, the test object 12 is accommodated in the connection device 10 with the electrode 16 in contact with the tip of the probe 22.
  • each probe 22 is subjected to an overdrive action and changes from a state shown by a dotted line to a state shown by a solid line in FIG. Elastically deformed. At this time, a force that causes the probe 22 to retreat along the outer surface 36 acts on the probe 22.
  • each probe 22 Since the rear end of each probe 22 is in direct contact with the surface 54 of the recess 48, each probe 22 is in the state shown by the solid line in FIG.
  • the needle presser 26 is displaced and elastically deforms.
  • the tip 34 of each probe 22 is displaced in the longitudinal direction of the probe 22 with respect to the electrode 16 and the contact point of the probe 22 with the conductive portion 32 is Since it changes to the end 34 side, a rubbing action (or a scraping action) occurs that deletes a part of the oxide film present on the surface of the electrode 16.
  • each probe 22 is pressed by the conductive portion 32, so that the probe 12 is assembled in the electrical connection device or the test object is tested. ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ Each probe 22 may not be pressed against the conductive portion 32 by the needle holder 26 in a state where the body 12 is not pressed down by the pressing body.
  • the shape of the probe 22 is simple, and the probe 22 is not only inexpensive, but also has a small electrically effective length of the probe 22 and is suitable for a high frequency test. And the probe 22 is kept stable. Therefore, it is easy to manufacture the connecting device.
  • the test object 12 is naturally and correctly placed on the connection device 10, the electrode 16 of the test object 12 surely comes into contact with the tip 34 of the probe 22, and the probe 22 also has a needle. By elastically deforming the presser 26, a rubbing action is effectively generated on the electrode 16. Further, the structure of the needle holder 26 is simple, and an electrical short circuit between the props 22 is reliably prevented.
  • the present invention is not limited to the above embodiments, and can be variously modified without departing from the gist thereof.

Abstract

電気的接続装置は、それぞれが被検査体の電極と基板に形成された導電性部とを電気的に接続する板状の複数のプローブであって前記電極に押圧される先端を当該プローブの一端側に有すると共に湾曲された外面を当該プローブの幅方向の一方に有し、さらに前記一方の側に開放する第１の凹所を有する複数のプローブと、該プローブが厚さ方向に間隔をおきかつ前記先端が前記基板と反対側に突出した状態に、前記プローブを前記基板に組み付ける組み付け装置とを含む。

Description

電気的接続装置 技術分野
本発明は、 集積回路のような平板状被検査体の通電試験に用いる電気的接続装 置に関し、 特に被検査体の電極と基板に形成された導電性部とを電気的に接続す る装置に関する。
明 田
背景技術
パッケージされた半導体デバイスは、 複数のリード、 すなわち、 電極をパッケ ージ本体から突出させている。 この種の半導体デバイスは、 ソケットと称されて いる電気的接続装置を用いて、 通電試験をされる。 この種の電気的接続装置の 1 つとして、 特許文献 1及び 2に記載されたものがある。
【特許文献 1】 特開平 1 1—3 1 5 6 6号公報
【特許文献 1】 特開 2 0 0 3— 2 9 7 5 0 6号公報
特許文献 1及び 2に記載された電気的接続装置は、 湾曲部を有する複数のプロ ーブと、 該プローブが並列的に配置されたカバーと、 プローブの配列方向に伸ぴ る状態にカバーに配置された棒状の針押えとを含む。
力パーは、 配線基板のような基板に複数のねじ部材により取り付けられている 。 プローブは、 カバーが基板に取り付けられた状態において、 湾曲部の外面を針 押えにより基板の導電性部に押圧されている。
被検査体は、 その電極がプローブの先端 （針先） に押圧されることにより、 プ ロープにより基板の電極に電気的に接続される。
しかし、 上記のような電気的接続装置では、 力パーを基板に取り付けた状態に おいて、 プローブの湾曲部の外面を針押えにより基板の導電性部に押圧している にすぎないから、 カバーを基板に取り付ける前の状態においては、 プローブが力 バーから脱落しやすく、 したがって組み立て作業が面倒である。 発明の開示
本発明の目的は、 力パーからのプローブの脱落を防止することにある。
本発明に係る電気的接続装置は、 それぞれが被検査体の電極と基板に形成され た導電性部とを電気的に接続する板状の複数のプローブであって前記電極に押圧 される先端を当該プローブの一端側に有すると共に湾曲された外面を当該プロ一 ブの幅方向の一方に有し、 さらに前記一方の側に開放する第 1の凹所を有する複 数のプローブと、 該プローブが厚さ方向に間隔をおきかつ前記先端が前記基板と 反対側に突出した状態に、 前記プローブを前記基板に組み付ける組み付け装置と を含む。
前記組み付け装置は、 前記プローブの配列方向へ伸びて前記基板の側及に開放 する第 2の凹所を有するカバーと、 前記プローブの配列方向へ伸びる状態に前記 第 2の凹所に配置された脱落防止部材であって前記プローブが前記カバーから脱 落することを防止すべく前記第 1の凹所に嵌合された脱落防止部材と、 前記プロ ーブの配列方向へ伸びる針押えであって前記プローブの前記外面を前記導電性部 に接触させるように前記第 2の凹所に配置された針押えとを備える。
本発明の電気的接続装置においては、 プローブは、 脱落防止部材と針押えとに 挟まれた状態に力パーに組み付けられている。 このため、 プローブは、 カバーか ら脱落することを防止され、 装置の組立作業が容易になる。
前記脱落防止部材は、 前記第 1の凹所に締まり嵌めの状態に受け入れられてい てもよい。 そのようにすれば、 プローブが脱落防止部材から外れることを防止さ れるから、 力パーからのプローブの脱落が確実に防止される。
前記プローブは、 さらに、 幅方向における他方側に開放する第 3の凹所を他端 側に有し、 前記針押えの少なくとも一部は前記第 3の凹所に嵌合されていてもよ い。 そのようにすれば、 カバーに対するプローブの位置が安定する。
前記カバーは、 さらに、 前記第 2の凹所に連通されていると共に前記基板の側 及びそれと反対側に開放する複数のスロットであって前記プローブの配列方向に 間隔をおいた複数のスロットを有し、 前記プローブは、 前記スロット内を伸びて 前記先端を前記スロットから前記基板と反対側に突出させていてもよい。
前記カバーは、 さらに、 前記被検查体を受け入れるべく前記基板と反対側に開 放しかる前記スロットに連通する第 4の凹所を有し、 前記プローブは、 前記先端 を前記第 4の凹所に突出させていてもよい。
前記カバーは、 さらに、 前記第 2の凹所の長手方向の端部に連通する第 5の凹 所を有し、 前記脱落防止部材はこれの長手方向の端部において前記第 5の凹所に 嵌合されていてもよい。 そのようにすれば、 カバーからの脱落防止部材の脱落が 防止されるから、 カバーからのプロープの脱落が確実に防止される。
前記プローブは、 前記針押えにより前記導電性部に押圧されていてもよい。 そ のようにすれば、 プローブと導電性部とが電気的に確実に接続される。
前記プローブは、 前記第 2の凹所を形成する面に他端側を当接させていてもよ い。 そのようにすれば、 被検查体の電極がプローブの先端に押圧されたとき、 基 板の導電性部へのプローブの接触部がプローブの湾曲された外面に沿つて変位す るから、 プローブと導電性部とが電気的に確実に接続される。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明に係る電気的接続装置の第 1の実施例を示す平面図である。 図 2は、 図 1に示す電気的接続装置の底面図である。
図 3は、 図 1における 3 _ 3線に沿って得た断面図である。
図 4は、 図 3の一部拡大断面図である。
図 5は、 プローブと力パーとの関係を示す部分断面斜視図である。
図 6は、 プローブと脱落防止部材との関係を示す部分断面斜視図である。 発明を実施するための最良の形態
図 1〜図 6を参照するに、 電気的接続装置 1 0は、 平板状被検査体 1 2の検査 すなわち試験に用いる補助装置として用いられる。 被検査体 1 2は、 図示の例で は、 パッケージ又はモールドをされた集積回路のような半導体デバイスであるが 、 本発明は液晶表示パネルのような他の平板状被検査体の試験用の電気的接続装 置にも適用することができる。
被検査体 1 2は、 矩形の平面形状にパッケージ又はモールドをされた本体 1 4 と、 矩形の各辺に対応する部位から外方へ突出する複数のリードすなわち電極 1 6とを有する。 電極 1 6は、 本体 1 4の矩形の辺毎に対応された複数の電極群に 分けられており、 また電極群毎に並列的に配置されている。
接続装置 1 0は、 配線基板のような基板 2 0と、 電極 1 6に個々に対応された 板状の複数の接触子すなわちプローブ 2 2と、 プローブ 2 2の脱落を防止する長 尺の複数の脱落防止部材 2 4と、 プローブ 2 2を基板 1 2に押圧する長尺の複数 の針押え 2 6と、 プローブ 2 2、 脱落防止部材 2 4及び針押え 2 6が配置された 板状のカバー 2 8とを含む。
基板 2 0は、 配線パターンを電気絶縁材料製の板材 3 0の一方の面に印刷配線 技術により形成した配線基板であり、 それぞれがプローブ 2 2に対応された帯状 の複数の配線すなわち導電性部 3 2を一方の面に有する。 各導電性部 3 2は、 配 線パターンの一部である。 導電性部 3 2は、 被検査体 1 2の本体 1 4の矩形の辺 に個々に対応された複数の導電性部群に分けられており、 またプローブ 2 2の近 傍において導電性部群毎に並列的に配置されている。
各プローブ 2 2は、 導電性金属材料により製作されており、 また幅方向が上下 方向 （力パー 2 8の厚さ方向） となるようにカバー 2 8に配置されている。 各プローブ 2 2は、 図 4から図 6に示すように、 被検査体 1 2の電極 1 6に押 圧される先端 3 4を一端 （前端） 側に有すると共に、 湾曲された外面 3 6を幅方 向の一方に有しており、 さらに外面 3 6の側に開放する凹所 3 8並びに外面 3 6 と反対側の内面 4 0の側に開放する凹所 4 2とを有している。
各プローブ 2 2の先端 3 4は、 針先として作用するように、 弧状に湾曲されて いると共に、 後端部より小さい幅寸法とされている。 外面 3 6は、 プローブ 2 2 の後端部から先端 3 4にわたる中央部に形成されている。 HQ所 3 8及び 4 2は、 プローブ 2 2の後端部に形成されている。
各プローブ 2 2の後端縁は、 プローブ 2 2の幅方向へ伸びる直線状とされてい る。 しかし、 各プローブ 2 2の後端縁の上下の隅角部は、 曲率半径の小さい弧面 とされている。
プローブ 2 2は、 被検査体 1 2の本体 1 4の矩形の辺に個々に対応された複数 のプローブ群に分けられている。 図示の例では、 被検查体 1 2が矩形の 4つの辺 のそれぞれに複数の電極 1 6を有することから、 プロープ 2 2は 4つのプローブ 群に分けられている。 同じ理由から、 図示の例では 4つの脱落防止部材 2 4及び 4つの針押え 2 6が設けられている。
各脱落防止部材 2 4及ぴ各針押え 2 6は、 それぞれ、 シリコンゴムのように弾 性変形可能の電気絶縁性ゴム材により角材状及び丸棒状に製作されている。 しか し、 各脱落防止部材 2 4及び各針押え 2 6は、 他の形状を有していてもよく、 特 に中空であってもよい。
カバー 2 8は、 被検査体 1 2を収容するように中央に形成されて上方に開放す る開口すなわち凹所 4 4と、 凹所 4 4から外方へ伸びる複数のスロット 4 6と、 凹所 4 4の外側に形成されてスロット 4 6の配列方向へ連続的に伸びる複数の凹 所 4 8とを有する。 このような力パー 2 8は、 合成樹脂のような非導電性材料か ら形成することができる。
凹所 4 4は、 被検查体 1 2の本体 1 4と相似の矩形の平面形状を有している。 凹所 4 4の上部は、 外側から中心側へ向く傾斜面 5 0により下方ほど小さくされ ている。
スロット 4 6は、 少なくともプローブ 2 2の先端部及び中央部を収容するスロ ットであり、 プローブ 2 2と同数設けられている。
スロット 4 6は、 凹所 4 4を形成する矩形の辺に個々に対応された複数のス口 ット群に分けられており、 またスロット群毎にプローブ 2 2の配列方向に間隔を おいている。 各スロット 4 6は、 基板 2 0の側すなわち下方に開放していると共 に、 凹所 4 4及び凹所 4 8に開放している。
凹所 4 8は、 凹所 4 4を形成する矩形の辺に個々に対応されており、 また対応 する辺に沿って伸びている。 図示の例では、 4つの凹所 4 8が設けられている。 各凹所 4 8は、 脱落防止部材 2 4及び針押え 2 6を収容する溝であり、 対応する スロット 4 6の後端部に開放していると共に、 下方に開放している。
カバー 2 8は、 凹所 4 8が基板 2 0の側となる状態に基板 2 0に重ねちれて、 ボルトのような複数のねじ部材 5 2により基板 2 0に取り外し可能に装着されて いる。 各ねじ部材 5 2は、 力パー 2 8をその厚さ方向へ貫通しており、 また基板 2 0に形成されたねじ穴に螺合されている。
各プローブ 2 2は、 後端部が凹所 4 8に位置し、 中央部がスロットに位置し、 先端部が凹所 4 4に突出した状態に、 力パー 4 8に配置されており、 また後端縁 を凹所 4 8を形成する外側の面 5 4に当接させている。
各脱落防止部材 2 4は、 対応するプローブ 2 2の凹所 3 8に締まり嵌めの状態 に嵌合されて、 凹所 4 8に配置されている。 各針押え 2 6は、 少なくとも一部を 対応するプローブ 2 2の凹所 4 2に受け入れられて、 凹所 4 8に配置されている 。 各凹所 4 8の両端 5 6の幅寸法は図 2に示すように中央部のそれより小さくさ れており、 これにより脱落防止部材 2 4はカバー 2 8からの脱落を防止されてい る。
接続装置 1 0は、 以下のように組み立てることができる。
先ず、 脱落防止部材 2 4が対応するプローブ群のプローブ 2 2の凹所 3 8に嵌 合されて、 4つのプローブ組立体が製作される。 特に、 脱落防止部材 2 4が凹所 3 8に締まり嵌めの状態に嵌合されていると、 プローブ 2 2は脱落防止部材 2 4 から外れることを確実に防止される
上記と並行して、 各針押え 2 6を凹所 4 8に配置される。
次いで、 各プローブ群のプローブ 2 2が対応する凹所 4 8の側から対応するス ロット 4 6に通され、 各プローブ 2 2の後端が凹所 4 8の面 5 4に当接しかつ各 プローブの先端 3 4が凹所 4 4に突出した状態に、 脱落防止部材 2 4の両端部が 凹所 4 8の両端 5 6に嵌合される。 これにより、 プローブ 2 2は、 脱落防止部材 2 4と針押え 2 6とに把持される。
次いで、 力パー 2 8が、 プローブ 2 2、 脱落防止部材 2 4及ぴ針押え 2 6を上 記のように配置した状態で、 基板 2 0に重ねられ、 その状態でねじ部材 5 2によ り基板 2 0に装着される。
組み立てられた接続装置 1 0を分解するときは、 上記と逆の作業が行われる。 上記のように組み立てられた状態において、 プローブ 2 2は、 外面 3 6の一部 において針押え 2 6により基板 2 0の導電性部 3 2に押圧され、 基板 2 0と針押 え 2 6とにより挟持されて、 その状態に維持される。 このため、 カバー 2 8から のプローブ 2 2の脱落が確実に防止され、 プローブ 2 2と導線性部 3 2 とが電気 的に確実に接続される。
上記のように、 針押えの一部がプローブ 2 2の凹所 4 2に嵌合されていると、 カバーに対するプローブの位置が安定する。 また、 脱落防止部材 2 4の両端部が 凹所 4 8の端部 5 6に嵌合されていると、 力パー 2 8からの脱落防止部材 2 4の 脱落が防止されるから、 カバー 2 8からのプローブ 2 2の脱落がより確実に防止 しされる。
図示の例では、 脱落防止装置 2 4と針押え 2 6とカバー 2 8とねじ部材 5 2と は、 プローブ 2 2を基板 2 0に組み付ける組み付け装置として作用する。
検査時、 被検査体 1 2は、 上方から凹所 4 4に入れられる。 このとき、 接続装 置 1 0に対する被検査体 1 2の位置がずれていると、 被検査体 1 2は、 傾斜面 5 . 0に当接し、 傾斜面 5 0により凹所 4 4の中央に案内される。 これにより、 被検 查体 1 2は、 電極 1 6がプローブ 2 2の先端に当接した状態に、 接続装置 1 0に 収容される。
接続装置 1 0に配置された被検查体 1 2が図示しない押圧体により押し下げら れると、 各プローブ 2 2は、 オーバードライブ作用を受けて図 4に点線で示す状 態から実線で示す状態に弾性変形される。 このとき、 プローブ 2 2をその外面 3 6に沿って後退させる力がプローブ 2 2に作用する。
し力 し、 各プローブ 2 2の後端が凹所 4 8の面 5 4に直接的に接触しているか ら、 各プローブ 2 2は、 後端下部を支点に図 4に実線で示す状態に変位して、 針 押え 2 6を弾性変形させる。
これにより、 各プローブ 2 2の先端 3 4は、 先端 3 4が電極 1 6に対しプロ一 ブ 2 2の長手方向に変位しかつ導電性部 3 2へのプローブ 2 2の接触箇所は、 先 端 3 4の側に変化するから、 電極 1 6の表面に存在する酸化膜の一部を削除する 擦り作用 （又は搔き取り作用） を生じる。
上記のように、 被検查体 1 2が上記押圧体により押し下げられると、 各プロ一 ブ 2 2が導電性部 3 2に押圧されるから、 電気的接続装置に組み立てられた状態 又は被検查体 1 2が押圧体により押し下げられない状態において、 各プローブ 2 2が針押え 2 6により導電性部 3 2に押圧されていないようにしてもよレ、。
接続装置 1 0によれば、 上記したように、 プローブ 2 2の形状が単純であり、 プローブ 2 2が廉価になるのみならず、 プローブ 2 2の電気的有効長さが小さく 、 高周波試験に適しており、 しかもプローブ 2 2が安定に維持されるにもかかわ らず、 接続装置の製作が容易である。 また、 被検查体 1 2が接続装置 1 0に自然 に正しく配置され、 被検查体 1 2の電極 1 6がプローブ 2 2の先端 3 4に確実に 接触し、 しかもプローブ 2 2が針押え 2 6を弾性変形させることにより、 電極 1 6に擦り作用が効果的に生じる。 さらに、 針押え 2 6の構造が単純であり、 プロ ープ 2 2同士の電気的短絡が確実に防止される。 産業上の利用の可能性
本発明は、 上記実施例に限定されず、 その趣旨を逸脱しない限り、 種々変更す ることができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 被検査体の電極と基板に形成された導電性部とを電気的に接続する装置 であって、
それぞれが前記電極と前記導電性部とを電気的に接続する板状の複数のプロ一 ブであって前記電極に押圧される先端を当該プローブの一端側に有すると共に湾 曲された外面を当該プローブの幅方向の一方に有し、 さらに前記一方の側に開放 する第 1の凹所を有する複数のプローブと、 該プローブが厚さ方向に間隔をおき 力 前記先端が前記基板と反対側に突出した状態に、 前記プローブを前記基板に 組み付ける組み付け装置とを含み、
前記組み付け装置は、 前記プローブの配列方向へ伸びて前記基板の側に開放す る第 2の凹所を有する力パーと、 前記プローブの配列方向へ^ ί申びる状態に前記第 2の凹所に配置された脱落防止部材であって前記プローブが前記力パーから脱落 することを防止すべく前記第 1の凹所に嵌合された脱落防止部材と、 前記プロ一 プの配列方向へ伸びる針押えであつて前記プ口ーブの前記外面を前記導電性部に 接触させるように前記第 2の凹所に配置された針押えとを備える、 電気的接続装 置。
2 . 前記脱落防止部材は、 前記第 1の凹所に締まり嵌めの状態に受け入れら れている、 請求項 1に記載の電気的接続装置。
3 . 前記プローブは、 さらに、 幅方向における他方側に開放する第 3の凹所 を他端側に有し、 前記針押えの少なくとも一部は前記第 3の凹所に嵌合されてい る、 請求項 1又は 2に記載の電気的接続装置。
4 . 前記カバーは、 さらに、 前記第 2の凹所に連通されていると共に前記基 板の側及びそれと反対側に開放する複数のス口ットであって前記プローブの配列 方向に間隔をおいた複数のスロットを有し、 前記プローブは、 前記スロット内を 伸びて前記先端を前記スロットから前記基板と反対側に突出させている、 請求項 1力 ら 3のいずれか 1項に記載の電気的接続装置。
5 . 前記カバーは、 さらに、 前記被検査体を受け入れるべく前記基板と反対 側に開放しかつ前記スロットに連通する第 4の凹所を有し、 前記プローブは、 前 記先端を前記第 4の凹所に突出させている、 請求項 4に記載の電気的接続装置。
6 . 前記カバーは、 さらに、 前記第 2の凹所の長手方向の端部に連通する第 5の凹所を有し、 前記脱落防止部材はこれの長手方向の端部において前記第 5の 凹所に嵌合されている、 請求項 1カゝら 5のいずれか 1項に記載の電気的接続装置
7 . 前記プローブは、 前記針押えにより前記導電性部に押圧されている、 請 求項 1から 6のいずれか 1項に記載の電気的接続装置。
8 . 前記プローブは、 前記第 2の凹所を形成する面に他端側を当接させてい る、 請求項 1力 ら 7のいずれか 1項に記載の電気的接続装置。
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