WO1998055927A1 - Boundary scanning element and communication equipment using the same - Google Patents

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WO1998055927A1
WO1998055927A1 PCT/JP1998/002432 JP9802432W WO9855927A1 WO 1998055927 A1 WO1998055927 A1 WO 1998055927A1 JP 9802432 W JP9802432 W JP 9802432W WO 9855927 A1 WO9855927 A1 WO 9855927A1
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PCT/JP1998/002432
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Mitsugu Nagoya
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Koken Co., Ltd.
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Definitions

  • the present invention relates to a boundary scan element used in a boundary scan test method and a communication device using the same as a communication element by applying the boundary scan element, and more particularly, to a boundary scan element capable of speeding up processing and a communication device using the same.
  • a boundary scan element capable of speeding up processing and a communication device using the same.
  • This boundary scan test method can be performed on an integrated circuit (IC chip) incorporating a boundary scan element.
  • the boundary scan element is an input / output terminal of the internal logic circuit 211 for realizing the original function of the integrated circuit 210 and an input terminal 21 of the integrated circuit 210.
  • a plurality of boundary cells 214 provided individually between the output terminals 2 and 3 and a TAP controller for controlling input and output of data to and from the boundary cells 2 14
  • TAP circuit (TAP circuit) 219, TDI terminal 220 for receiving test data, TDO terminal 221 for transmitting test data, and toe terminal 122 to which a clock signal is input, And a TMS terminal 223 for receiving a mode signal for switching the operation mode of the TAP controller 219.
  • a bypass register 215, an ID CODE register 216 It is provided with an instruction register 217 or a TRS terminal 224 for receiving a reset signal.
  • the bypass register 215 is for transferring communication data without passing through the boundary cell, and the ID CODE register 216 is for outputting the individually attached IDCODE to output the communication data.
  • the instruction register 217 decodes specific data in the communication data and performs an operation mode transition, etc., separately from the TMS signal.
  • the option register 217 is called a boundary scan register (118).
  • TDI Test Data In
  • TD ⁇ Test Data Out
  • TCK Test Clock
  • TMS Test Mode Select
  • TRST Test Reset
  • the integrated circuit 210 incorporating such a boundary scan element can test its operation state and the connection relationship between the integrated circuit 210 and an external device by the following procedure.
  • serial data (test data) is input to the TDI terminal 220 of the integrated circuit 210 and shifted.
  • the test data is set in each boundary cell 2 14 corresponding to each input terminal 2 12.
  • the data set in each boundary cell 2 14 corresponding to each output terminal 2 13 is shifted and output from the TDO terminal 2 21.
  • whether the internal logic 211 of the integrated circuit 210 is good or not is determined. Test whether or not.
  • the boundary scan test method can be performed on a plurality of integrated circuits as long as the boundary scan element is incorporated.
  • each of the boundary scan elements incorporated in the plurality of integrated circuits 210 is connected in series. Specifically, the TDO terminal 221 of the first integrated circuit 210 (the left side of the figure) and the D0 terminal 221 of the second integrated circuit 210 (the right side of the figure) And the output terminal 229 of the boundary scan controller board 228 provided in the host computer device 227, etc., to the TDI terminal 220 of the first integrated circuit 210. Then, the input terminal 230 of the boundary scan controller board 228 is connected to the TDO terminal 221 of the second integrated circuit 210.
  • the test procedure is as follows.
  • test data serial data
  • boundary scan controller board 228 To test the disconnection or short circuit of the print pattern, create test data (serial data) using the test data creation tool 231, etc., and transfer it to the boundary scan controller board 228. Output from the output terminal 229, shift it while inputting it to the TDI terminal 220 of the first integrated circuit 210, and correspond to each output terminal 213 of this integrated circuit 210. Test data is set in each boundary cell 2 1 4 to be used. In this state, as shown in FIG. 5, the output terminals 2 13 provided in the first integrated circuit 210 output the data stored in each of the boundary cells 2 14. And input to each input terminal 2 12 of the second integrated circuit 210 via each print pattern 2 33 constituting the system bus and the like. Each boundary cell 2 1 4 corresponding to 2 is taken in.
  • each boundary cell 214 of each of these integrated circuits 210 is shifted, and the data is taken in at the input terminal 230 of the boundary scan controller board 228.
  • a test result analysis tool 232 to analyze this, there is no disconnection or short circuit in the test range 235 such as the printed pattern 233 connecting the integrated circuits 210 Can be tested.
  • test data is output from the output terminal 229 of the boundary scan controller board 228, and the first integrated circuit 210 is tested. This is shifted while being input to the TDI terminal 220 of 10 and corresponding to each input terminal 212 of this integrated circuit 210 as shown in FIG. Set in each boundary cell 2 1 4.
  • the integrated circuit 210 is operated, and the data obtained by this operation is taken into each of the boundary cells 214 corresponding to each of the output terminals 213.
  • the data stored in 4 is shifted and output from the TDO pin 2 21 of the first integrated circuit 210.
  • the data output from the TDO pin 221 is set to the second state by setting the second integrated circuit 210 to the bypass state as shown in FIG. 6 by the boundary scan controller board 228.
  • the input terminal 230 of the boundary scan controller port 228 bypasses the integrated circuit 210 of this embodiment. Then, by analyzing the captured data using a test analysis tool 232 or the like, it is possible to test whether the first integrated circuit 210 operates correctly.
  • the first integrated circuit 210 is similarly bypassed by the boundary scan controller board 228 as shown in FIG.
  • the test data is output from the output terminal 229 of the boundary scan control laboratory 228, and the first integrated circuit 210 is bypassed.
  • the test data is shifted while being input to the TDI terminal 220 of the second integrated circuit 210, and as shown in FIG. 9, each of the input terminals 211 corresponding to the input terminal 211 of this integrated circuit 210 is shifted.
  • boundary cell 2 1 4 the integrated circuit 210 is operated, and the data obtained thereby is taken into each of the boundary cells 2 14 corresponding to each of the output terminals 2 13.
  • each boundary cell 2 14 is shifted and output from the TDO terminal 2 21, which is further input to the input terminal 2 30 of the boundary scan controller board 2 28. Yes. Then, by analyzing the fetched data using a test result analysis tool 232 or the like, it is possible to test whether the second integrated circuit 210 operates properly.
  • the substrate 226 uses the integrated circuit 210 in which the boundary scan element is incorporated, the quality of each integrated circuit 210 itself can be checked by executing the boundary scan test method. The connection between the circuits 210 can be tested.
  • the present inventor has proposed that when an integrated circuit incorporating such a boundary scan element is used to construct a sensor module substrate or the like, it is mounted on the substrate 226 without using a communication integrated circuit or the like. It has been found that serial data can be input and output at a speed of about 20 Mbps for each integrated circuit.
  • FIG. 8 is a block diagram showing an example of a communication device to which a boundary scan element is applied.
  • the communication device 240 shown in this figure includes a communication controller device 241 for sending and collecting communication data, a plurality of sensor devices 242 a to 242 c for monitoring a monitoring target, and the like.
  • a communication line 244 for connecting the elements 243 a to 243 c and the communication controller 241 is provided.
  • Each of the boundary scan elements 243 a to 243 c is connected in series to the communication controller 241.
  • the output terminal 24 la of the communication controller device 241 is connected to the TDI terminal of the boundary scan element 243 a, and the TDO terminal of the boundary scan element 243 a is connected to the TDI terminal of the next boundary scan element 243 b.
  • the TDO terminal of the boundary scan element 243c is connected to the input terminal 241b of the communication controller device 241.
  • the operation of the communication device 240 is as follows.
  • Each of the boundary scan elements 243a to 243c functions in synchronization with the clock signal transmitted from the TCK terminal 241d of the communication controller device 241, and the TM transmitted from the TMS terminal 241c of the communication controller device 241.
  • the operation mode of each TAP controller is switched by the S signal.
  • control data is output from the output terminal 244 la of the communication controller device 241.
  • (Serial data) is output and supplied to each of the boundary scan elements 243a to 243c, and set to the boundary cell corresponding to the output terminal.
  • the set control data is output from the output terminal and supplied to each of the sensor devices 242 a to 242 c corresponding to each of the boundary scan elements 243 a to 243 c. Drive.
  • each sensor device 242 a to 242 c when collecting detection data and the like from each sensor device 242 a to 242 c based on an instruction from the host computer device 245, each sensor device 242 a to
  • the data transfer rate can be as high as 20 Mbps, enabling higher-speed transfer of communication data than conventional communication devices.
  • An object of the present invention is to provide a boundary scan element capable of speeding up the processing as described above, and a communication device using the same.
  • a plurality of input terminal side boundary cells individually allocated to each input terminal and connected in series, and a plurality of outputs individually allocated to each output terminal and connected in series A terminal-side boundary cell, a TAP circuit for controlling input / output of data to / from the input terminal-side and output terminal-side boundary cells, a TDI terminal for inputting serial data to be given to the boundary cell, A TDO terminal for outputting data from the boundary cell as serial data; a TCK terminal for inputting a clock signal; and a TMS terminal for inputting a mode signal for switching an operation mode of the TAP circuit.
  • a boundary scan element comprising: two sets of a combination of the input terminal-side boundary cell, the output terminal-side boundary cell, the TDI terminal, the TD ⁇ terminal, and the TAP circuit.
  • a scanning element is provided (Claim 1).
  • the boundary scan element of the present invention includes two sets of the input terminal side boundary cell, the output terminal side boundary cell, the TDI terminal, the TDO terminal, and the TAP circuit. Input and output can be done overnight. Therefore, even when the boundary scan test method is performed on a circuit in which two integrated circuits are connected in parallel to one integrated circuit, individual tests are performed on the two integrated circuits in parallel. It is possible to execute a series of processing smoothly.
  • boundary scan element of the present invention all the boundary cells are not connected in series as in the conventional boundary scan element, and the input terminal-side boundary cell and the output terminal-side boundary cell are each connected to the TDI terminal. It is connected in parallel with the TDO terminal.
  • a plurality of input terminal-side boundary cells individually assigned to each input terminal and connected in series, and a plurality of boundary cells individually assigned to each output terminal and connected in series The output terminal side boundary cell and the input terminal side and A TAP circuit for controlling the input and output of data to the boundary cell on the output terminal side, a TDI terminal for inputting serial data to be applied to the boundary cell, and a serial demultiplexer for transmitting data from the boundary cell.
  • a terminal-side boundary cell and the output terminal-side boundary cell are respectively connected to or incorporated with a plurality of boundary scan elements connected in parallel between the TDI terminal and the TDO terminal, and each of the boundary scan elements.
  • a plurality of terminals having an integrated circuit and communication data for individually controlling the terminals via the boundary scan element.
  • a communication controller for communicating, wherein the boundary scan element comprises: the input terminal-side boundary cell, the output terminal-side boundary cell, the TDI terminal, the TD ⁇ terminal, and the TAP circuit.
  • a communication data output terminal for sending communication data to the boundary scan element and a communication data input terminal for receiving communication data from the boundary scan element.
  • two of the boundary scan elements are provided, and one of the terminal sections is provided with any one of the boundary scan elements, and the other terminal section is provided with the other combination of the boundary scan elements. , Each of which is connected in series and in such a way that the transfer direction of the communication data is reversed.
  • Apparatus is provided ( ⁇ Motomeko 2).
  • the present invention is a communication device using the above-described boundary scan element of the present invention, and is particularly a communication device capable of coping with disconnection of a communication line for connecting each component.
  • each of the terminal devices is connected to the boundary scan element provided with two of the combinations capable of independently performing the communication processing, and the transfer direction of the communication data is reversed in each of the combinations.
  • the communication process is performed using only one of the above-mentioned combinations, and when a part of the communication line is disconnected, the communication process is performed using the other of the above-mentioned combinations, so that all of the terminals Input and output of communication data to the device is enabled.
  • the terminal device various sensor devices, for example, There are surveillance camera devices and the like.
  • the output terminal is connected to the input terminal of the terminal, and the input terminal is connected to the output terminal of the terminal, whereby the boundary cell is connected. Is output to the terminal, and conversely, the data is input to the boundary cell.
  • the communication data includes, in addition to control data transmitted to the terminal to control the terminal, data detected by the terminal transmitted from the terminal, and normal operation of the terminal. And whether the vehicle is being driven or not.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the communication device of the present invention.
  • FIG. 2 is a block diagram of the boundary scan elements 100 a to d of the communication device 1.
  • FIG. 3 is a block diagram of a conventional boundary scan element.
  • FIG. 4 is a block diagram showing an example of a boundary scan test using the boundary scan element shown in FIG.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of a boundary scan test using the boundary scan element shown in FIG.
  • FIG. 6 is a schematic view showing an example of a boundary scan test using the boundary scan element shown in FIG.
  • FIG. 7 is a schematic diagram showing an example of a boundary scan test using the boundary scan element shown in FIG.
  • FIG. 8 is a block diagram showing an example of a conventional communication device to which a boundary scan element is applied.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a communication device 1 of the present invention.
  • the communication device 1 includes a plurality of boundary scan elements 100 a to 100 d of the present invention, and a sensor device (terminal device) 4 connected to each of the boundary scan elements 100 a to 100 d. a through 4d and the boundary scan element 100a through 100d And a communication controller device 57 for controlling the sensor devices 4a to 4d. Further, a host computer device 6 is connected to the communication controller device 57. As shown in FIG. 2, each of the boundary scan elements 100a to 100d is individually assigned to each of the input terminals 105, and is connected to a plurality of input cells connected in series (input terminal side boundary cells).
  • a plurality of output cells (output terminal side boundary cells) 110 and 119 which are individually assigned to each output terminal 104 and connected in series, and input cells 111 and 120 and output TAP controllers (TAP circuits) 116 and 125 for controlling the input and output of communication data to and from cells 110 and 119, and input cells 111 and 120, and TAP controllers for supplying output cells 119 and 110 TDI terminals 106 and 117 for inputting serial data and TDO terminals for outputting communication data of input cells 111, 120 and output cells 110, 119 as serial data 107 and 118, and the clock signal is input And a TMS terminal 108 to which a mode signal for switching the operation mode of the TAP controllers 116 and 125 is input, and a bypass resistor, if necessary. It is provided with a boundary scan register 115 or 124 consisting of an ID 112 or 121, an ID code register 113 or 122, and an instruction register 114 or 123.
  • the input terminals 105 and the output terminals 104 of the boundary scan elements 100 a to 100 d are connected to the output terminals and the input terminals (not shown) of the corresponding sensor devices 4 a to 4 d, respectively.
  • the communication data set in 110 or 119 is sent to the sensor devices 4a to 4d, and the communication data from the sensor devices 4a to 4d is sent to the input cells 111 or 120 and set. Is done.
  • each of the boundary scan elements 100a to 100d includes two combinations of a boundary cell, a TDI terminal, a TD ⁇ terminal, and a TAP controller.
  • the combination includes the clockwise input cell 111, clockwise output cell 110, clockwise TDI terminal 106, clockwise TDO terminal 107, and clockwise TAP controller 116. (Hereinafter referred to as clockwise combination), counterclockwise input cell 120, counterclockwise output cell 1 19 and counterclockwise TD I terminal 1 17 And the combination of the counterclockwise TD ⁇ terminal 118 and the counterclockwise TAP controller 125 (hereinafter referred to as the counterclockwise combination).
  • Each input cell 111 or 120 and each output cell 110 or 119 are connected in parallel between the TDI terminal 106 or 117 and the TD ⁇ terminal 107 or 118 in each combination. This enables direct transfer of communication data from the TDI terminal 106 or 117 to each input cell 111, 120 or each output cell 110, 119.
  • the communication data of the input cell 111 or 120 and each output cell 110 or 119 can be directly output from the TDO terminal 107 or 118. Therefore, the boundary scan elements 100a to 100d can be arranged such that each of the input cells 111 and 120 or the output cells 110 and 111 is different from a conventional boundary scan element in which all the boundary cells are connected in series. The transfer rate of data related to 9 can be improved.
  • each input cell 111 and 120 or each output cell 110 and 119 is connected in series to the input terminal 105 or the output terminal 104, respectively. However, they may be connected in parallel.
  • the TAP controllers 116 and 125 are connected in parallel to the TMS terminal 108 and the TCK terminal 109, respectively, and function in synchronization.
  • the clockwise TAP controller 1 16 controls the input / output of communication data for clockwise combinations
  • the counterclockwise TAP controller 125 controls the input / output of communication data for clockwise combinations. is there.
  • the clockwise boundary scan register 115 is connected between the clockwise TDI terminal 106 and the clockwise TDO terminal 107
  • the boundary scan register 124 is connected between the counterclockwise TDI terminal 117 and the counterclockwise TDO terminal 118.
  • the above two combinations can independently perform communication processing.
  • the sensor devices 4a to 4d are arranged at positions corresponding to the object to be monitored, and various sensors for measuring temperature, pressure, etc., or monitoring for monitoring the operation state of the CPU circuit to be monitored. It has a circuit and the like. Then, the measuring operation or the monitoring operation is executed in accordance with the measurement condition or the monitoring condition specified by the control data or the like given via the boundary scan elements 100a to 100d, and thereby, The obtained measurement results and monitoring results are transmitted to the communication controller device 57 via the boundary scan elements 100a to 100d.
  • the communication controller device 57 includes a hardware circuit, a microprocessor circuit, and the like.Based on the instruction output from the host computer device 6, the TMS terminal 57e or f and the TCK terminal 57g or From h, it is necessary to connect to the TMS terminal 108 and TCK terminal 109 of each of the boundary scan elements 100 a to 100 d via the TMS communication line 70 and the TCK communication line 71. A signal is sent to drive each of the boundary scan elements 100a to 100d.
  • the communication controller device 57 has a terminal portion composed of a clockwise output terminal (communication data output terminal) 57a and a clockwise input terminal (communication data input terminal) 57b, and a counterclockwise output terminal.
  • (Communication data output terminal) 57 c and counterclockwise input terminal (communication data input terminal) 57 d. 7c sends control data for controlling each of the sensor devices 4a to 4d, and outputs detection data or status data from each of the sensor devices 4a to 4d to the clockwise input terminal 5.
  • 7b and the counterclockwise input terminal 5 7d are received and supplied to the host computer 6.
  • the communication data transfer direction in the clockwise combination of the boundary scan elements 100a to 100d and the communication data transfer direction in the counterclockwise combination are reversed.
  • the communication controller device 57 is connected to the combination of the communication controller device 57 and the communication controller device 57.
  • the clockwise combination is connected in series to the communication controller device 57 via clockwise communication lines 64, 65 and 66, and the counterclockwise combination in all the boundary scan elements 100a to 100d. Is connected in series to the communication controller device 57 via counterclockwise communication lines 67, 68 and 69.
  • the clockwise output terminal 57 a of the communication controller device 57 is connected to the clockwise TDI terminal 106 of the boundary scan element 100 a via the clockwise communication line 64, and the boundary scan elements 100 a to 1.
  • Each clockwise TDO terminal 107 between 00d and each clockwise TDI terminal 106 are connected via clockwise communication line 65, and finally, clockwise TDO of boundary scan element 100d.
  • the terminal 107 is connected to a clockwise input terminal 57 b of the communication controller device 57 via a clockwise communication line 66.
  • control data transmitted from the clockwise output terminal 57a of the communication controller device 57 to the clockwise combination of the boundary scan elements 100a to 100d or the sensor devices 4a to The detection data and the status data obtained from the clockwise combination from 4b are always transferred in the direction of the boundary scan element 100a ⁇ 100b ⁇ 100c ⁇ 100d.
  • the counterclockwise output terminal 57 c of the communication controller device 57 is connected to the counterclockwise TDI terminal 1 17 of the boundary scan element 100 d via the counterclockwise communication line 67.
  • Each counterclockwise TD O terminal 118 between 100 d and 100 a is connected to each counterclockwise TD I terminal 117 via a counterclockwise communication line 68.
  • the boundary scan element 100 The counterclockwise TDO terminal 1 18 of a is connected to the counterclockwise input terminal 57 d of the communication controller device 57 via a counterclockwise communication line 69.
  • each boundary scan element 10 O c! From the counterclockwise output terminal 57 c of the communication controller device 57.
  • the communication controller device 57 and each boundary scan element 100 a The reason for connecting to 100 d is to cope with a case where the communication line 56 is disconnected or the like.
  • the operation of the communication device 1 having such a configuration will be described focusing on this point.
  • the communication device 1 drives only the clockwise combination of the boundary scan elements 100a to 100d to perform the communication processing.
  • the communication controller device 57 creates control data corresponding to the instruction. Then, the communication controller device 57 transmits a mode signal from the terminal 1576 or to switch each of the boundary scan elements 100a to 100d to a required operation mode, and to perform control.
  • the data is transmitted from the clockwise output terminal 57 a to the clockwise combination of the boundary scan elements 100 a to l 0 0 d via the clockwise communication lines 64 and 65, whereby each boundary scan is performed.
  • the control data is set in the clockwise output cell 110 of the elements 100a to 100d.
  • the communication controller device 57 outputs a mode signal indicating a control data output command from the TMS terminal 57 e or f, whereby the control set in each clockwise output cell 110 is output. Data is sent from the output terminal 104 to the corresponding sensor devices 4a to 4d.
  • the sensor devices 4a to 4d execute a measurement operation or a monitoring operation according to the content of the received control data. In addition, according to the content of the control data, it outputs measurement data, monitoring data, status data of the sensor devices 4a to 4d themselves, and the like to the corresponding boundary scan elements 100a to 100d.
  • the communication controller device 57 transmits a mode signal from the ⁇ 13 terminal 5776 or f. Then, each of the boundary scan elements 100 a to 100 d is switched to a required operation mode, and the detection data of the measurement data and the like from the corresponding sensor devices 4 a to 4 d is output to each boundary scan element 100 a. It is set in each clockwise input cell 111 via input terminals 105 of 0a to 100d. After that, the detection data etc. set in each clockwise input cell 1 1 1 turn clockwise communication lines 65 and 66. Is transferred to the clockwise input terminal 57 b of the communication controller device 57 via The host computer device 6 or the communication controller device 57 analyzes the received detection data and the like.
  • the communication controller device 57 does not include the detection data or the status data from the sensor devices 4a and 4b in the communication data received from the clockwise input terminal 57b. Based on this, the presence / absence of disconnection and the location of the disconnection can be specified.
  • the counterclockwise combination of each of the boundary scan elements 100a to 100d is the reverse of the clockwise combination of the communication data transfer direction.
  • the reception of detection data or status data of the sensor devices 4a and 4b and the transfer of communication data to the sensor devices 4c and 4d It is possible.
  • the communication controller device 57 sends out the mode signal from the TMS terminal 57 e or f, and it is not a clockwise combination of the boundary scan elements 100 a to 100 d but a clockwise counterclockwise combination. Driving the combination, thereby setting the detection data or status data of the sensor devices 4a and 4b not yet received by the communication controller device 57 in each counterclockwise input cell 120. You. Then, the detection data and the like of the sensor devices 4a and 4b set in each counterclockwise input cell 120 are input to the counterclockwise input of the communication controller device 57 via the counterclockwise communication lines 68 and 69. Transferred to terminal 57d.
  • the communication controller device 57 receives the counterclockwise rotation of the boundary scan elements 100 c and 100 d from the counterclockwise output terminal 57 c via the counterclockwise communication lines 67 and 68. By sending new control data to the side output cell 119, new control data can be sent to the sensor devices 4d and 4c via the output terminal 104. Therefore, even when a part of the communication line 56 is disconnected, the communication controller device 57 can transmit and receive the communication data with all the sensor devices 4a to 4d.
  • the boundary scan elements 100a to 100d each having the above-described two combinations capable of independently performing communication processing are connected to the sensor devices 4a to 4d.
  • the transfer direction of the communication data of each combination is reversed, even if the communication line 56 is disconnected, the communication data is transmitted to each of the sensor devices 4a to 4d. You can receive a message from a to 4d.

Description

明 細 書
バウンダリスキャン素子及びこれを用いた通信装置 技術分野
本発明は、 バウンダリスキヤンテスト法に使用されるバウンダリスキヤン素子 及びこれを応用して通信素子として用いた通信装置に関し、 特に、 処理の高速化 を可能とするバウンダリスキャン素子及びこれを用いた通信装置に関する。
発明の背景
プリント配線が形成された配線基板上に複数の I Cチップを配置した状態で、 各 I Cチップと各プリント配線との接続が正しく行われているかどう力、 各プリ ント配線が断線していないかどうかなどを検査する方法の 1つとして、 バウンダ リスキャンテスト法が提案されている。
このバウンダリスキャンテス卜法は、 バウンダリスキャン素子が組み込まれた 集積回路 （ I Cチップ） に対して実行することができる。 バウンダリスキャン素 子とは、 例えば、 第 3図に示すとおり、 集積回路 2 10の本来の機能を実現する ための内部ロジック回路 2 1 1の入出力端子と集積回路 2 1 0の入力端子 2 1 2 及び出力端子 2 1 3との間に個別に設けられた複数のバウンダリセル 2 14と、 バウンダリセル 2 14へのデ一夕の入出力を制御するための TAPコントローラ
(TAP回路） 2 1 9と、 テストデ一夕を受信するための TD I端子 220と、 テストデ一夕を送信するための T DO端子 22 1と、 クロック信号が入力される 丁じ 端子122と、 TAPコントローラ 21 9の動作モードを切換えるための モード信号を受信するための TMS端子 223と、 からなるものであり、 更に、 必要に応じて、 バイパスレジス夕 2 1 5、 I D CODEレジス夕 2 16、 インス トラクシヨンレジス夕 2 1 7或はリセット信号を受信するための TRS端子 22 4などが設けられたものである。 バイパスレジス夕 2 1 5は、 通信データをバウ ンダリセルを通さずに転送するためのものであり、 I D CODEレジス夕 2 16 は、 個別に付された I DCODEを出力することにより、 通信データの出所を識 別するためのものであり、 更に、 インストラクションレジス夕 2 1 7は、 通信デ 一夕のうち、 特定のデータをデコードして、 TMS信号とは別に、 動作モードの 移行等を行なうためのものである。 なお、 バイパスレジス夕 2 1 5〜^ f ンストラ クシヨンレジスタ 2 1 7は、 バウンダリスキャンレジス夕 （1 1 8 ) と呼ばれる。 各端子或は各端子において入出力される信号を詳細に説明にすれば、 T D I (Test Data In) は、 テストロジックに対して、 命令やデータをシリアル入力する 信号で、 T C Kの立ち上がりエッジでサンプリングされる。 T D〇(Test Data Out) は、 テストロジックからのデータをシリアル出力する信号で、 出力値の変更は T C Kの立ち下がりエツジで行なう。 T C K(Test Clock)は、 テストロジックにクロ ックを供給する。 シリアルテストデ一夕経路を、 コンポーネント固有のシステム クロックと独立して使用できるようにする専用入力である。 TM S (Test Mode Select)は、 テスト動作を制御する信号で、 T C Kの立ち上がりエッジでサンプリ ングされる。 この信号は、 T A Pコントローラがデコードする。 T R S T(Test Reset)は、 T A Pコントローラを非同期に初期化する負論理記号で、 オプションで ある。
このようなバウンダリスキャン素子が組み込まれた集積回路 2 1 0は、 その動 作状態およびこの集積回路 2 1 0と外部機器との接続関係を、 以下に述べる手順 でテストすることができる。
まず、 集積回路 2 1 0の内部ロジック 2 1 1の良否をチェックする場合には、 集積回路 2 1 0の T D I端子 2 2 0にシリアルデータ （テストデータ） を入力し ながら、 これをシフトさせて、 各入力端子 2 1 2に対応する各バウンダリセル 2 1 4にテストデータをセッ卜する。 この状態で、 集積回路 2 1 0を動作させた後、 各出力端子 2 1 3に対応する各バウンダリセル 2 1 4にセットされているデ一夕 をシフトさせて T DO端子 2 2 1から出力させ、 これによつて得られたシリアル データ （テスト結果データ） と、 この集積回路 2 1 0に入力したテストデータと の対応関係に基づき、 集積回路 2 1 0の内部ロジック 2 1 1が良好かどうかをテ ストする。
また、 バウンダリスキャンテスト法は、 バウンダリスキャン素子が組み込まれ ていれば、 複数の集積回路に対しても実行することができる。
例えば、 第 4図に示すような基板 2 2 6に搭載された複数の集積回路 2 1 0に 対しては、 集積回路 2 1 0自体のテストの他、 集積回路 2 1 0間のプリントパ夕 ーンの断線等も併せてテス卜することができる。 この場合、 複数の集積回路 2 1 0に組み込まれた各バウンダリスキャン素子は 直列に接続される。 具体的には、 1つ目の集積回路 2 1 0 (図の左側） の T DO 端子 2 2 1と、 2つの目の集積回路 2 1 0 (図の右側） の丁0 1端子2 2 0とを 接続するとともに、 ホストコンピュータ装置 2 2 7などに設けられたバウンダリ スキャンコントローラボード 2 2 8の出力端子 2 2 9と、 1つ目の集積回路 2 1 0の T D I端子 2 2 0とを接続し、 さらにバウンダリスキャンコント口一ラボー ド 2 2 8の入力端子 2 3 0と、 2つ目の集積回路 2 1 0の T D O端子 2 2 1とを 接続する。 テストの手順は以下の通りである。
プリントパターンの断線、 短絡等をテス卜する場合は、 テストデ一夕作成ッ一 ル 2 3 1などを使用してテストデータ （シリアルデータ） を作成し、 これをバウ ンダリスキャンコントローラボード 2 2 8の出力端子 2 2 9から出力させ、 1つ 目の集積回路 2 1 0の T D I端子 2 2 0に入力させながらこれをシフ卜させて、 この集積回路 2 1 0の各出力端子 2 1 3に対応する各バウンダリセル 2 1 4にテ ストデータをセットする。 この状態で、 第 5図に示す如く 1つ目の集積回路 2 1 0に設けられている各出力端子 2 1 3から、 これら各バウンダリセル 2 1 4に格 納されているデ一夕を出力させるとともに、 システムバスなどを構成する各プリ ントパターン 2 3 3を介して、 2つ目の集積回路 2 1 0の各入力端子 2 1 2に入 力させ、 更に、 これらの各入力端子 2 1 2に対応する各バウンダリセル 2 1 4に 取り込ませる。
この後、 これらの各集積回路 2 1 0の各バウンダリセル 2 1 4に格納されてい るデ一夕をシフトさせて、 バウンダリスキャンコントローラボード 2 2 8の入力 端子 2 3 0で、 これを取込みながら、 テスト結果解析ツール 2 3 2などを使用し て、 これを解析することにより、 集積回路 2 1 0間を接続するプリントパターン 2 3 3などのテスト範囲 2 3 5において、 断線、 短絡等がないかをテストするこ とができる。
次に、 各集積回路 2 1 0の内部ロジック 2 1 1を検査する場合には、 テストデ 一夕をバウンダリスキャンコントローラボード 2 2 8の出力端子 2 2 9から出力 させ、 1つ目の集積回路 2 1 0の T D I端子 2 2 0に入力させながらこれをシフ 卜させて、 第 7図に示す如くこの集積回路 2 1 0の各入力端子 2 1 2に対応する 各バウンダリセル 2 1 4にセットする。
次いで、 この集積回路 2 1 0を動作させて、 これによつて得られたデータを各 出力端子 2 1 3に対応する各バウンダリセル 2 1 4に取り込ませた後、 これらの 各バウンダリセル 2 1 4に格納されているデータをシフトさせて、 1つの目の集 積回路 2 1 0の T D O端子 2 2 1から出力させる。 この時、 バウンダリスキャン コントローラボード 2 2 8によって、 2つ目の集積回路 2 1 0を、 第 6図に示す 如くパイパス状態にすることにより、 T D O端子 2 2 1から出力されたデータを 2つ目の集積回路 2 1 0をバイパスさせて、 バウンダリスキャンコントローラポ —ド 2 2 8の入力端子 2 3 0で取込む。 そして、 テスト解析ツール 2 3 2などを 使用して、 取り込んだデ一夕を解析することにより、 1つ目の集積回路 2 1 0が 正しく動作するかどうかをテス卜することができる。
次に、 2つ目の集積回路 2 1 0を検査する場合には、 同様に、 バウンダリスキ ヤンコントローラボード 2 2 8によって、 1つ目の集積回路 2 1 0を、 第 6図に 示す如くパイパス状態にした後、 テストデータをバウンダリスキャンコントロー ラボ一ド 2 2 8の出力端子 2 2 9から出力させ、 1つ目の集積回路 2 1 0をバイ パスさせる。 そして、 テストデータを 2つ目の集積回路 2 1 0の T D I端子 2 2 0に入力させながらシフトさせ、 第 9図に示す如くこの集積回路 2 1 0の各入力 端子 2 1 2に対応する各バウンダリセル 2 1 4にセットする。 次いで、 この集積 回路 2 1 0を動作させて、 これによつて得られたデータを各出力端子 2 1 3に対 応する各バウンダリセル 2 1 4に取り込ませる。 その後、 各バウンダリセル 2 1 4に格納されているデ一夕をシフトさせて、 T D O端子 2 2 1から出力し、更に、 バウンダリスキャンコントローラボード 2 2 8の入力端子 2 3 0で、 これを取込 む。 そして、 取り込んだデータをテスト結果解析ツール 2 3 2などを使用して解 析することにより、 2つ目の集積回路 2 1 0が正しく動作するかどうかをテスト することができる。
このように、 バウンダリスキャン素子が組み込まれた集積回路 2 1 0を使用し ている基板 2 2 6であれば、バウンダリスキャンテスト法を実行することにより、 各集積回路 2 1 0自体の良否、 集積回路 2 1 0間の接続関係などをテストするこ とができる。 ところで、 本発明者は、 このようなバウンダリスキャン素子が組み込まれた集 積回路を使用してセンサモジュールの基板などを構成したとき、 通信用集積回路 などを使用することなく、 基板 226上に搭載されている各集積回路に対し、 2 0Mb p s程度の速度で、 シリアルデ一夕の入出力を行なうことができることを 発見した。
そして、 バウンダリスキャン素子を応用して、 通信デバイスなどを使用するこ となくホストコンピュータ装置等と通信を行なう通信装置を提案した。
第 8図は、 バウンダリスキャン素子を応用した通信装置の一例を示すプロック 図である。
この図に示す通信装置 240は、 通信データの送出、 収集などを行なう通信コ ントローラ装置 241と、 監視対象物の監視などを行なう複数のセンサ装置 24 2 a〜242 cと、 これらの各センサ装置 242 a〜 242 c毎に配置され、 前 記通信コントローラ装置 241から出力される制御デ一夕を取り込んで、 これを 各センサ装置 242 a〜242 cに供給する処理、 及び、 これらの各センサ装置 242 a〜 242 cから出力される検知デ一夕等を取り込んで、 前記通信コント ローラ装置 241に供給する処理、 等を行なう複数のバウンダリスキャン素子 2 43 a〜 243 cと、 これらの各バウンダリスキャン素子 243 a〜 243 cと 前記通信コントローラ装置 241とを接続する通信線 244とを備えている。 各バウンダリスキャン素子 243 a〜243 cは、 通信コントローラ装置 24 1に直列に接続されている。 具体的には、 通信コントローラ装置 241の出力端 子 24 l aは、 バウンダリスキャン素子 243 aの TD I端子に、 バウンダリス キャン素子 243 aの TDO端子は、 次のバウンダリスキャン素子 243 bの T D I端子に、 というように接続され、 バウンダリスキャン素子 243 cの TDO 端子は、 通信コントローラ装置 241の入力端子 241 bに接続される。
この通信装置 240の作用は以下の通りである。
各バウンダリスキャン素子 243 a〜 243 cは、 通信コントローラ装置 24 1の TCK端子 241 dから送出されるクロック信号に同期して機能し、 また、 通信コントローラ装置 241の TMS端子 241 cから送出される TM S信号に よって、 各々の TAPコントローラの動作モ一ドが切換えられる。 そして、 ホストコンピュータ装置 2 4 5からの指示に基づいて、 各センサ装置 2 4 2 a〜 2 4 2 cを駆動する場合には、 通信コントローラ装置 2 4 1の出力端 子 2 4 l aから制御データ （シリアルデータ） を出力させて、 これを各バウンダ リスキャン素子 2 4 3 a〜2 4 3 cに供給し、 出力端子に対応したバウンダリセ ルにセットする。 そして、 セットされた制御データを出力端子から出力し、 各バ ゥンダリスキャン素子 2 4 3 a〜 2 4 3 cに対応する各センサ装置 2 4 2 a〜2 4 2 cへ供給することによりこれらを駆動する。
また、 ホストコンピュータ装置 2 4 5からの指示に基いて、 各センサ装置 2 4 2 a〜2 4 2 cから検知デ一夕等を収集する場合には、 各センサ装置 2 4 2 a〜
2 4 2 cの検知デ一夕等を、 対応する各バウンダリスキャン素子 2 4 3 a〜2 4
3 cの入力端子に対応したバウンダリセルに一旦セットする。 そして、 これらを T D O端子からシリアルデ一夕として出力させ、 通信コントローラ装置 2 4 1の 入力端子 2 4 1 bでこれを取り込む。
このような通信装置 2 4 0では、 各バウンダリスキャン素子 2 4 3 a〜2 4 3 cに制御データをセッ卜する場合や各バウンダリスキャン素子 2 4 3 a〜2 4 3 cから検知デ一夕等を出力させる場合に、 データ転送速度を最大で、 2 0 M b p sとすることができ、 従来の通信装置より通信データの高速転送を可能にしてい る。
しかし、 従来のバウンダリスキャン素子では、 1つの集積回路に対して 2つの 集積回路が並列に接続されている回路等に対して、 バウンダリスキャンテスト法 を実行する場合には、 当該 2つの集積回路に個別のテス卜を並行して実行するこ とができないため、 一連の処理を円滑に行なえない場合があった。
また、 従来のバウンダリスキャン素子では、 全てのバウンダリセルが直列に接 続されているので、 例えば、 出力端子側のバウンダリセルにデ一夕を転送したい 場合でも、 入力端子側のバウンダリセルを経由してデータをシフトさせなければ ならず、 転送速度が遅い場合があった。
発明の開示
本発明の目的は、 上述したような処理の高速化を可能とするバウンダリスキヤ ン素子及びこれを用いた通信装置を提供することにある。 本発明によれば、 各入力端子に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続された 複数の入力端子側バウンダリセルと、 各出力端子に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続された複数の出力端子側バウンダリセルと、 前記入力端子側及び出力 端子側バウンダリセルへのデータの入出力を制御するための T A P回路と、 前記 バウンダリセルに与えるためのシリアルデータを入力するための T D I端子と、 前記バウンダリセルからのデータをシリアルデータとして出力するための T D O 端子と、 クロック信号が入力される T C K端子と、 前記 T A P回路の動作モード を切換えるためのモード信号が入力される TM S端子と、 からなり、 前記入力端 子側バウンダリセル及び前記出力端子側バウンダリセルがそれぞれ前記 T D I端 子と前記 T D〇端子との間に並列に接続されたバウンダリスキャン素子であって、 前記入力端子側バウンダリセルと前記出力端子側バウンダリセルと前記 T D I 端子と前記 T D〇端子と前記 T A P回路からなる組合せを 2組備えたことを特徴 とするバウンダリスキャン素子が提供される （請求項 1 ) 。
本発明のバウンダリスキャン素子では、 前記入力端子側バウンダリセルと前記 出力端子側バウンダリセルと前記 T D I端子と前記 T D O端子と前記 TA P回路 からなる組合せを 2組備えたので、 それぞれの組合せ毎にテストデ一夕等を入出 力することができる。 従って、 1つの集積回路に対して 2つの集積回路が並列に 接続されている回路等に対して、 バウンダリスキャンテスト法を実行する場合で あっても、 当該 2つの集積回路に個別のテストを並行して実行することが可能と なり、 一連の処理を円滑に行ない得る。
また、 本発明のバウンダリスキャン素子では、 従来のバウンダリスキャン素子 のように全てのバウンダリセルが直列に接続されておらず、 前記入力端子側バウ ンダリセル及び前記出力端子側バウンダリセルがそれぞれ前記 T D I端子と前記 TD O端子との間に並列に接続されている。
従って、 前記入力端子側バウンダリセル又は前記出力端子側バウンダリセルに 対して、 直接データの入出力が可能になり、 データの転送速度を向上できる。 また、 本発明によれば、 各入力端子に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続 された複数の入力端子側バウンダリセルと、 各出力端子に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続された複数の出力端子側バウンダリセルと、 前記入力端子側及 び出力端子側バウンダリセルへのデ一夕の入出力を制御するための T A P回路と、 前記バウンダリセルに与えるためのシリアルデータを入力するための T D I端子 と、 前記バウンダリセルからのデータをシリアルデ一夕として出力するための T D O端子と、 クロック信号が入力される T C K端子と、 前記 TA P回路の動作モ ードを切換えるためのモード信号が入力される TM S端子と、 からなり、 前記入 力端子側バウンダリセル及び前記出力端子側バウンダリセルがそれぞれ前記 T D I端子と前記 T D O端子との間に並列に接続された複数のバウンダリスキャン素 子と、 各々の前記バウンダリスキャン素子に接続され又はこれが組み込まれた I Cを有する複数の端末器と、 前記端末器を個別に制御するための通信データを前 記バゥンダリスキャン素子を介して送受信するための通信コントローラと、 から なる通信装置であって、 前記バウンダリスキャン素子が、 前記入力端子側バウン ダリセルと前記出力端子側バウンダリセルと前記 T D I端子と前記 T D〇端子と 前記 T A P回路とからなる組合せを 2組備え、 前記通信コントローラが、 前記バ ゥンダリスキャン素子に通信デ一夕を送出するための通信データ出力端子と前記 バウンダリスキャン素子から通信デ一夕を受け取るための通信データ入力端子と からなる端子部を 2つ備え、 いずれか一方の前記端子部に前記バウンダリスキヤ ン素子のいずれか一方の前記組合せが、 また、 他方の前記端子部に前記バウンダ リスキャン素子の他方の前記組合せが、 それぞれ直列に、 かつ、 通信デ一夕の転 送方向が逆になるように接続されたことを特徴とする通信装置が提供される （請 求項 2 ) 。
この発明は、 上述した本発明のバウンダリスキャン素子を用いた通信装置であ つて、 特に各構成を接続するための通信線の断線に対応し得る通信装置である。 この発明では、 各前記端末器に通信処理を独自に行なえる前記組合せを 2組備 えた前記バウンダリスキャン素子を接続し、 かつ、 各々の前記組合せは、 その通 信データの転送方向が逆になるように前記通信コントローラに接続されている。 従って、 通常は、 一方の前記組合せのみを使用して通信処理を行ない、 通信線 の一部が断線した場合には、 他方の前記組合せを使用して通信処理を行なうこと により、 全ての前記端末器への通信デ一夕の入出力が可能となる。
本発明の通信装置において、 前記端末器としては、 各種のセンサ装置、 例えば、 監視カメラ装置等がある。 そして、 当該端末器と前記バウンダリスキャン素子の 接続においては、 前記出力端子は、 前記端末器の入力端子に、 前記入力端子は、 前記端末器の出力端子に、 それぞれ接続され、 これにより前記バウンダリセルの データが当該端末器に出力され、 また、 逆に前記バウンダリセルへデータが入力 される。
前記通信データとは、 前記端末器を制御するために当該端末器へ送出される制 御データの他、 前記端末器から送出される当該端末器が検出したデ一夕や、 当該 端末器が正常に駆動しているか否か等の状態デ一夕も含まれる。
図面の簡単な説明
第 1図は、 本発明の通信装置の第 1形態を示すプロック図である。
第 2図は、 通信装置 1のバウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜dのブロック図で ある。
第 3図は、 従来のバウンダリスキャン素子のブロック図である。
第 4図は、 第 3図に示すバウンダリスキヤン素子を使用したバウンダリスキヤ ンテスト例を示すブロック図である。
第 5図は、 第 3図に示すバウンダリスキャン素子を使用したバウンダリスキヤ ンテスト例を示す模式図である。
第 6図は、 第 3図に示すバウンダリスキャン素子を使用したバウンダリスキヤ ンテスト例を示す模式図である。
第 7図は、 第 3図に示すバウンダリスキャン素子を使用したバウンダリスキヤ ンテスト例を示す模式図である。
第 8図は、 バウンダリスキャン素子を応用した従来の通信装置の一例を示すブ ロック図である。
発明を実施するための最良の形態
《第 1形態の内容》
第 1図は、 本発明の通信装置 1を示すブロック図である。
通信装置 1は、複数の本発明のバウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dと、 各々のバウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 l 0 0 dに接続されたセンサ装置 （端 末器） 4 a〜4 dと、 バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dを介して、 セ ンサ装置 4 a〜4dを制御するための通信コントローラ装置 57と、 を備え、 更 に、 通信コントローラ装置 57にはホストコンピュータ装置 6が接続される。 各バウンダリスキャン素子 100 a〜 100 dは、 第 2図に示す通り、 各入力 端子 105に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続された複数の入力セル （入 力端子側バウンダリセル） 1 1 1及び 120と、 各出力端子 104に個別に割り 当てられ、 かつ、 直列に接続された複数の出力セル （出力端子側バウンダリセル） 1 10及び 1 19と、 入力セル 1 11及び 120、 及び、 出力セル 1 10及び 1 19への通信データの入出力を制御するための TAPコントローラ （TAP回路） 116及び 125と、 入力セル 1 1 1及び 120、 及び、 出力セル 1 19及び 1 10に与えるためのシリアルデータを入力するための TD I端子 106及び 1 1 7と、 入力セル 1 1 1及び 120、 及び、 出力セル 1 10及び 1 19の通信デ一 夕をシリアルデ一夕として出力するための TDO端子 107及び 1 18と、 クロ ック信号が入力される TCK端子 109と、 TAPコントローラ 1 16及び 12 5の動作モードを切換えるためのモード信号が入力される TMS端子 108と、 からなる一つのパッケージのものであり、 また、 必要に応じて、 バイパスレジス 夕 1 12又は 121と、 I Dコ一ドレジスタ 1 13又は 122と、 インストラク シヨンレジス夕 1 14又は 123と、 からなるバウンダリスキャンレジス夕 1 1 5又は 124を備えるものである。
なお、 バウンダリスキャン素子 100 a〜 100 dの入力端子 105及び出力 端子 104は、 それぞれ対応するセンサ装置 4 a〜4 dの出力端子及び入力端子 (図示しない） に接続されており、 これにより出力セル 1 10又は 1 19にセッ 卜された通信データがセンサ装置 4 a〜4 dへ送出され、 また、 センサ装置 4 a 〜4 dからの通信データが入力セル 1 1 1又は 120へ送出され、セットされる。 ここで、 バウンダリスキャン素子 100 a〜 100 dは、 バウンダリセルと T D I端子と TD〇端子と TAPコントローラとからなる組合せを 2組備えるもの である。 その組合せとは、 具体的には、 右回り側入力セル 1 1 1と右回り側出力 セル 110と右回り側 TD I端子 106と右回り側 TDO端子 107と右回り側 TAPコントローラ 1 16とからなる組合せ （以下、 右回りの組合せという） と、 左回り側入力セル 120と左回り側出力セル 1 19と左回り側 TD I端子 1 17 と左回り側 TD〇端子 1 18と左回り側 TAPコントローラ 125とからなる組 合せ （以下、 左回りの組合せという） と、 である。
各入力セル 1 1 1又は 120と、 各出力セル 1 1 0又は 1 19とは、 各々の組 み合わせにおける TD I端子 106又は 1 1 7と、 TD〇端子 107又は 1 18 との間に並列に接続されており、 これにより TD I端子 1 06又は 1 1 7から、 各入力セル 1 1 1又は 120及び各出力セル 1 1 0又は 1 19へ直接通信デ一夕 を転送でき、 また、 各入力セル 1 1 1又は 120及び各出力セル 1 10又は 1 1 9の通信データを TDO端子 107又は 1 18から直接出力することができる。 従って、 バウンダリスキャン素子 1 00 a〜 1 00 dは、 全てのバウンダリセ ルが直列に接続された従来のバウンダリスキャン素子より、 各入力セル 1 1 1及 び 1 20又は出力セル 1 10及び 1 1 9に関するデータの転送速度を向上するこ とができる。
なお、 第 2図の例では、 各入力セル 1 1 1及び 1 20、 或は、 各出力セル 1 1 0及び 1 1 9が、 入力端子 105或は出力端子 104に、 それぞれ直列に接続さ れているが、 それぞれ並列に接続してもよい。
TAPコントローラ 1 16及び 125は、 TMS端子 1 08及び TCK端子 1 09にそれぞれ並列に接続されており、 同期して機能するものである。 また、 右 回り側 TAPコントローラ 1 1 6は、 右回りの組合せに関する通信データの入出 力を制御し、 左回り側 TAPコントローラ 125は、 左回りの組合せに関する通 信データの入出力を制御するものである。
また、 バウンダリスキャンレジス夕を設ける場合には、 各組合せ毎に設ける。 具体的には、第 2図に示す通り、右回り側バウンダリスキャンレジス夕 1 1 5は、 右回り側 TD I端子 106と右回り側 T DO端子 107との間に接続され、 左回 り側バウンダリスキャンレジス夕 124は、 左回り側 TD I端子 1 1 7と左回り 側 TDO端子 1 18との間に接続される。
係る構成からなるバウンダリスキャン素子 1 00 a〜l 00 dでは、 上述した 2つの組合せが、 それぞれ独立して通信処理を行なうことができる。
従って、 例えば、 1つの集積回路に対して 2つの集積回路が並列に接続されて いる回路等に対して、 バウンダリスキャンテスト法を実行する場合でも、 このバ ゥンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 l 0 0 dの各組合せにそれぞれ並列に接続され ている集積回路を接続することにより、 当該 2つの集積回路に個別のテストを並 行して実行することができる。
次に、 センサ装置 4 a〜4 dは、 監視対象物に対応する位置に配置され、 温度、 圧力等を測定する各種のセンサ、 或は監視対象となる C P U回路の動作状態を監 視する監視回路等を備える。 そして、 バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dを介して与えられた制御データ等で指定された測定条件や監視条件等に応じて、 測定動作或は監視動作を実行すると共に、 それにより得た測定結果や監視結果等 をバウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dを介して通信コントローラ装置 5 7へ送出する。
通信コントローラ装置 5 7は、 ハードウエア回路やマイクロプロセッサ回路等 を備えており、 ホストコンピュータ装置 6から出力された指示内容に基づいて、 TM S端子 5 7 e又は f と、 T C K端子 5 7 g又は hとから、 TM S用通信線 7 0と T C K用通信線 7 1と介して各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 d の TM S端子 1 0 8及び T C K端子 1 0 9へ必要な信号を送出し、 各バウンダリ スキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dを駆動する。
また、 通信コントローラ装置 5 7は、 右回り側出力端子 （通信データ出力端子） 5 7 aと右回り側入力端子 （通信データ入力端子） 5 7 bとからなる端子部と、 左回り側出力端子 （通信データ出力端子） 5 7 cと左回り側入力端子 （通信デー 夕入力端子） 5 7 dとからなる端子部と、 を備え、 右回り側出力端子 5 7 a及び 左回り側出力端子 5 7 cから各センサ装置 4 a〜4 dを制御するための制御デー 夕を送出し、 また、 各センサ装置 4 a〜4 dからの検出データ或は状態デ一夕を 右回り側入力端子 5 7 b及び左回り側入力端子 5 7 dから受け取り、 これをホス トコンピュー夕装置 6に供給する処理等を行う。
ここで、 通信装置 1では、 各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dの右 回りの組合せにおける通信データの転送方向と、 左回りの組合せにおける通信デ —夕の転送方向と、 が逆行するように通信コントローラ装置 5 7とこれらの組合 せとが接続されている。
具体的には、 まず、 全てのバウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dにおけ る右回りの組合せは、 右回り通信線 64及び 65及び 66を介して、 通信コント ローラ装置 57に直列に接続されており、 また、 全てのバウンダリスキャン素子 100 a〜 100 dにおける左回りの組合せは、 左回り通信線 67及び 68及び 69を介して、 通信コントローラ装置 57に直列に接続されている。
そして、 通信コントローラ装置 57の右回り側出力端子 57 aは、 右回り通信 線 64を介してバウンダリスキャン素子 100 aの右回り側 TD I端子 106に 接続され、 また、 バウンダリスキャン素子 100 a〜 1 00 d間の各右回り側 T DO端子 107と各右回り側 TD I端子 106とは、 右回り通信線 65を介して 各々接続され、 最後に、 バウンダリスキャン素子 1 00 dの右回り側 TDO端子 1 07は、 通信コントローラ装置 57の右回り側入力端子 57 bに右回り通信線 66を介して接続されている。
このため、 通信コントローラ装置 57の右回り側出力端子 57 aから各バウン ダリスキャン素子 100 a〜l 00 dの右回りの組合せへ送出された制御デ一夕、 或は、 各センサ装置 4 a〜4 bから右回りの組合せが得た検知デ一夕及び状態デ —夕は、 常に、 バウンダリスキャン素子 100 a→100 b→1 00 c→100 dの方向に転送される。
一方、 通信コントローラ装置 57の左回り側出力端子 57 cは、 左回り通信線 67を介してバウンダリスキャン素子 1 00 dの左回り側 TD I端子 1 1 7に接 続され、 また、 バウンダリスキャン素子 1 00 d〜 1 00 a間の各左回り側 TD O端子 1 18と各左回り側 TD I端子 1 17とは、左回り通信線 68を介して各々 接続され、 最後に、 バウンダリスキャン素子 100 aの左回り側 TDO端子 1 1 8は、 通信コントローラ装置 57の左回り側入力端子 57 dに左回り通信線 69 を介して接続されている。
このため、 通信コントローラ装置 57の左回り側出力端子 57 cから各バウン ダリスキャン素子 10 O c！〜 100 aの左回りの組合せへ送出された制御データ、 或は、 各センサ装置 4 a〜4 bから左回りの組合せが得た検知デ一夕及び状態デ —夕は、 常に、 バウンダリスキャン素子 100 d→100 c→1 00 b→100 aの方向に転送される。
このように通信コントローラ装置 57と、 各バウンダリスキャン素子 1 00 a 〜 1 0 0 dとを接続したのは、 通信線 5 6が断線等した場合に対応するためであ る。 以下、 この点を中心に、 係る構成からなる通信装置 1の作用について説明す る。
通信装置 1では、 通信線 5 6の断線の無い通常の通信処理においては、 バウ ンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dの右回りの組合せのみを駆動して通信処 理を行なう。
すなわち、 ホストコンピュータ装置 6からセンサ装置 4 a〜4 dを駆動する命 令が送出されると、 通信コントローラ装置 5 7ではその命令に応じた制御データ が作成される。 そして、 通信コントローラ装置 5 7は、 丁\1 5端子5 7 6又は からモード信号を送出して、 各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dを必 要な動作モードに切換えると共に、 制御データを右回り側出力端子 5 7 aから右 回り通信線 6 4及び 6 5を介して各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 l 0 0 d の右回りの組合せに送出し、 これにより各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dの右回り側出力セル 1 1 0に制御デ一夕がセッ卜される。
次に、 通信コントローラ装置 5 7が TM S端子 5 7 e又は f から制御データの 出力指令を示すモード信号を出力し、 これによりに各右回り側出力セル 1 1 0に セッ卜されていた制御データが出力端子 1 0 4から対応するセンサ装置 4 a〜4 dへ送出される。
センサ装置 4 a〜4 dは、 受け取った制御デ一夕の内容に応じて、 測定動作或 は監視動作等を実行する。 また、 制御データの内容に応じて、 測定データ、 監視 データ或はセンサ装置 4 a〜 4 d自体の状態データ等を対応するバウンダリスキ ヤン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dへ出力する。
次に、 ホストコンピュータ装置 6からセンサ装置 4 a〜4 dの測定データ等を 収集する命令が送出されると、 通信コントローラ装置 5 7は、 丁^13端子5 7 6 又は f からモード信号を送出して、 各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dを必要な動作モードに切換え、 対応するセンサ装置 4 a〜4 dから測定データ 等の検知デ一夕等が各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dの入力端子 1 0 5を介して、 各右回り側入力セル 1 1 1にセットされる。 その後、 各右回り側 入力セル 1 1 1にセットされていた検知デ一夕等が右回り通信線 6 5及び 6 6を 介して通信コントローラ装置 5 7の右回り側入力端子 5 7 bへ転送される。 ホス トコンピュ一夕装置 6又は通信コントローラ装置 5 7は、 受け取った検知デ一夕 等の解析等を行なう。
一方、 各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dの右回りの組合せのみを 駆動した上述した通信処理を行なっている途中で、 通信線 5 6の一部、 例えば、 バウンダリスキャン素子 1 0 0 bと 1 0 0 cとの間で、 通信線 5 6が断線した場 合、 通信コントローラ装置 5 7は、 センサ装置 4 c及び 4 dに対しては制御デー 夕の送出が不能となり、 また、 センサ装置 4 a及び 4 bからの検知データ或は状 態データの受け取りは不能となる。
この場合、 通信コントローラ装置 5 7は、 右回り側入力端子 5 7 bから受け取 つた通信デ一夕にセンサ装置 4 a及び 4 bからの検知デ一夕或は状態デ一夕が含 まれていないことに基づいて、 断線の有無、 及び、 断線箇所を特定できる。
ここで、 各バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dの左回りの組合せは、 通信データの転送方向が右回りの組合せとは逆になつているので、 通信コント口 ーラ装置 5 7は、 この左回りの組合せを制御することにより、 センサ装置 4 a及 び 4 bの検知デ一夕或は状態データの受け取りと、 センサ装置 4 c及び 4 dへの 通信デー夕の転送とは可能である。
そこで、 通信コントローラ装置 5 7は、 TM S端子 5 7 e又は f からモード信 号を送出して、 バウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜 1 0 0 dの右回りの組合せで はなく、 左回りの組合せを駆動し、 これにより、 各左回り側入力セル 1 2 0に、 未だ通信コントローラ装置 5 7が受け取つていないセンサ装置 4 a及び 4 bの検 知データ或は状態デ一夕をセットされる。 そして、 各左回り側入力セル 1 2 0に セッ卜されたセンサ装置 4 a及び 4 bの検知データ等が左回り通信線 6 8及び 6 9を介して通信コントローラ装置 5 7の左回り側入力端子 5 7 dへ転送される。 また、 同様に通信コントローラ装置 5 7は、 左回り側出力端子 5 7 cから左回 り通信線 6 7及び 6 8を介して、 バウンダリスキャン素子 1 0 0 c及び 1 0 0 d の各左回り側出力セル 1 1 9へ新たな制御データを送出することにより、 出力端 子 1 0 4を介してセンサ装置 4 d及び 4 cに新たな制御データを送出することも できる。 従って、 通信コントローラ装置 5 7は、 通信線 5 6の一部に断線が生じた場合 でも、 全てのセンサ装置 4 a〜4 dと通信デ一夕の送受信が可能となる。
このように、 通信装置 1では、 各センサ装置 4 a〜4 dに、 各々独立して通信 処理を行ない得る 2つの上述した組合せを備えるバウンダリスキャン素子 1 0 0 a〜l 0 0 dを接続し、且つ、 各組合せの通信データの転送方向を逆にしたので、 通信線 5 6が断線した場合でも、各センサ装置 4 a〜 4 dへ通信デ一夕を送出し、 また、 各センサ装置 4 a〜4 dから通信デ一夕を受け取ることができる。

Claims

請求 の 範 囲
1. 各入力端子に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続された複数の入力端子 側バウンダリセルと、 各出力端子に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続され た複数の出力端子側バウンダリセルと、 前記入力端子側及び出力端子側バウンダ リセルへのデ一夕の入出力を制御するための TAP回路と、 前記バゥンダリセル に与えるためのシリアルデ一夕を入力するための TD I端子と、 前記バウンダリ セルからのデ一夕をシリアルデ一夕として出力するための TD〇端子と、 クロッ ク信号が入力される TCK端子と、 前記 TAP回路の動作モードを切換えるため のモード信号が入力される TMS端子と、 からなり、 前記入力端子側バウンダリ セル及び前記出力端子側バウンダリセルがそれぞれ前記 TD I端子と前記 T DO 端子との間に並列に接続されたバウンダリスキャン素子であって、
前記入力端子側バウンダリセルと前記出力端子側バウンダリセルと前記 TD I 端子と前記 T D〇端子と前記 T A P回路からなる組合せを 2組備えたことを特徴 とするバウンダリスキャン素子。
2. 各入力端子に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続された複数の入力端子 側バウンダリセルと、 各出力端子に個別に割り当てられ、 かつ、 直列に接続され た複数の出力端子側バウンダリセルと、 前記入力端子側及び出力端子側バウンダ リセルへのデ一夕の入出力を制御するための T A P回路と、 前記バゥンダリセル に与えるためのシリアルデ一夕を入力するための TD I端子と、 前記バウンダリ セルからのデ一夕をシリアルデ一夕として出力するための T D〇端子と、 クロッ ク信号が入力される TCK端子と、 前記 TAP回路の動作モードを切換えるため のモード信号が入力される TMS端子と、 からなり、 前記入力端子側バウンダリ セル及び前記出力端子側バウンダリセルがそれぞれ前記 TD I端子と前記 TDO 端子との間に並列に接続された複数のバウンダリスキャン素子と、
各々の前記バウンダリスキャン素子に接続され又はこれが組み込まれた I Cを 有する複数の端末器と、
前記端末器を個別に制御するための通信データを前記バウンダリスキャン素子 を介して送受信するための通信コントローラと、 からなる通信装置であって、 前記バウンダリスキャン素子が、 前記入力端子側バウンダリセルと前記出力端 子側バウンダリセルと前記 T D I端子と前記 T D O端子と前記 T A P回路とから なる組合せを 2組備え、
前記通信コントローラが、 前記バウンダリスキャン素子に通信データを送出す るための通信データ出力端子と前記バウンダリスキャン素子から通信データを受 け取るための通信データ入力端子とからなる端子部を 2つ備え、
いずれか一方の前記端子部に前記バウンダリスキャン素子のいずれか一方の前 記組合せが、 また、 他方の前記端子部に前記バウンダリスキャン素子の他方の前 記組合せが、 それぞれ直列に、 かつ、 通信データの転送方向が逆になるように接 続されたことを特徴とする通信装置。
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