DE19641035A1 - Vorrichtung und Verfahren zur Positionsmessung - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zur PositionsmessungInfo
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- G01D5/2497—Absolute encoders
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Positionsmes
sung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 und 6.
Positionsmeßeinrichtungen verfügen über einen Träger mit einer Meßtei
lung, die von einer relativ zum Träger bewegbaren Abtasteinheit abgetastet
wird. Zur Messung einer absoluten Position sind mehrere parallel zueinan
der angeordnete Meßteilungen unterschiedlicher Auflösung vorgesehen. Die
Abtastelemente der Abtasteinheit lesen die Meßteilungen ab und erzeugen
elektrische Abtastsignale unterschiedlicher Perioden, die in einer Auswerte
einheit miteinander verknüpft werden und dadurch die absolute Position der
Abtasteinheit relativ zum Träger ermittelt wird.
Die Abtastelemente selbst sowie die gesamte Beschaltung der Abtastele
mente weisen ein frequenzabhängiges Tiefpaßverhalten auf. Dieses Tief
paßverhalten bewirkt mit steigender Frequenz der Abtastsignale eine zu
nehmende Phasenverschiebung und somit einen Phasenfehler zwischen
den einzelnen Abtastsignalen unterschiedlicher Frequenz.
Das Verhalten und die Eigenschaften von Tiefpässen sind in dem Buch von
Tietze, Ulrich: Halbleiter-Schaltungstechnik/U. Tietze; Ch. Schenk, 10. Auf
lage, 1993, Seiten 9 bis 13, 143 bis 155 beschrieben.
Zur Kompensation der frequenzabhängigen Phasenverschiebung der ein
zelnen Abtastsignale bei einer Positionsmeßeinrichtung wurde gemäß der
EP 0 256 229 B1 vorgeschlagen, den Abtastelementen ein Laufzeitglied
zuzuordnen.
Diese Laufzeitglieder in Form von Verstärkern, RC-Netzwerken oder Allpaß-
Schaltungen sind relativ aufwendige Schaltungen mit viel Platzbedarf. Da
diese Schaltungen selbst wiederum ein frequenzabhängiges Verhalten auf
weisen, ist eine exakte Optimierung schwierig realisierbar und nur innerhalb
eines sehr eingeschränkten Frequenzbereiches möglich. Weiterhin neigen
nachgeordnete Schaltungen mit Gegenkopplung zum Schwingen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Positionsmeßvorrichtung
und ein Positionsmeßverfahren anzugeben, mit der/dem frequenzabhängige
Einflüsse auf die Abtastsignale effektiv und auf einfache Weise kompensiert
werden.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruches 1 und 6 gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den abhängigen Ansprüchen angege
ben.
Mit Hilfe der Zeichnungen wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbei
spiels näher erläutert.
Es zeigt
Fig. 1 schematisch eine Positionsmeßvorrichtung,
Fig. 2 Abtastsignale der Positionsmeßvorrichtung
nach Fig. 1,
Fig. 3 ein zu korrigierendes und korrigiertes Ab
tastsignal vergrößert dargestellt,
Fig. 4 die frequenzabhängige Amplitude eines
Abtastsignales und
Fig. 5 die frequenzabhängige Phasenverschie
bung eines Abtastsignales.
In Fig. 1 ist eine lichtelektrische Positionsmeßvorrichtung schematisch dar
gestellt. Sie besteht aus einem Codeträger 1, der relativ zu einer Abtastein
richtung 2 in Meßrichtung X verschiebbar ist. Der Codeträger 1 besitzt meh
rere Codespuren 3, 4, 5 mit unterschiedlichen Teilungsperioden TP3, TP4,
TP5. Jede der Codespuren 3, 4, 5 wird von einem Abtastelement 6, 7, 8 zur
Erzeugung von analogen Abtastsignalen S3, S4, S5 mit den Signalperioden
P3, P4, P5 abgetastet. Die Abtastelemente 6, 7, 8 sind in Fig. 1 in Form
von Ersatzschaltbildern schematisch dargestellt. Jedes lichtempfindliche
Abtastelement 6, 7, 8 besteht aus einem Fotoelement 6.1, 7.1, 8.1, welches
selbst oder in Verbindung mit nachgeordneten Verstärkerschaltungen ein
Tiefpaßverhalten aufweist. Dieses Tiefpaßverhalten ist schematisch durch
die Widerstände 6.2, 7.2, 7.3 und die Kondensatoren 6.3, 7.3, 8.3 darge
stellt.
Die Abtastsignale S3, S4, S5 werden einer Auswerteeinheit 9 zugeführt, in
welcher durch Kombination oder Phasenvergleich der Abtastsignale S3, S4,
S5 in bekannter Weise eine absolute Position gewonnen wird, die in Form
eines Codewortes C am Ausgang der Auswerteeinheit 9 an steht. Die Aus
werteeinheit 9 kann - wie in Fig. 1 dargestellt ist - von der Abtasteinrich
tung 2 weit entfernt sein, z. B. Bestandteil einer Anzeigeeinheit oder einer
numerischen Steuerung sein, oder auch integraler Bestandteil der Ab
tasteinrichtung 2 selbst sein.
Die Abtastsignale S3, S4, S5 sind in Fig. 2 dargestellt. Die Abtastsignale
S3 und S4 besitzen eine Periode P3, P4, die ein Vielfaches der Periode P5
des Abtastsignales S5 aufweist. Durch das Tiefpaßverhalten der Abtastele
mente 6, 7, 8 erfolgt eine frequenzabhängige Phasenverschiebung der Ab
tastsignale S3, S4, S5. In Fig. 5 ist die frequenzabhängige Phasenver
schiebung um einen Phasenwinkel ϕ eines Abtastelementes 8 dargestellt.
Daraus ist ersichtlich, daß bei niederen Frequenzen f des Abtastsignales S5
keine Phasenverschiebung ϕ verursacht wird. Im dargestellten Beispiel wird
angenommen, daß die Teilungsperioden TP3 und TP4 sowie die maximale
Relativgeschwindigkeit des Codeträgers 1 in Meßrichtung X relativ zur Ab
tasteinrichtung 2 so gewählt sind, daß im Betrieb keine Phasenverschiebung
ϕ der Abtastsignale S3, S4 auftritt. Die Codespur 5 hat die kleinste Tei
lungsperiode TP5 und somit ist die Frequenz f dieses Abtastsignales S5 am
größten. Es sei angenommen, daß im Betrieb nur dieses Abtastsignal S5
eine Frequenz f erreichen kann, die zu einer nennenswerten Phasenver
schiebung ϕ führt. Gemäß der Erfindung wird diese Phasenverschiebung ϕ
besonders einfach korrigiert.
Hierzu ist in der Auswerteeinheit 9 eine Korrektureinrichtung 10 vorgesehen,
welche das Abtastsignal S5 in Abhängigkeit der momentanen Frequenz f
des Abtastsignales S5 korrigiert. Vor der eigentlichen Positionsmessung - in
der Regel bereits beim Hersteller der Positionsmeßvorrichtung - wird die
Abhängigkeit der Phasenverschiebung ϕ von der Frequenz f des Abtast
elementes 8 erfaßt. Dies kann dadurch erfolgen, daß man direkt die Pha
senverschiebung ϕ in Grad für verschiedene Frequenzen f des Abtastsigna
les S5 mißt und somit die in Fig. 5 gezeigte Kurve aufnimmt. Die darge
stellte Abhängigkeit ϕ(f) wird auch als Phasen- bzw. Frequenzgang be
zeichnet.
Eine weitere Möglichkeit besteht darin, daß man die Amplitude A des Ab
tastsignales S5 bei verschiedenen Frequenzen f mißt. Es ist bekannt, daß
die Grenzfrequenz fG bei 1/√=0,7 der maximalen Amplitude Amax erreicht
ist. Erreicht beim Einmeßvorgang die Amplitude A=0,7 der maximalen
Amplitude, wird die dabei auftretende Frequenz f des Abtastsignales S5 als
Grenzfrequenz fG angenommen. Aus dieser Grenzfrequenz fG läßt sich
mathematisch der in Fig. 5 dargestellte Frequenzgang mit der Formel
ϕ=arc tan f/fG herleiten.
Beim Einmeßvorgang kann das Abtastsignal S5 mit der variablen Frequenz
f dadurch erzeugt werden, daß am Abtastelement 8 ein Oszillator zur Ein
speisung eines Signales der Frequenz f angeschlossen wird, oder daß der
Codeträger 1 mit verschiedenen Geschwindigkeiten relativ zum Abtastele
ment 8 in Meßrichtung X verschoben wird.
In der Korrektureinrichtung 10 wird die beim Einmeßvorgang erhaltene Ab
hängigkeit ϕ(f) in einem Speicher 10.1 abgelegt, beispielsweise in Form ei
ner Tabelle. Während des Betriebes der Positionsmeßvorrichtung wird die
momentane Frequenz f des Abtastsignales S5 gemessen und davon ab
hängig ein Korrekturwert ϕ zur Phasenkorrektur ausgegeben. Die momen
tane Frequenz f des Abtastsignales S5 kann durch eine Geschwindigkeits
messung erfolgen. Hierzu werden beispielsweise die Perioden P5 innerhalb
einer bestimmten Zeitdauer gemessen. In Fig. 1 ist eine Frequenzmessung
schematisch dargestellt. Das analoge Abtastsignal S5 wird mit der Trigger
stufe 11 in ein Rechtecksignal D5 gewandelt und im nachgeordneten Zähler
12 werden die Perioden oder Flanken des Signales D5 gezählt. Aus der Pe
rioden- oder Flankenzahl innerhalb einer bekannten Zeit läßt sich einfach
die Frequenz f errechnen. Diese Frequenz f dient als Adresse des Spei
chers 10.1. Jeder Frequenz f ist ein Korrekturwert ϕ zugeordnet, der einer
Verknüpfungsschaltung 10.2 zugeführt wird, welche die momentane Phase
des Abtastsignales S5 um den Korrekturwert ϕ korrigiert.
Anstelle einer Korrekturtabelle kann im Speicher 10.1 auch nur der Wert für
die Grenzfrequenz fG abgelegt sein, und der Korrekturwert ϕ während der
Positionsmessung in Echtzeit nach der Beziehung ϕ=arc tan f/fG berechnet
werden.
Zur Bildung des absoluten Codewortes C kann in der Auswerteeinheit 9 eine
Vorrichtung angeordnet sein, welcher die Abtastsignale S3, S4 sowie das
korrigierte Abtastsignal (S5+ϕ) zugeführt werden.
Im dargestellten Beispiel wird das absolute Codewort C durch Vergleich der
Phasenlage aller Abtastsignale S3, S4, S5 gebildet. Hierzu wird jedes ana
loge Abtastsignal S3, S4, S5 einer Unterteilungsschaltung 13, 14, 15 zuge
führt, in der beispielsweise jede Periode P3, P4, P5 der Abtastsignale S3,
S4, S5 in 256 gleiche Teile unterteilt (interpoliert) wird. Da die Teilungsperi
oden TP3, TP4, TP5 der Codespuren 3, 4, 5 unterschiedlich sind, erhält
man an jeder Position über die gesamte Meßlänge eine definierte Kombina
tion von momentanen Unterteilungswerten U3, U4, U5 und somit ein ein
deutiges Codewort C. Die Unterteilungswerte U3, U4 sowie der korrigierte
Unterteilungswert U5′ wird hierzu einer Vorrichtung 16 zugeführt.
In Fig. 3 ist eine Periode P5 des Abtastsignales S5 dargestellt. Die gestri
chelte Darstellung zeigt das Abtastsignal S5 ohne eine Phasenverschiebung
ϕ mit der normierten maximalen Amplitude 1. Das weitere Signal in Fig. 3
wird vom Abtastelement 8 bei einer Frequenz des Abtastsignales S5 von
f=100 kHz erzeugt. Aus den Diagrammen in Fig. 4 und 5 ist ersichtlich,
daß bei f=100 kHz die Amplitude nur noch 0,85 der maximalen Amplitude
ist, sowie das Abtastsignal um ϕ=-27° phasenverschoben ist. Wird eine Pe
riode P5 von der Unterteilungsschaltung 15 in 256 Teile unterteilt, so ent
sprechen 27°=19 Teile. Daraus folgt, daß bei der Frequenz f=100 kHz jeder
Unterteilungswert U5 des Abtastsignales S5 um 19 Teile korrigiert werden
muß. Hierzu ist in dem Speicher 10.1 für f=100 kHz der Korrekturwert ϕ=19
abgespeichert und in der Verknüpfungsschaltung 10.2 erfolgt eine einfache
Addition: U5′=U5+19.
Anstelle der mathematischen Addition ist auch eine andere Korrekturme
thode möglich. In vielen Fällen wird zur Unterteilung von sinusförmigen Ab
tastsignalen eine Tabelle verwendet, an der als Adressen zwei um 90° ge
geneinander phasenverschobene Abtastsignale gleicher Frequenz anstehen
und in Abhängigkeit der Momentanwerte dieser Abtastsignale ein dazu ab
gespeicherter Unterteilungswert ausgegeben wird. Zur Korrektur eines Pha
senfehlers ϕ kann diese Tabelle um die zu korrigierenden Schritte verscho
ben werden, so daß z. B. ein um 19 Schritte korrigierter Wert ausgegeben
wird.
Die Frequenz f=100 kHz entspricht einer Relativgeschwindigkeit des Code
trägers 1 von 1,6 m pro sec. bei einer Teilungsperiode TP5 von 16 µm.
Sollte es erforderlich sein, können auch weitere Abtastsignale gemäß der
Erfindung korrigiert werden. Weiterhin können auch mehr als drei Codespu
ren vorgesehen sein. Das Codewort C muß nicht zwingend durch Kombina
tion bzw. Vergleich von Unterteilungswerten erzeugt werden, die Codespu
ren können auch einen Gray-Code bilden.
In vielen Fällen wird einer Folgeelektronik - z. B. einer numerischen Steue
rung - außer dem absoluten Positionswert C zusätzlich das analoge Abtast
signal der feinsten Codespur zugeführt. In der Folgeelektronik kann somit
zusätzlich eine inkrementale Positionsmessung durchgeführt werden. Es ist
auch bekannt, daß dieser somit ermittelte inkrementale Positionsmeßwert
mit der absoluten Position C verglichen wird, um Fehlfunktionen der Positi
onsmeßvorrichtung und Übertragungsfehler zu erkennen. Um auch in die
sem Fall einen korrekten Bezug zwischen dem absoluten Positionswert C
und dem inkrementalen Positionswert zu erhalten, ist es vorteilhaft, anstelle
des Abtastsignales S5 die anderen Abtastsignale S3 und S4 um den Pha
senwinkel (-ϕ) zu korrigieren. In diesem Fall dient das Abtastsignal S5 mit
der Phasenverschiebung ϕ als Bezug, zu dem die anderen Abtastsignale
S3, S4 synchronisiert werden müssen.
Der Auswerteeinheit werden bevorzugt nicht nur die gezeigten Abtastsignale
zugeführt, sondern auch die jeweils um 90° dazu phasenverschobenen Ab
tastsignale, dies hat den Vorteil, daß auf einfache bekannte Weise eine
Detektion der Bewegungsrichtung sowie eine einfache Unterteilung der Ab
tastsignale möglich wird.
Die Codespur mit der kleinsten Teilungsperiode kann auch zur inkrementa
len Positionsmessung benutzt werden.
Der Begriff Abtastelement beinhaltet auch die gesamte Beschaltung des
Fotoelementes, also auch eventuell nachgeschaltete Verstärkerbausteine.
Die Erfindung ist nicht auf das lichtelektrische Abtastprinzip beschränkt, sie
ist bei lichtelektrischen, kapazitiven, magnetischen und induktiven Längen- sowie
Winkelmeßvorrichtungen einsetzbar.
Claims (6)
1. Positionsmeßvorrichtung mit einem Codeträger (1), welcher mehrere
Codespuren (3, 4, 5) unterschiedlicher Teilungsperioden (TP3, TP4,
TP5) aufweist und zur Erzeugung von positionsabhängigen elektrischen
Abtastsignalen (S3, S4, S5) von mehreren Abtastelementen (6, 7, 8)
abgetastet wird, wobei zumindest eines der Abtastsignale (S5) eines
Abtastelementes (8) einer Korrektureinrichtung (10) zur Korrektur einer
frequenzabhängigen Phasenverschiebung zugeführt wird, dadurch ge
kennzeichnet, daß ein erster Baustein (12) zur Bestimmung der mo
mentanen Frequenz (f) eines der Abtastsignale (S5) vorgesehen ist,
und daß diese Frequenz (f) einem zweiten Baustein (10.1) zugeführt
wird, welcher in Abhängigkeit der momentanen Frequenz (f) einen Kor
rekturwert (ϕ) ausgibt, der in einer Verknüpfungsschaltung (10.2) mit
einem der Abtastsignale (S5) kombiniert wird, und daß der zweite Bau
stein (10.1) einen Speicher aufweist, in dem zumindest ein die Phasen
verschiebung eines Abtastelementes (8) definierender Wert (ϕ, fG) ab
gespeichert ist.
2. Positionsmeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß in dem Speicher die Grenzfrequenz (fG) des Abtastelementes (8)
abgespeichert ist, und daß der Korrekturwert (ϕ) nach folgender Bezie
hung ermittelt wird:
ϕ=arc tan f/fG.
3. Positionsmeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß in dem Speicher eine Tabelle von Korrekturwerten (ϕ) in Abhängig
keit der Frequenz (f) abgespeichert ist, wobei die Frequenz (f) die
Adresse zum Auslesen eines bestimmten Korrekturwertes (ϕ) dieser
Tabelle ist.
4. Positionsmeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß jede Signalperiode (P3, P4, P5) der Abtastsignale (S3, S4, S5) in
Unterteilungsschaltungen (13, 14, 15) in eine vorgegebene Anzahl von
Schritten (0 bis 256) unterteilt wird, und daß die momentanen Untertei
lungswerte (U3, U4, U5) der Abtastsignale (S3, S4, S5) einer Vorrich
tung (16) zur Bildung einer absoluten Position (C) zugeführt werden.
5. Positionsmeßvorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß der Korrekturwert (ϕ) eine bestimmte Anzahl von Schritten ist, die
zu dem Unterteilungswert (U5) des zu korrigierenden Abtastsignales
(S5) addiert wird.
6. Positionsmeßverfahren, bei dem mehrere Codespuren (3, 4, 5) eines
Codeträgers (1) von mehreren Abtastelementen (6, 7, 8) einer Ab
tasteinrichtung (2) abgetastet werden und dadurch mehrere elektrische
Abtastsignale (S3, S4, S5) unterschiedlicher Frequenz (f) erzeugt wer
den, wobei eine frequenzabhängige Phasenverschiebung zumindest ei
nes der Abtastsignale (S5) eines Abtastelementes (8) in einer Korrek
tureinrichtung (10) korrigiert wird, gekennzeichnet durch folgende Ver
fahrensschritte:
- a) Bestimmung der momentanen Frequenz (f) eines der Abtastsignale (S5),
- b) Bestimmung eines Korrekturwertes (ϕ) in Abhängigkeit der momen tanen Frequenz (f),
- c) Korrektur zumindest eines der Abtastsignale (S5) durch Verknüp fung des Momentanwertes des Abtastsignales (S5) mit dem Kor rekturwert (ϕ).
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Family
ID=7807915
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19641035A Expired - Fee Related DE19641035C2 (de) | 1996-10-04 | 1996-10-04 | Vorrichtung und Verfahren zur Positionsmessung |
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US6029118A (en) | 2000-02-22 |
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