DE1945170A1 - Mikroelektrische Schaltung - Google Patents
Mikroelektrische SchaltungInfo
- Publication number
- DE1945170A1 DE1945170A1 DE19691945170 DE1945170A DE1945170A1 DE 1945170 A1 DE1945170 A1 DE 1945170A1 DE 19691945170 DE19691945170 DE 19691945170 DE 1945170 A DE1945170 A DE 1945170A DE 1945170 A1 DE1945170 A1 DE 1945170A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- circuit
- pattern
- conductor
- printing
- printed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/01—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate comprising only passive thin-film or thick-film elements formed on a common insulating substrate
- H01L27/013—Thick-film circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4644—Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits
- H05K3/4664—Adding a circuit layer by thick film methods, e.g. printing techniques or by other techniques for making conductive patterns by using pastes, inks or powders
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/4847—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
- H01L2224/48472—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/852—Applying energy for connecting
- H01L2224/85201—Compression bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/852—Applying energy for connecting
- H01L2224/85201—Compression bonding
- H01L2224/85203—Thermocompression bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01006—Carbon [C]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01012—Magnesium [Mg]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01015—Phosphorus [P]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01019—Potassium [K]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/0102—Calcium [Ca]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01027—Cobalt [Co]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01028—Nickel [Ni]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01033—Arsenic [As]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01055—Cesium [Cs]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01067—Holmium [Ho]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01074—Tungsten [W]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1515—Shape
- H01L2924/15153—Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1517—Multilayer substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/156—Material
- H01L2924/15786—Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
- H01L2924/15787—Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/30105—Capacitance
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4697—Manufacturing multilayer circuits having cavities, e.g. for mounting components
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/901—Printed circuit
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49155—Manufacturing circuit on or in base
- Y10T29/49165—Manufacturing circuit on or in base by forming conductive walled aperture in base
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24802—Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
- Y10T428/24851—Intermediate layer is discontinuous or differential
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24802—Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
- Y10T428/24917—Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including metal layer
Description
5.9.1969
National Research Development Corporation, London, S.W.I., Großbritannien
Mikroelektroniacha 'Schaltung
Die Erfindung "betrifft eine mikroelektroniaohe Schaltung, insbesondere
aua mehreren Schichten.
Es ist bereits bekannt, eine mikroelektroniaohe Schaltung durch Siebdruck eines leitenden Druckfarbenmusters auf eine Iaolierunterlage
herzustellen. Es ist ferner bereite bekannt, eine Isolierschicht auf einem derartigen Muster durch Siebdruck mit
einer isolierenden oder dielektrischen Druckfarbe anzubringen und eine mikroelektronische Mehraohiohtensohaltung durch abwechselnden
Siebdruck von leitenden Mustern und isolierenden Schichten herausteilen. Die Verbindung zwischen den Mustern
in den verschiedenen Schichten kann duroh Verlängerung der Druokfarbenlinien der Muster in Bereiohe vorgenommen werden,
die nioht von den dielektrischen Schichten bedeckt sind.
Es hat sich jedoch herausgestellt, daB die elektrischen Eigenschaften
von Siebdruokstrukturen kritisch duroh den Zwischenraum,
der zwischen dem Sieb der Siebdruokvorrichtung und der
Oberfläohe vorhanden ist, auf der die Druckfarbe gedruckt wird, sowie durch den beim Drucken ausgeübten Druck, beeinträchtigt
werden können. Um enge Toleranzen und eine gute
Reproduzierbarkeit der. elektrischen Eigenschaften zu erreichen,
müssen d«r Zwischenraum und de-r ausgeübte Druck in allen Abschnitten
des gedruckten Musters konstant sein, weshalb «in·
009811/1313
293-(JX/3401/05} HdSc (7)
f 945170
aaB ^ ^-
sehr glatte und ebene Unterlage erforderlich iat. Die gedruokten
Leitungszüge jeder Muaterechicht haben eine Dicke, die
trotz ihrer Kleinheit beträchtlich, im Veiigleich ssu den -'fciffc* .
schenräumen iat, die im allgemeinen, beim Siebdruck von Leitermustern
Verwendet werden. Die Bildung eines Leitermusters sohafft daher eine stark ungleichmäßig·» unebene Etftoti* fü?
das Siebdrucken nachfolgender Schichten, und die anschließend
siebgedruckten Schichten sind dort dünner, wo sie irgendeine Linie des darunter liegenden Druckfarbenmusters kreuzen. Wenn
eine Mehrsohichtenschaltung aus mehreren übereinanderliegenden
Leitermustern hergestellt werden soll, nimmt die Ungleichmäßigkeit
oder Unebenheit, die durch die Muster erzeugt wird, immer mehr zu, so daS die Gefahr der Ausbildung dünner Bereiche
in den oberen Schichten sunimrat.
Die Ausbildung derartiger dünner Bereiche ist äußerst unerwünscht,
da sie die elektrischen Eigenschaften verschlechtern und die Schaltung unzuverlässig machen können. Bin dünner
Bereich in einer Isolierschicht verringert deren Durohschlagsspannung
und erhöht deren Kapazität· Bin dünner Bereich in' einem darüberliegenden Leitungszug erhöht dessen elektrischen
Widerstand. In Extremfällen können die dünnen Bereiche zu Überh.itzungen beim Betrieb führen oder eine Leitungsunterbreohung
verursachen,
Ss ist daher Aufgabe der Erfindung, siebgedruokte mikroelektronische Mehrschichtenschaltungen und ein Verfahren zu
deren Herstellung anzugeben, so da8 die Bildung dünner Bereiche
auSerordentlich unwahrscheinlich ist oder vermieden
wird. .
Das Verfahren sur Herstellung einer mikroelekrfercmlecAefi Schaltung ist gemäß der Erfindung dadurch gekennzeichnet., äs® ein-
Leitungs- und ein Isoliennuster in aufeinanderfolgenden Verfahrensaohrltten siebgedruckt werden, daß das Ieoliermuster
im wesentlichen komplementär zum Leitungemuster 1st, so daß Druokfarbenbereiche des Isoliermustere an Druckfarbenbereiche
des Leitungsmusters angrenzen, aber diese nicht überlappen,
und daß das leoliermuater und das Leitermuster zusammen eine
im wesentlichen ebene Oberfläche haben, um weitere siebgedrucktt Muster zur Herstellung der mikroelektronischen Schaltung aufzunehmen.
Eine mikroelektronische Schaltung mit mindestens drei auf einer
Unterlage übereinanderliegenden Schichten ist gemäß der Erfindüng dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der Schichten aus einem siebgedruokten Leitungemuster und einem siebgedruckten Isoliermuster besteht, daß das siebgedruckte Isolierauster im wesentlichen komplementär zum siebgedruckten Leitungemuster verläuft, so daß Druckfarbenbereiche des Isoliermusters
an Druckfarbenbereiche des Leitermusters angrenzen, ohne diese zu überlappen, und daß das Isoliermuster und das Leitermuster
eine im wesentlichen ebene Oberfläche haben, auf die obere Schichten der Schaltung siebgedruckt sind.
Ein typisches Ausführungsbeispiel gemäß der Erfindung kann aufweisen eine Isolierunterlage mit einer im wesentlichen
ebenen Oberfläche, ein erstes Netzwerk oder Leitungsmuster aus Leitermaterial und ein erstes Isoliermueter aus Isolierstoff, die beide auf der im wesentlichen ebenen Oberfläche
ausgebildet sind, so daß das Leitermuster das Isoliermuster begrenzt und beide zusammen eine im wesentlichen ebene Oberfläche haben, ferner eine Schicht aus einem Isolierstoff
mit im wesentlichen konstanter Dicke, die auf dem ersten Leitermuster und Isoliermuster aufgetragen ist und sich über
diese erstreckt, aber einige Abschnitte des ersten Leitermusters freiläßt, und ein zweites Netzwerk oder Leitermuster
0 0 9 811/1313
aus einem Leitmaterial, das auf der Sohioht aufgetragen ist
und eioh über diese erstreokt, um einen Anschluß an freiliegenden
Abschnitten des ersten Leitermusters herzustellen. Die Isolierstoffschicht kann mit einer Lochverteilung versehen
sein, wobei sich jedes Loch an einer Stelle befindet, an der eine Verbindung vom ersten Leitermuster zum zweiten Leitermuater
erforderlich ist, und in jedem Loch kann Leitermaterial
niedergeschlagen werden, um die erforderliche Verbindung zwischen den Schichten ΙιβΓζμθΐβΙΙβη.
Falls eine Einrichtung auf einem Halbleiter-Chip oder -Stück
an der Schaltung befestigt werden soll, kann ein Loch in jedem aufgebrachten Muster und jeder aufgebrachten Schicht vorgesehen
sein, um eine Aussparung zu bilden, in dl· das Chip eingesetzt werden kann, wobei dessen freiliegende Kontaktflächen nach oben
zeigen. Die Verbindungen mit dem Chip können dann durch anhaftendes Verbinden kurzer Verbindungsdrähte mit den Kontaktflächen
des Chips und den freiliegenden Kontaktflächen eines Leitermusters in der obersten Sohioht der Schaltung hergestellt
werden.
Ss ist üblich, jede siebgedruckte Schicht einer Wärmebehandlung
BU unterziehen, um das Lösungsmittel oder das verwendete Siebdruckmittel
auszutreiben und das gedruckte Isolier- oder Leitermaterial
vor dem Aufbringen der nächsten Schicht zu stabilisieren.
Für den Isolierstoff enthält die Druckfarbe gewöhnlich
feinpulverisierte Teilchen einer niedrigschmelzenden. Glasur,
die durch die Wärmebehandlung zusammenschmilzt. Das Zusammeneohaelzen
der Glasur darf jedoch nicht zu einer größeren Verwerf «ng dee ßchaltutigemustere führen. Bei üblichen Glasuren
ist eine «ehi? genaue Steuerung der Wärmebehandlungstemperatur
erforderlich, um Verwerfungen eu vermeiden, und es ist praktisch
unmöglich o*r zumindest äußeret schwierig, die Genauigkeit eines
Ieolitrmu*ters während der V£i*a· behandlung aufrechtzuerhalten.
009811/1313
Ee let jedoch Möglich und nicht übtrmäiig tohwitrig, di· für
dit Irfladung notwtnäigtn gtnautn Itolitrtohiohttn währtad
•ufiriedtnsttlltnd stabilititrtndtr Vävatbthandlunft» su
unterhalten, wenn «in geeigntttr Isolierstoff wit der in der
anhängigen deutschen Patentanmeldung J 18 09 572.2 der gltiohen Anmelderin verwendet wird· Sie'Verwendung einea derartigen Isolierstoffs ermöglioht auoh tragbare Toleranzen der
Wärmebehandlungstemperatur.
Der Isolierstoff, der in der deutsohen Patentanmeldung
P 18 09 572.2 beschrieben ist, ist eine Glasurvsrbindung, die mit einem Anteil von !Teilchen eines feuerfesten Oxyds gemischt
ist, der ausreicht, um die Fluidität des Isolierstoffs beträchtlich geringer als die Fluidität der Glasurverbindung
selbst innerhalb eines Temperaturbereichs zu machen, der sich von der Temperatur, bei der das Zusammenschmelzen der Glasurverbindung beginnt, bis zu höheren Temperaturen erstreckt. Die
Teilohen bestehen vorzugsweise aus einem Oxyd, das in die Glasurverbindung diffundiert, aber nioht einschmilzt, wenn es
geschmolzen ist, und dadurch die Sohmelatemperatur der Glasurverbindung während längerer oder aufeinanderfolgender Wärmebehandlungen auf Werte bringt, die für tin Zuiammensohaelaen
der Glasurverbindung autreicht. SIt feuerfesten Oxydteilchen
können aua tin·» der folgenden Oxyde allein oder in Mitohung
btstthtni Aluminiumoxid» BtrylliUMOxyd, 2irkottoxyd, Oaloiueoxyd odtr Magnteiuaoxyd natürliohe* oder »yn-fchetleohett U*-
tfrungtt und Torsugtweitt 10 - 40 Jl *t# Itelierttofft autmaoht*; wit bereite in der Ott« »rw«im*em fattmtam^l*Mm«
angtgttt» itt* Sit aiaturrtr¥imd»mf kam« a*t irftmetlmt* «lat
odtr ti*e» aiaemitthuuf tt«ttlit*i Ait »it «es Ttrwe»4ttt» 0xy4-ttilchtn Ttrtriflioh itt und ia lit *at Oxyd -wie «|*m
ttttftzlttta » 4iffundij»t. Ut Itellertttff «it« »it eint«
fttitatttn Bi«li4tuek»ittel feetetht, fctitfitlmitt timt»
erganiethtn Träferflftttii«·!*, Üt 4w*ek
009111/1313
ausgetrieben werden kann» um «in· Drucket*· su Bilden· &t·
!•ilohen der Glaaur und de* OxjAa aUaeea fein f*attf aein, ua
iitroh i·· lie» dir Si*»«»u*k¥*»»ieatu*i m f«kte, Ii* Mbi«i
tjpiaoherweia* tin·« DuTOhAeaaer tob 2 · 3Oyttaufw*la*a.
Yl* bereite erwähnt wurde, kann der Anteil der Ozjdtellohen
Torzugewelae 10 - 40 Oew.-jt betragen. Offensichtlich können
■ehr kleine Anteile der Oxydteilohen eine ungenügende Wirkung
zeigen, um eine vertretbare Toleranz der Warmebehandlungetemperatur einzustellen. Hohe Anteile der Oxydteilchen kOnnen
die Schmelztemperatur unerwünaoht erhöhen, die zum Zuaanunenaohmelzen der Glasur notwendig ist.
Die Erfindung soll anhand der Zeichnung näher erläutert werden.
Es zeigern
Fig. 1(a), 1(b) und 1(o) echematieohe Schnitte durch einen.
!Teil einer mikroelektronischen Schaltung während verechiedener
Hersteliungastufen, hergestellt gemäS b«kmniitan Yertahreni
Fig. 2(e), 2(b) und 2(o) schematiaohe Schnitte durch einen
fell einer mlkroelektroniaohen Schaltung gemäi der Erfindung
wfthrend Yertchiedener Herstellungaatuftni und
3 «inen »ob.em*ti»cß*n Schnitt, an» de» di# Halterun«
eine· Halbleiter-Ghlpe im ein·· ϊ· 11 »!ηβ* aikro*l*3fk*oisiacii»a
SehaltuB« «tsltl der lrfim*u»# eraitiitlieh i#*t-
Die |i | »ioÄmmm« let ι | •^«soÄdere iat <^e ^; |
Sie*· | ie* f***u«fct< | i^t f*i«i«ha«t0 : 1 |
**·*:< | ϊ(») teift i» | 4·* f»il «1*·« #ili; |
. UUm | n**et«*» ist, | fWMrtlftf« f fe» /'r- ^ |
I iat, »«* t»] | Si·»*»««*«* eiaey | |
■ |
- -. - - -
BADORiQfNAL |
|
li#]|t »al*t*taa»i | ||
i«: lekiekt·« ft««» | ||
SeMsI tt. ftitteM £* | ||
te* a»f: IiM Wtm | ||
* Itolitrsohioht darauf gtaäB tinea bekannten Verfahren. Eine
Wallt 4 wird gtgtn tin Sieb 3 der Biebdruckvorrlohtuug gepreßt
und darüber Ton linkt nach rechts In der Zeichnung gtiogen,
ua Druckfarbe 6 duroh dat Sieb 3 *uf die Unterlage 2 eur Hertttllung tiner Itolieriohicht 7 eu drücken, die sich wit
gewüntoht Ubtr daa Leiterauster erstreckt, Pig. 1(b) seigt
die fertige Schicht 7 nach dem Drucken»
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß die Menge der aufgetragenen Druckfarbe kritisch von dtm Zwischenraum zwischen
dtr freien Lage des Siebs 3 und der zu bedruckenden Fläche, dem Druck, alt dta dit Waist 4 gtgen das Sieb 3 gepreßt wird, und
Ton der Konsltttns der Druckfarbe neben anderen möglichen
Variablen abhängt· Dit Dicke des Leiters 1 ändert den Zwischenraum und abglicherweite auoh den AnpreSdruok, wenn die Waise
Ubtr dtn Leiter t rollt· Infolgedessen bleibt die Isolitreohioht 7 an den Stellen, an dtntn alt übtr tlntn Leiter
verläuft, unttr ihrer Itnndiokt, was aus Fig. 1(b) trtiontlioh
itt.
* Bei tlntr In dtr Praxis auegeführten Schaltung sjLnd la allgeatlntn cwti oder aehr Ltittrausttr alt isolierten übtrkreusungtttellen erforderlich. Daher kann ein sweittt Ltittrausttr
auf dit Ieoliereohioht «itbgtdruokt werden, und eint «weite
Itolitrtohloht und tin drittes Leitermuster können anschließend
gewiintohttnfalls aufgedruckt werden.
flg. 1(o) ttigt tlntn Qutrtohnltt diagonal duroh tint itolltrte
Obtrkrtutungtttellt, an dtr tin Ltlter 8 einet swtiten Leiter«
auetere den Leiter 1 dta trtttn Leiteraueters übtrkreutt, dtr
Toa Leiter 1 duroh einen dünnen Bereich dtr lioliereohicht 7
* ^ itoliert 1st· line aweite leoliereohioht 9 befindet «loh aber
„ ftta avtltta Leitermueter» It itt leicht ersiohtlioh, dal dit
überlade rung der beiden Leiter 1 und 8 la tJberkreueungebereioh
. «ine »etrmohtliohe Variation dtt Iwitohtnrauat ewitohen Bieb
i^ 00Ü11/1313
und Druckfläche bewirkt und die Gefahr einer beträchtlichen t
Verringerung der Dicke der zweiten Isolierschicht 9, wo sie den überkreueungsbereich durchläuft, mit sich bringt.
Fig. 2(a), 2(b) und 2(c) zeigen Einzelheiten eines AueführungebtiapielB gemäß der Erfindung, bei dem die oben erwähnten unerwünschten Di okeeohwankunge η de· gedruckten Material· im wesentlichen vermieden werden.
# ■■ " . ■
das auf die ebene Oberfläche einer keramischen Unterlage 12 gedruckt ist, was an sich bereite bekannt ist* Fig. 2(b) zeigt
Teile 13 tines Iiolitrmusttrs, da· auf die Struktur von Fig.
2(a) gedruckt ist. Eb ist ersichtlich, daß da· Ieolitrmuetor
im weesntlichen komplementär zum Leitermueter verläuft« so daß
die Druckfarbenflachen des Ispliermueters an die Druckfarben-'
flächen dtβ Leiterauster· angrenzen, aber diese niont überlappen, und das Ieoliermuster und dft· Leitermueter eine im
wesentlichen ebene Oberfläche zum weiteren Bedrucken bilden.
Weitere Sohiohten, die jeweils ein Leitermunter und ein Isoliermueter aufweisen oder in manchen Fällen nur aus einer Isolierschicht bestehen, die gewisse Kontaktflächen de· darunterliegenden Leitermueters frei läßt, können durch Bedrucken der
Struktur von Fig· 2(b) hergestellt werden.
Fig. 2(o) zeigt einen fell einer Schaltung aus drei Schichten,
die jeweils ein Ltitemuster und ein Isoliermueter aufweisen.
Links in der Zeichnung ist gtnautr tine Verbindung ewiechen
tinte Leiter H itt dtr ewtittη Schicht und des Ltittr 10
der ersten Schicht gtceigt. Rechte in Fig. 2(o) ist feuautr
eint ieolitrtt ÜbtrkrtUBungssttllt gezeigt* Link· in Fig. 2(o)
wird dit erfordtrliche Ttrbindung einfach durch Drucken dt·
LtiWr· H auf tint frei litgtnde Oberfläche de· Leiter· 10,
us diesen zu kontaktieren, hergeetellt. Rechte In Flg. 2(o)
009811/1313
wird der Leiter 11 der ersten Schicht durch einen Abschnitt 15
des Isoliermusters der zweiten Schicht bedeckt, die den Leiter 14 unterbricht. Die beiden Teile dee Leiters 14· sind durch eine
Brücke 16 verbunden, die Teil des Leitermusters in der dritten Schicht ist.
In manohen Ausführungsbeispielen kann das Iaoliermuster der
zweiten oder irgendeiner Zwischenschicht einfach als Folie mit einer Verteilung von Löchern an den Stellen, an denen
Durchgangsverbindungen gewünscht sind, ausgebildet sein,
und die kleinen Löcher für diese Durchgangsverbindungen können mit einem Leitermaterial ausgefüllt werden, während das
Leitermuster der nächsten Schicht in einem einzigen Druckvorgang aufgedruckt werden kann,,
Einrichtungen, die auf getrennten Halbleiter-Chips hergestellt
sind, können in der Schaltung gemäß Fig. 3 befestigt werden. Ein loch- oder druckfarbenfreier Bereich ist in jedem Muster
jeder Schicht vorgesehen. Diese Bereiche, die miteinander fluchten, bilden eine Aussparung, in der ein Chip 20 montiert
werden kann, wie aus Fig. 3 ersichtlich ist. Das Chip 20 kann einfach in die Aussparung gesetzt werden, wird aber vorzugsweise
an der Unterlage 12 durch einen geeigneten Kleber, z.B. ein Epoxydharz, oder durch eine Goldlegierungabindung anhaftend
befestigt. Leiter 21 in der obersten Schicht der Schaltung sind mit Kontaktbereichen an der Oberfläche des Chips 20 durch kurze
Verbindungsdrähte 22 verbunden. Die Drähte 22 werden mit den Leitern 21 und den Kontaktbereichen des Chips durch, übliche
Wärme-Druck-Behandlung anhaftend verbunden.
Die in Fig. 2 und 3 gezeigten Schaltungen wurden auf Aluminiumoxydunterlagen
mit einer Dicke von 0,6 mm und mit einer Oberfläche nrauhhe it von 0,5yU. hergestellt. Die Leitermuster wurden
mit einer goldmetallisierenden Paste, nämlioh der Hanovia
009811/1313
Paste Gold Nr. 8637 der Engelhard Industries Ltd., gedruckt. Nach dem Drucken wurde jede· Muster bei 150 0C getrocknet und
bei 850 0O für 10 min wärmetoehandelt. Der verwendete Isolierstoff
war eine Mischung von 80 Gew.-?i Glaeurpulver und 20
Gew.-# Aluminiumoxydpülver. Das Glasurpulver war ein Borosilikatglas
(Nr. 13620 der Blythe Colours ltd.)» während das Aluminiumoxyd eine maximale Teilchengröfle von 2 Z-c-hatte (geliefert
von Sherman Chemical Ltd.). Das Gemisch von Glasur und Aluminiumoxyd wurde mit einem gleichgroßen Volumen einer
inerten Flüssigkeit gemischt, um eine als Siebdruckfarbe geeignete
Paste zu ergeben. (Die Flüssigkeit wurde von der Blythe Colours Ltd. unter der Bezeichnung "Siebmittel N485"
geliefert). Nach dem Drucken wurde jedes Isoliermuster bei 150 0C getrocknet und dann bei 850 0C 10 min lang wärmebehandelt.
Jedes Muster war etwa 0,025 mm dick. Löcher für die Durchgangsverbindungen wurden als im wesentlichen rechteckige
Fenster mit im wesentlichen einer Breite von 0,25 mm und einer
Länge von 0,6 mm hergestellt. Löcher mit einer Breite von 1,25 mm und einer Länge von 1,25 mm wurden zur Herstellung von
Aussparungen für die Halbleiter-Chips gemäß Fig. 3 verwendet.
In Abwandlung des eben beschriebenen Verfahrens wird das erste
zu druckende Muster von zwei eine Schicht bildenden Mustern nur getrocknet, wonach das komplementäre Muster gedruckt, getrocknet
und geprüft wird, und anschließend werden beide Muster der geeigneten Wärmebehandlung (850 0C für 10 min bei Verwendung
der eben angegebenen Werkstoffe) in einem einzigen Arbeitsgang unterzogen.
Die erforderliche Wärmebehandlungstemperatur und -zeit hängen
von den verwendeten Werkstoffen ab.
009811/1313
Claims (1)
- PatentaneprüoheKlkroilektronlföht Schaltung au· mindesten· drei Bohlohten, die duroh aufeinanderfolgendeβ Siebdrücken unter Verwendung von •lekirUoh·· Leitermaterial and elektrieohem Ieolieretoff als Druckfarben hergestellt Bind, dad u roh g β k · η η -■•lohnt t, daß uindtettne eine Sohioht der Schaltung aus •int» liti^»rMuettr (10, 11) und eine« Isolieraueter (13) beateht* da« i« weeentliohen koepleatntär zu dea Leitemueter (10» 11) TerlKuft, eo daB Druokfarbenbereiohe des Ieolier-■u*t»r· (13) an Druckfarbenbereiche dee Leitereuetere (10, 11) anfr«n*«nf ab«r di··· nioht überlappen, und da· ieolieraueter (19) uad da· iAiteraueter (10, 11) cueaaaen eine in weeentliohen •bene Ob·rfIKehe tür Aufnahae weiterer eiebgedruokter Muster (U- 16) 4·Γ »ikroelektronieohen Schaltung «eigen.2, Mlkro#l«ktroal*ohe Sohaltung nach Anepruch 1, d ad u r c h (tkiDDti lohn· t, daS In jedeia Mueter jeder Sohioht ■indeat·!!· ein druokfarbenfreier Bereioh dort rorhanden iet, wo ·In· Itnrlchtunt *uf tin·* Halbl·iter-Ohip (20) an der ßohaltUtt« b*fe»tlgt werden eoll, ·ο daB di· druokfarbenfreien : BeraUh· «la· ÄMieparung für die Aufnahae d·· Ohlp· (20) bilden, ] uaÄ ta· fertiatttagen (22) Ton den KontaktfHlohen auf dea Ohip ' ■ , (80} au fnUiiiliAii I^lterMterial (21) in der ober«ten ψ B#|il<iht ,fPtir Schaltung hergeetelit aind.-»·■'■009811/1313Leerseite
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB42381/68A GB1276095A (en) | 1968-09-05 | 1968-09-05 | Microcircuits and processes for their manufacture |
GB4238068 | 1968-09-05 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1945170A1 true DE1945170A1 (de) | 1970-03-12 |
Family
ID=26264888
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19691945170 Pending DE1945170A1 (de) | 1968-09-05 | 1969-09-05 | Mikroelektrische Schaltung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3622384A (de) |
DE (1) | DE1945170A1 (de) |
FR (1) | FR2017464A1 (de) |
GB (1) | GB1276095A (de) |
NL (1) | NL6913521A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0111152A2 (de) * | 1982-11-09 | 1984-06-20 | F & O Electronic Systems GmbH & Co. | Verfahren zur Herstellung elektronischer Schaltelemente und/oder Schaltungen in Vielschicht-Dickfilmtechnik (Multilayer Thick Film Technology) auf einem Substrat und dergestalt hergestellte Schaltelemente und/oder Schaltungen |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3838442A (en) * | 1970-04-15 | 1974-09-24 | Ibm | Semiconductor structure having metallization inlaid in insulating layers and method for making same |
US3832769A (en) * | 1971-05-26 | 1974-09-03 | Minnesota Mining & Mfg | Circuitry and method |
JPS4835778A (de) * | 1971-09-09 | 1973-05-26 | ||
JPS4834686A (de) * | 1971-09-09 | 1973-05-21 | ||
JPS5123870B2 (de) * | 1972-10-02 | 1976-07-20 | ||
GB1445591A (en) * | 1973-03-24 | 1976-08-11 | Int Computers Ld | Mounting integrated circuit elements |
US4023197A (en) * | 1974-04-15 | 1977-05-10 | Ibm Corporation | Integrated circuit chip carrier and method for forming the same |
US3934335A (en) * | 1974-10-16 | 1976-01-27 | Texas Instruments Incorporated | Multilayer printed circuit board |
US4045636A (en) * | 1976-01-28 | 1977-08-30 | Bowmar Instrument Corporation | Keyboard switch assembly having printed circuit board with plural layer exposed contacts and undersurface jumper connections |
US4306925A (en) * | 1977-01-11 | 1981-12-22 | Pactel Corporation | Method of manufacturing high density printed circuit |
US4445274A (en) * | 1977-12-23 | 1984-05-01 | Ngk Insulators, Ltd. | Method of manufacturing a ceramic structural body |
US4544989A (en) * | 1980-06-30 | 1985-10-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin assembly for wiring substrate |
US4576900A (en) * | 1981-10-09 | 1986-03-18 | Amdahl Corporation | Integrated circuit multilevel interconnect system and method |
US4479991A (en) * | 1982-04-07 | 1984-10-30 | At&T Technologies, Inc. | Plastic coated laminate |
US5220488A (en) * | 1985-09-04 | 1993-06-15 | Ufe Incorporated | Injection molded printed circuits |
AU6285386A (en) * | 1985-09-04 | 1987-03-24 | Allen-Bradley International Ltd. | Manufacture of electrical circuits |
US5278429A (en) * | 1989-12-19 | 1994-01-11 | Fujitsu Limited | Semiconductor device having improved adhesive structure and method of producing same |
US5176771A (en) * | 1991-12-23 | 1993-01-05 | Hughes Aircraft Company | Multilayer ceramic tape substrate having cavities formed in the upper layer thereof and method of fabricating the same by printing and delamination |
US5285690A (en) * | 1992-01-24 | 1994-02-15 | The Foxboro Company | Pressure sensor having a laminated substrate |
US5315485A (en) * | 1992-09-29 | 1994-05-24 | Mcnc | Variable size capture pads for multilayer ceramic substrates and connectors therefor |
US5527998A (en) * | 1993-10-22 | 1996-06-18 | Sheldahl, Inc. | Flexible multilayer printed circuit boards and methods of manufacture |
US5656081A (en) * | 1995-06-07 | 1997-08-12 | Img Group Limited | Press for printing an electrical circuit component directly onto a substrate using an electrically-conductive liquid |
US5758575A (en) * | 1995-06-07 | 1998-06-02 | Bemis Company Inc. | Apparatus for printing an electrical circuit component with print cells in liquid communication |
EP0857348A4 (de) * | 1995-10-07 | 2000-07-05 | Bemis Co Inc | Mit einer auf einem substrat gedruckten leitfähigen flüssigkeit hergestelltes bauteil für elektrische schaltungen |
US6248964B1 (en) | 1999-03-30 | 2001-06-19 | Bourns, Inc. | Thick film on metal encoder element |
US6287890B1 (en) * | 1999-10-18 | 2001-09-11 | Thin Film Module, Inc. | Low cost decal material used for packaging |
US6730857B2 (en) * | 2001-03-13 | 2004-05-04 | International Business Machines Corporation | Structure having laser ablated features and method of fabricating |
AU2002344789A1 (en) * | 2001-06-19 | 2003-01-02 | E.L. Specialists, Inc. | Uv-curable inks for ptf laminates (including flexible circuitry) |
US7615481B2 (en) * | 2006-11-17 | 2009-11-10 | Ricoh Company, Ltd. | Method of manufacturing multilevel interconnect structure and multilevel interconnect structure |
EP2291691B1 (de) * | 2008-05-13 | 2017-02-22 | Franck Guigan | Gedruckte optische elemente |
FR2931257A1 (fr) * | 2008-05-13 | 2009-11-20 | Franck Andre Marie Guigan | Reseaux lenticulaires imprimes |
MX2011002323A (es) * | 2008-09-03 | 2011-04-05 | Usg Interiors Inc | Modulo electricamente conductor. |
US9208924B2 (en) * | 2008-09-03 | 2015-12-08 | T+Ink, Inc. | Electrically conductive element, system, and method of manufacturing |
US20100170616A1 (en) * | 2008-09-03 | 2010-07-08 | Usg Interiors, Inc. | Electrically conductive tape for walls and ceilings |
DE202009017825U1 (de) | 2009-02-14 | 2010-09-23 | Luxexcel Holding Bv | Vorrichtung zur Lenkung von Lichtstrahlen |
ES2544128T3 (es) | 2010-06-07 | 2015-08-27 | Luxexcel Holding B.V. | Método para imprimir estructuras ópticas |
DE102010062547B4 (de) * | 2010-12-07 | 2021-10-28 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung einer Schaltungsanordnung |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2692321A (en) * | 1950-12-15 | 1954-10-19 | William M Hicks | Resistor |
US3169892A (en) * | 1959-04-08 | 1965-02-16 | Jerome H Lemelson | Method of making a multi-layer electrical circuit |
US3374110A (en) * | 1964-05-27 | 1968-03-19 | Ibm | Conductive element, composition and method |
US3391454A (en) * | 1965-03-10 | 1968-07-09 | Litton Systems Inc | Shielded etched circuit conductor |
US3317653A (en) * | 1965-05-07 | 1967-05-02 | Cts Corp | Electrical component and method of making the same |
US3434877A (en) * | 1965-07-16 | 1969-03-25 | Rca Corp | Metallic connection and the method of making same |
US3513022A (en) * | 1967-04-26 | 1970-05-19 | Rca Corp | Method of fabricating semiconductor devices |
-
1968
- 1968-09-05 GB GB42381/68A patent/GB1276095A/en not_active Expired
-
1969
- 1969-09-03 US US854934A patent/US3622384A/en not_active Expired - Lifetime
- 1969-09-04 NL NL6913521A patent/NL6913521A/xx unknown
- 1969-09-05 DE DE19691945170 patent/DE1945170A1/de active Pending
- 1969-09-05 FR FR6930378A patent/FR2017464A1/fr not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0111152A2 (de) * | 1982-11-09 | 1984-06-20 | F & O Electronic Systems GmbH & Co. | Verfahren zur Herstellung elektronischer Schaltelemente und/oder Schaltungen in Vielschicht-Dickfilmtechnik (Multilayer Thick Film Technology) auf einem Substrat und dergestalt hergestellte Schaltelemente und/oder Schaltungen |
EP0111152A3 (de) * | 1982-11-09 | 1987-08-05 | F & O Electronic Systems GmbH & Co. | Verfahren zur Herstellung elektronischer Schaltelemente und/oder Schaltungen in Vielschicht-Dickfilmtechnik (Multilayer Thick Film Technology) auf einem Substrat und dergestalt hergestellte Schaltelemente und/oder Schaltungen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL6913521A (de) | 1970-03-09 |
GB1276095A (en) | 1972-06-01 |
FR2017464A1 (de) | 1970-05-22 |
US3622384A (en) | 1971-11-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1945170A1 (de) | Mikroelektrische Schaltung | |
DE3738343C2 (de) | ||
DE2558361C2 (de) | Verfahren zum Herstellen von durchgehend metallisierten Bohrungen in mehrschichtigen keramischen Moduln | |
DE60001776T2 (de) | Einkapselungsverfahren einer halbleiteranordnung mit einem anisotropisch leitenden klebstoff | |
DE60038276T2 (de) | Vielschicht-Piezoelement und dessen Herstellungsverfahren | |
DE2735484C2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Dickfilm-Varistoren mit Zinkoxid als Hauptkomponente | |
DE3612084C2 (de) | ||
DE3621667C2 (de) | ||
DE3150880A1 (de) | "leitende paste und verfahren zu ihrer herstellung" | |
DE2411259B2 (de) | Verfahren zur Herstellung integrierter Schaltkreise | |
DE112005000014T5 (de) | Innenleiterverbindungsstruktur und Mehrschichtsubstrat | |
DE102007058497A1 (de) | Laminierte mehrschichtige Leiterplatte | |
DE2059919A1 (de) | Transparenter Isolierungswerkstoff fuer den Siebdruck | |
DE4304788A1 (de) | Autoglasscheibe mit einer aufgedruckten Leiterstruktur | |
DE3722576C2 (de) | ||
DE4341867A1 (de) | Verfahren zum Drucken eines Verbindungsmittels | |
DE1907567A1 (de) | Elektrische Schaltungseinheit | |
DE60031943T2 (de) | Verfahren zur herstellung von elektronischen bauteilen | |
DE3717157A1 (de) | Zusammengesetztes elektronisches bauelement mit einem widerstand und verfahren zu seiner herstellung | |
DE3016412A1 (de) | Temperaturabhaengiges elektrisches bauelement und verfahren und material zur herstellung desselben | |
EP1425167A2 (de) | Verfahren zur herstellung eines keramischen substrats und keramisches substrat | |
DE102004047007B4 (de) | Verfahren für das Herstellen eines Keramiksubstrats für elektronische Dünnschicht-Bauelemente | |
DE4103294A1 (de) | Verfahren zum herstellen von elektrisch leitenden durchkontaktierungen in keramiksubstraten | |
DE1646874A1 (de) | Leitfaehige Zusammensetzung | |
DE2028605A1 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OHN | Withdrawal |