CN1955770A - 光学部件、发光装置、以及光学部件的制造方法 - Google Patents

Abstract

一种光学部件，包括：具有纤芯和包层的光纤；连接到所述光纤出口端的光导保持构件；包含荧光物质的波长转换构件；以及设置在所述光纤出口端与所述波长转换构件之间、或所述光导保持构件与所述波长转换构件之间的反射装置。不像利用传统光学部件那样通过降低反射来提高光学输出，而是相反，实际上是通过产生反射来提高光学输出。因此，可以通过除了形成降低菲涅耳反射的光学膜以外的方法来提高光学输出。

Description

光学部件、发光装置、以及光学部件的制造方法

技术领域

本发明涉及一种光学部件和一种使用光纤的发光装置，以及一种光学部件的制造方法，更具体地说，涉及一种可被连接到光纤端部的光学部件、一种发光装置和一种光学部件的制造方法。

背景技术

过去，在试图降低光纤股(optical fiber strand)端面处的菲涅耳反射的努力过程中，提出了这样一种光学部件，其中，光学膜形成在光导保持构件(即套管)的端面上(日本公开专利申请S64-2007)。对于该光学膜，使用了通过真空气相沉积、离子电镀、溅射、或类似方法形成的一层或多层介电膜或金属膜。

然而，现在，在其中使用了光导保持构件的光学部件的领域中，需要进一步提高光学输出，而且，像过去那样仅仅降低菲涅耳反射并不能充分地提高光学输出。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光学部件、一种发光装置、和一种光学部件的制造方法，利用其可以通过除了形成降低菲涅耳反射的光学膜以外的方法来提高光学输出。

本发明提供一种光学部件，包括：

具有纤芯和包层的光纤；

连接到所述光纤出口端的光导保持构件；

包含荧光物质的波长转换构件；以及

设置在所述光纤出口端与所述波长转换构件之间、或所述光导保持构件与所述波长转换构件之间的反射装置。

本发明进一步提供了一种光学部件，包括：

具有纤芯和包层的光纤；

包含荧光物质的波长转换构件；以及

设置在所述光纤出口端与所述波长转换构件之间的反射装置。

此外，本发明提供了一种发光装置，包括：

光源；以及

上述的光学部件，其中，所述光纤被连接到所述光源。

本发明进一步提供了一种光学部件的制造方法，包括步骤：

向连接到光纤出口端的光导保持构件和所述光纤出口侧的端面涂敷掩膜构件；以及

使光入射到所述光纤上，从而在连接到所述光纤出口端的所述光导保持构件和所述光纤出口侧的端面之中，仅有涂敷到所述光纤出口侧处的端面上的掩膜构件跟离开所述光纤的光反应。

本发明还提供了一种光学部件的制造方法，包括步骤：

向所述光纤出口侧的端面涂敷掩膜构件；以及

令光入射到所述光纤上，从而使涂敷到所述光纤出口侧处的端面上的掩膜构件跟离开所述光纤的光反应。

本发明进一步提供了一种光学部件的制造方法，包括步骤：

将连接到所述光纤出口侧端面的导电性光导保持构件、以及所述光纤出口侧的端面浸入电解溶液中；以及

加电流，从而使连接到所述光纤出口侧端面的所述光导保持构件和所述光纤出口侧的端面之中，只有连接到所述光纤出口侧端面的所述光导保持构件被电镀。

利用本发明，不像利用传统光学部件那样通过降低反射来提高光学输出，而是相反，实际上是通过产生反射来提高光学输出。因此，可以通过除了形成降低菲涅耳反射的光学膜以外的方法来提高光学输出。

本发明可被用在其中使用了光纤的所有发光装置中。

附图说明

图1是属于本发明实施例的光学部件的示图；

图2是说明光学部件的功率P1和P2的测量方法的图；

图3是说明光导保持构件端面上的反射装置的形成方法的图；

图4是说明光导保持构件端面上的反射装置的形成方法的另一个例子的图。

具体实施方式

现在将通过参照附图详细描述实施本发明的最佳方式。

在图1a和图1b中示出了属于本发明实施例的光学部件。

如图1a中所示，属于本发明实施例的光学部件包括：连接到光纤7出口端的光导保持构件1(即套管)；包含荧光物质的波长转换构件4；设置在光纤7出口端与波长转换构件4之间的反射装置5；以及密封波长转换构件4和光导保持构件1的密封构件6。这里，反射装置5可被设置在光导保持构件1与波长转换构件4之间，而且，对于波长转换构件4，例如，可使用包含荧光物质的树脂。对于密封构件6，例如，可使用树脂。本发明在波长转换构件4和密封构件6的材料、尺寸等方面不以任何方式被限定。多种荧光物质的例子包括：(i)碱土金属卤素磷灰石(alkali earthmetal halogen apatite)，(ii)碱土金属卤素硼酸盐(alkali earth metal boratehalogen)，(iii)碱土金属铝酸盐，(iv)氧氮化物或氮化物，(v)碱土硅酸盐和碱土氮化物硅酸盐，(vi)硫化物，(vii)碱土硫代镓酸盐，(viii)锗酸盐(germinate)，(ix)稀土铝酸盐，(x)稀土硅酸盐，(xi)由镧系元素如Eu初级激活的有机化合物或者有机配合物等。树脂可以是例如无机物质如无机玻璃、氧化钇溶胶、氧化铝溶胶或二氧化硅溶胶；或者有机物质如下列中的一种或多种：聚烯烃树脂、聚碳酸酯树脂、聚苯乙烯树脂、环氧树脂、丙烯酸类树脂、丙烯酸酯树脂、甲基丙烯酸树脂(PMMA等)、氨基甲酸酯树脂、聚酰胺树脂、聚降冰片烯树脂、氟化树脂、有机硅树脂、改性有机硅树脂、改性环氧树脂以及液晶聚合物等。

当上述光学部件被连接到光纤7、且光被允许从光源(未示出)传播通过光纤7的时候，来自光源的光传播通过光纤7，并入射到波长转换构件4上。入射到波长转换构件4上的光的一部分激励荧光物质，产生了波长跟离开光纤7的光不同的光。所述波长不同的光跟已经通过波长转换构件4而没有激发荧光物质的、来自光纤7的光结合，而且，该结合光离开光学部件。

图1b是沿图1a中的线A-A’的截面视图。

如图1b中所示，对于本实施例的光学部件，反射装置5覆盖光纤7出口侧端面处的、光导保持构件1的端面的全部。因此，即使已经离开光纤7的光被波长转换构件4或其他构件所反射、并返回到光导保持构件1侧，或者，如果由包含在波长转换构件4内的荧光物质所发射的光射向光导保持构件1侧，该光将会被反射装置5所反射，防止其入射在光导保持构件1内。因此，利用该实施例，由波长转换构件4产生和反射的光入射到光导保持构件1上时所产生的光损失(因晕光而导致的光学输出的降低)被减小，光学输出能够被提高。

依照本实施例的反射装置5并不旨在降低光纤7端面上的菲涅耳反射，而是旨在降低由波长转换构件4产生和反射的光入射到光导保持构件1上时所产生的光损失(因晕光而导致的光学输出的降低)，因此，反射装置5形成在光导保持构件1在波长转换构件4侧的端面上。然而，即使形成反射装置5允许由晕光而导致的光学输出降低被抑制，但是，在光纤7出口侧的端面可能被阻挡，因此，这实际上可能导致较低的光学输出。考虑到这一点，在本实施例中，被反射装置5所覆盖的是光导保持构件1在光纤7出口侧端面处的端面的全部，并且，光纤7出口侧的端面并没有被反射装置5所覆盖。如果能够覆盖光纤7端面的包层7-2部分的话，则优选覆盖它的部分或全部。其原因在于，在光纤7所具有的纤芯7-1和包层7-2中，传播通过光纤7的光只通过纤芯7-1部分，因此，即使包层7-2部分被反射装置5所覆盖，应该从光纤7出射的光最终并不会被反射装置5所反射。然而，如果光导保持构件包括反射光的材料、如银或铝的话，那么，即使光导保持构件1端面的全部或部分并没有被反射装置5所覆盖，只要光纤7端面的包层7-2部分的全部或部分被覆盖，光在光导保持构件上的入射可被降低，并且，光学输出可被提高。

在本实施例中，优选用反射装置5覆盖在光纤7出口侧端面处除纤芯部分以外的所有部分，在这些地方，从光纤7出射的光或由波长转换构件4产生和反射的光可入射在光纤7的出口侧。

在本发明中，“光导保持构件或光纤被反射装置覆盖”应被应用于满足以下两个条件中任何一个的所有情况。

(1)存在反射装置

通常，通过使用电子显微镜或类似物可以确定是否存在反射装置，但是，依赖于电子显微镜或类似物，可能并不能确定是否存在这样的装置，在这种情况中，这意味着在光学部件中的任何地方检测到能够起到反射装置作用的物质。在本发明中，只要该物质起到了反射装置的作用，它的名称并不重要，而且，所有这样的物质可充当反射装置。

(2)光学输出变化

这里，术语“光学输出”是指当一定的激发光在波长转换构件被设置在光纤出口端处的状态下入射时，从光纤出口端出射的光的能量。一般通过这样的方法来进行测量，在该方法中，光纤出口端被插入积分球，并且，利用分光光度计、热量计、光电二极管、或类似物来测量积分光的能量。

如果属于本发明的反射膜位于本发明中所指定的位置，则入射在光导保持构件上的光量可在光纤出口端处被降低，因此，光学输出会更高。因而，如果光学输出依赖于是否存在被认为是上述(1)中的反射装置的物质而变化的话，那么，待分析的光学部件将满足本发明中所指定的“光导保持构件或光纤被反射装置覆盖”的条件。

在本发明中，如果当存在被认为是上述(1)中的反射装置的物质时光学部件的功率P2和当不存在这样的物质时的功率P1满足以下关系，应认为光纤的纤芯部分没有被反射装置覆盖：

P2/P1×100≥50

因此，即使一开始确定了光纤的纤芯部分被反射装置覆盖，如果满足上述关系的话，那么，对于本发明而言，应认为“光纤的纤芯部分没有被反射装置覆盖”。

现在将通过参照图2来描述光学部件的功率P1和P2的测量方法的例子。

如图2中所示，在该测量方法中使用了发光装置16和功率计15。发光装置16包括：光源17，例如激光二极管或发光二极管；主纤维11；以及待测量的纤维12，纤维12通过对开套管13跟主纤维11对接。主纤维11的数值孔径大于待测量纤维12。具有光导保持构件、波长转换构件、或类似物的光学部件14被连接到待测量纤维12的端部。该发光装置16的出口光(即，在图2中从光学部件出来的光)利用功率计15来测量。

例如，其中没有反射装置的光学部件被连接到其上的光纤被选定为待测量光纤，而且，该功率被测量并被称作P1，转而是其中有反射装置的光学部件被连接到其上的光纤，并且，该功率被测量并被称作P2。在本发明中，测量的顺序并不重要。

从上面可以清楚地看到，在本发明中，“覆盖”的概念不同于“接触”的概念，而且，本发明的反射装置并不一定要接触光纤、光导保持构件、或波长转换构件。然而，在本发明中，如果反射装置接触在光纤出口侧的端面的全部或部分的话，那么，在光纤的纤芯部分内产生的任何热量将通过反射装置分散到包层内，因此，光学部件将具有更好的耐热性。同时，如果反射装置接触光导保持构件端面的全部或部分的话，则在光导保持构件的一部分内所产生的任何热量能够通过反射装置分散到整个光导保持构件内，而且这再次提高了光学部件的耐热性。进一步，如果反射装置接触波长转换构件端面的全部或部分的话，在波长转换构件的一部分内所产生的任何热量能够被分散到整个波长转换构件，或被分散到反射器、凸缘、或类似物，并且，这再次提高了光学部件的耐热性。如果反射装置既接触光导保持构件或光纤、也接触波长转换构件的话，则在波长转换构件内产生的任何热量能够逸出到光导保持构件或光纤，而且，这再次提高了光学部件的耐热性。

如果用于降低菲涅尔反射的光学构件被设置在光纤或光导保持构件与波长转换构件之间的话，那么，反射构件将能够阻止光入射在光导保持构件或光纤上，并且，菲涅尔反射也能够被降低。菲涅尔反射光学构件优选仅被提供给在光纤出口侧端面处的纤芯部分。

以上是对反射装置5覆盖光纤7或光导保持构件1的端面时的描述，但是在本发明中，除了覆盖光纤7或光导保持构件1的端面以外，反射装置5还可连续覆盖跟光导保持构件1的端面邻接的表面，例如，反射器3的开口表面(图1a中的3’)。如果这样的话，反射装置5将也能够反射入射到产生在光导保持构件1的端面与跟光导保持构件1的端面邻接的表面之间的间隙内的光，因此，光学输出将高于只有光导保持构件1或光纤的端面被反射装置5覆盖时的光学输出。

如果反射装置反射光的话，则其不以任何方式受到限定，但是，该反射装置优选为这样的构件：该构件反射波长跟离开光纤的光的波长相等的光，以及波长跟由包含在波长转换构件内的荧光物质发射的光的波长相等的光(例如反射波长在350与800nm之间的光的构件)。该构件优选反射等量的各个波长的光。更具体地说，优选金属膜或介电多层膜，而且，更具体地说，优选银(Ag)或铝(Al)。

加工示例1

图3是光学部件的制造方法的图。

现在将通过参照图3来描述这种光学部件的制造方法。

首先，用抗蚀剂20涂覆光导保持构件1连接到光纤7出口侧端面的端面以及光纤7出口侧的端面(步骤1-1)。在实施涂覆之后，加热抗蚀剂20。所述加热操作优选在大约90℃下进行约30分钟。

接着，允许光21传播通过光纤7，并使覆盖光纤7出口侧端面的抗蚀剂20曝光(步骤1-2)。在该步骤中，在光导保持构件1的端面和光纤7的端面中，仅有光纤7的端面部分会被暴露到光下，在这种情况中，一种可能的方法是通过光掩膜从光纤出口侧(图3中的右手侧)曝光。然而，利用这种方法，光纤的端面并不能被精确地曝光，这是因为在其他原因之中，不能够以期望的精度控制掩膜的形状、光导保持构件的设置等。在该步骤中，并没有使用光掩膜从光纤的出口侧(图3中的右手侧)曝光，而是决定令光从光纤的入射侧(图3中的左手侧)传播通过光纤。这样做允许了覆盖光纤出口侧端面的抗蚀剂被精确地暴露于离开光纤的光下。

然后，光导保持构件1被烘焙(步骤1-3)。覆盖光纤7出口侧端面的抗蚀剂20通过步骤1-2中的曝光而被改变成为易于在碱溶液中溶解的抗蚀剂20a，并且，通过上述烘焙操作被改变为抗拒在碱溶液中溶解的抗蚀剂20b。对于烘焙温度和持续时间并没有具体的限制，但是烘焙操作优选在105℃下进行10分钟。

然后，光导保持构件1的整个表面被暴露于光26下(步骤1-4)。这导致除了覆盖光纤7出口侧端面部分的抗蚀剂20a以外的抗蚀剂20b被改变成为易于在碱溶液中溶解的抗蚀剂20a。对于曝光光26的波长并没有具体的限制，但是曝光优选在适合于抗蚀剂敏感度的波长下进行。

然后，用碱溶液清洗光导保持构件1，并用水对其进行漂洗(步骤1-5)。这将去除除了覆盖光纤7出口侧端面部分的抗蚀剂20b以外的抗蚀剂20a，但是如图3所示，即使在碱清洗和水漂洗之后，仍然有一定量的抗蚀剂23残留在光导保持构件1上。碱清洗和水漂洗还使一定量的水22残留在光导保持构件1上。在该实施例中使用了碱清洗和水漂洗(步骤1-5)，但是在步骤1-5和1-6中，可使用允许从除光纤出口侧端面处以外的所有地方去除抗蚀剂的任何方法。

然后，加热光导保持构件1(步骤1-6)。这去除残留在光导保持构件1表面上的水22。对于加热条件并没有具体的限制，但是优选在真空中100℃下进行5分钟的加热操作。

然后，清洗光导保持构件1(步骤1-7)。这从光导保持构件1的表面去除残留的抗蚀剂23。上述清洗操作可通过任何方法来完成(例如O2灰化)，只要这种方法允许从光导保持构件的表面去除残留的抗蚀剂即可。

然后，用于反射装置5的膜5a形成在光导保持构件1的表面上(步骤1-8)。对于形成膜5a的方法并没有限制，但是例子包括气相沉积、溅射和电镀。

然后，用剥离液、丙酮或类似物去除覆盖光纤7出口侧端面部分的抗蚀剂20b(步骤1-9)。

结果，在光导保持构件1的端面和光纤7出口侧的端面中，反射装置5可以只形成在光导保持构件1的端面上(或除光纤纤芯以外的所有部分上)。

利用上述方法，由于在步骤1-2中入射在光纤7上的光，在连接到光纤7出口端的光导保持构件和光纤7出口侧的端面之中，只有覆盖光纤7出口侧端面的抗蚀剂被暴露于离开光纤的光下，因此，能够在光导保持构件的端面上精确地形成不覆盖光纤7出口侧端面的反射装置。

在采用步骤1-2时，在反射装置中形成了跟光纤直径尺寸基本相同的呈锥形的孔。然而，如果对除了步骤1-2以外的步骤进行修改、增加、删除等，则所述孔可以不是锥形的。因此，本发明并不仅限于其中形成了锥形孔的反射装置。

在本发明中，可不执行曝光，而通过使用UV固化树脂、热固树脂、或其他这样的构件而不是抗蚀剂(这是一种能够被掩膜、并应该被称作掩膜构件的构件，包括抗蚀剂)来执行反应。而且，在此处进行了涂覆操作，但是，可使用任何其他的方法，只要这种方法允许抗蚀剂等被涂敷即可。

加工示例2

图4示出了光学部件制造方法的另一个例子。

在所述另一个例子中，反射装置通过电镀导电的、光导保持构件的表面而形成。将通过参照图4来描述光学部件的制造方法的所述另一个例子。

首先，光导保持构件1表面不需要电镀的部分用掩膜24掩膜(步骤2-1)。这里，掩膜24优选是例如粘贴物(sticker)或带(tape)。

然后，光导保持构件1被支持并固定在金属夹具25内(步骤2-2)。这里，光导保持构件1的末端从金属夹具25的底部突出。

然后，光导保持构件1被去油污并被清洗(步骤2-3)。这允许对光导保持构件1的表面更精确地进行电镀。对于去油污和清洗的方法并没有限制，但是，例如，将光导保持构件浸在酒精或类似物中并对其进行超声清洗是较好的方法。

然后，光导保持构件1的表面被触击电镀，以获得次电镀膜27(步骤2-4)。例如，镍电极和光导保持构件1被浸入稀释的盐酸溶液并通电。在通电之后，光导保持构件1被清洗。在所述另一个例子中，由于光导保持构件1是导电的，故光导保持构件的表面被镀上了金属，但是，由于光纤是不导电的，故光纤的表面没有被镀上金属。因此，在所述另一个例子中，光导保持构件的端面能够被触击电镀，而同时光纤的端面不会被触击电镀。触击电镀的执行提高了下述主电镀的膜质量。

然后，光导保持构件1的表面受到主电镀，以获得用于反射装置5的膜(步骤2-5)。例如，银电极和光导保持构件1被浸入稀释的碱溶液中，并通电。在通电之后，光导保持构件1被清洗。在所述另一个例子中，就像上面讨论的触击电镀的情况一样，由于光导保持构件1是导电的，故光导保持构件1的表面被镀上了金属，而由于光纤7是不导电的，故光纤7的表面没有镀上金属。因此，在这个例子中，光导保持构件1的端面能够受到主电镀，且即便没有对光纤7涂敷掩膜或类似物，光纤7的端面仍然不会经历主电镀。对于总厚度(主电镀的厚度加触击电镀的厚度)并没有具体的限制，但是该总数优选例如在1到10μm之间。

然后，从金属夹具25取出光导保持构件1，并去除掩膜24(步骤2-6)。

利用上述的另一个例子，能够在光导保持构件表面的电镀过程中防止光纤的端面被电镀，即便该端面并没有被掩膜。因此，利用所述另一个例子，能够形成具有跟光纤直径尺寸基本相同的孔的反射装置。在所述另一个例子中给出的方法允许大量光纤同时被电镀，这是因为，上述步骤是如此的简单，而这提供了优越的大规模生产能力。

利用其中光纤出口侧端面和连接到光纤出口端的光导保持构件被浸入电解溶液并通电、从而在光纤出口侧端面和连接到光纤出口端的光导保持构件中只有连接到光纤出口端的光导保持构件被电镀的步骤，即便在其他步骤中存在着偏差，仍然能够形成具有尺寸跟光纤直径基本相同的孔的反射装置。

即便在要求高精度和低成本的时候，例如，在反射装置跟多芯光导保持构件或带有弯曲端面的光导保持构件一起设置的时候，也能够利用这些方法来提供反射装置。

利用本发明，除了上面讨论的方法以外，还可使用多种方法在光导保持构件上形成反射装置，例如，其中反射装置在通过光纤被固定到光导保持构件之后被模制、且光纤端面通过研磨或劈切削(cleave cutting)被对准的方法，其中反射装置提前通过光纤被固定到模制的光导保持构件上、且光纤端面通过研磨或劈切削(cleave cutting)被对准的方法，或其中UV固化树脂、热固树脂、或类似物而不是抗蚀剂被用作用于光纤的掩膜构件的方法。通过参照图3描述的方法而形成的反射装置也能够在通过参照图4描述的方法中受到主电镀而替代通过参照图4描述的基础电镀(baseplating)。

在以上描述中，描述了这样一种方法，其中，反射装置在反射器、透明构件或类似物被连接到光导保持构件之前形成，但是，利用本发明，反射装置可反而在反射器、透明构件或类似物被连接到光导保持构件之后形成。上述方法也可这样执行，使得在反射器、透明构件或类似物已被连接到光导保持构件之后，反射装置不仅被涂敷在光纤7或光导保持构件1的端面，并且还通过反射装置5被连续涂敷到跟光导保持构件1的端面邻接的表面上，如反射器3的开口表面(图1中的3’)。在这种情况下，当在将反射器、透明构件或类似物连接到被反射装置覆盖的光导保持构件而需要[低]成本、[高]精度等的时候，能够采用在将反射器、透明构件或类似物连接到光导保持构件之后形成反射装置的方法。

为了使描述更容易理解，使用了反射器3，并且光学部件是具有方向性的，但是，如果光学部件是无方向性的，则透明构件(如玻璃或树脂)可被连接到光纤，而不是反射器3或光导保持构件1。在过去，反射装置使光难以入射到反射器、光导保持构件、透明构件或类似物上，因此，相比传统构造而言，利用本发明能够降低由反射器、光导保持构件、透明构件或类似物对光的吸收。

本发明也能够应用于没有光导保持构件、但具有光纤和反射装置的光学部件。

Claims (14)

1.一种光学部件，包括：

具有纤芯和包层的光纤；

连接到所述光纤出口端的光导保持构件；

包含荧光物质的波长转换构件；以及

设置在所述光纤出口端与所述波长转换构件之间、或所述光导保持构件与所述波长转换构件之间的反射装置。

2.一种光学部件，包括：

具有纤芯和包层的光纤；

包含荧光物质的波长转换构件；以及

设置在所述光纤出口端与所述波长转换构件之间的反射装置。

3.如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述反射装置覆盖所述光纤出口侧的端面处、除了所述纤芯以外的部分的全部或一部分。

4.如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述反射装置覆盖所述光纤出口侧的端面处、除了所述包层以外的部分的全部或一部分。

5.如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述反射装置覆盖所述光导保持构件的端面的全部或一部分。

6.如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述反射装置接触在所述光纤出口侧的端面的全部或一部分。

7.如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述反射装置接触所述光导保持构件的端面的全部或一部分。

8.如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述反射装置接触所述波长转换构件的端面的全部或一部分。

9.如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述反射装置反射其波长跟离开所述光纤的光的波长相等的光，以及其波长跟由包含在所述波长转换构件内的荧光物质发出的光的波长相等的光。

10.如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述反射装置为金属膜或介电多层膜。

11.一种发光装置，包括：

光源；以及

如权利要求1或2所述的光学部件，其中，所述光纤被连接到所述光源。

12.一种光学部件的制造方法，包括步骤：

向连接到光纤出口端的光导保持构件和所述光纤出口侧的端面涂敷掩膜构件；以及

令光入射到所述光纤上，从而在连接到所述光纤出口端的所述光导保持构件和所述光纤出口侧的端面之中，仅有涂敷到所述光纤出口侧端面的掩膜构件跟离开所述光纤的光反应。

13.一种光学部件的制造方法，包括步骤：

向所述光纤出口侧的端面涂敷掩膜构件；以及

令光入射到所述光纤上，从而使涂敷到所述光纤出口侧端面的掩膜构件跟离开所述光纤的光反应。

14.一种光学部件的制造方法，包括步骤：

将连接到所述光纤出口侧端面的导电性光导保持构件、以及所述光纤出口侧的端面浸入电解溶液中；以及

施加电流，从而使连接到所述光纤出口侧端面的所述光导保持构件和所述光纤出口侧的端面之中，只有连接到所述光纤出口侧端面的所述光导保持构件被电镀。

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