CN1023430C - 信号记录方法和设备及其所用测量法和仪器 - Google Patents

Abstract

借助于辐射束(15)在记录载体(1)上记录信号的一种设备(图3)和一种方法。所述信号以用光学方法可检测到的条纹(30、31)方式记录在轨迹间距(q)大致上不变的平行轨迹(4)中。辐射束(15)的写入强度以这样一种方式加以调节，即使光学条纹的宽度(p)相当于轨迹间距(q)。此外，本发明还包括一种方法和装置，用该方法和装置可确定辐射束(15)的最佳写入强度。

Description

本发明涉及一种在可重写的记录载体上记录信号的方法，用光学方法可检测出的条纹所组成的信息模式系以具特定轨迹间距基本上平行的轨迹在记录载体上形成的，这些轨迹则经由辐射束进行扫描而形成条纹。

本发明还涉及一种在可重写的记录载体上以具特定轨迹间距的平行轨迹的形式记录信号所使用的记录设备，该记录设备包括扫描装置，该装置用辐射束扫描轨迹以便在轨迹中形成用光学方法可检测出的条纹组成的信息模式，该模式对应于所述信号。

本发明还涉及上述记录方法和记录设备所采用的测量方法和测量仪。

最后，本发明还涉及一种配备有轨迹间距实质上不变并基本上平行的毗邻轨迹的记录载体，该轨迹表示用光学方法可检测出的条纹所组成的信息模式。

特别是，从《菲利普斯技术评论》第42卷，第2斯，第28-47页中可以了解到这类记录方法、记录设备和记录载体。该杂志介绍了一种磁光记录设备。磁光记录有这样一个问题，即读取已录制信号时其可靠程度易受记录条件变化的影响，例如记录速度和扫描束的强度等。本发明的目的即提供改善了读取已录制信号可靠性的本说明书开端所述那种记录方法和记录设备。

在方法方面，上述目的是通过具有这样技术特点的方法实现的，即 已录制的条纹在垂直于某一轨迹方向的方向上的尺寸大致与轨迹间距相当。

在设备方面，上述目的是通过具有如此特点的记录设备实现的，即该设备适宜记录其在垂直于轨迹方向的方向上的尺寸大致上与轨迹间距相当的条纹。

本发明是基于对下述事实的认识，即读出可靠性基本上取决于已录制条纹的尺寸，当条纹在垂直于轨迹方向的方向上的尺寸大致上与轨迹间距相等时读出的可靠性便达到最佳。条纹的尺寸最好是通过调节写入强度来调节，因为这些尺寸主要取决于记录时使用的写入强度，因此用写入强度来调节这些尺寸是极其合适的。

本发明方法的一个实施例，其写入强度可以简单地使其达到最佳，其特点在于该方法包括一种测量方法，该测量方法是以辐射束的最大写入强度将第一测试信号记录在一特定的轨迹部分内，在所述特定轨迹部分相对侧的轨迹部分内则以最大与最小写入强度之间的各种不同写入强度记录可与第一测试信号加以区别的第二测试信号，记录好第二测试信号之后再从所述特定轨迹部分读取第二测试信号，以检验所读取的第二测试信号是否含有对应于第一测试信号的信号分量，然后根据该检验结果在下述范围选取最佳写入强度，该范围位于其对应于第一测试信号的信号分量存在于读取中的第二测试信号中的强度范围与其所述信号分量基本上不在读取中的测试信号中的强度范围之间的边界区中，写入强度是在已实现该测量方法之后被调节到最佳写入强度值的。

本发明设备的一个实施例，其写入强度被自动最佳化，其特点是，该设备包括一测量装置，测量装置则包括一读出装置，用以借助于读出束读取已录制的信号;测试信号发生装置，用以产生第一测试信号和可与第一测试信号加以区别的第二测试信号;控制装置用以在写入强度达最大值时使第一测试信号能被记录在一特定轨迹部分，继而又使第二测 试信号能以位于最小强度与最大强度之间的一系列不同的写入强度值记录在该特定轨迹部分中和位于所述特定轨迹部分相对侧的轨迹部分中，并用以使以不同写入强度值所记录的第二测试信号能从该特定轨迹部分读取;检测装置，用以检测相应于读取中的第二测试信号中的第一测试信号的信号分量;选择装置，用以从所检测出的信号分量获取最佳写入强度，该最佳写入强度大致位于其对应于第一测试信号的信号分量出现在读取中的第二测试信号中的强度范围与其所述信号分量基本上不存在于读取中的第二测试信号中的强度范围之间的边界上;记录设备还包括写入强度调节装置，用以在已确定最佳写入强度之后将写入强度调节到所述最佳值。

本发明的方法和设备的上述实施例有利地利用了这样一个事实，即条纹的尺寸相当于轨迹间距时，第一测试信号的信号分量从读出信号中消失。

能自动调节写入强度的那些实施例特别适用于其条纹的尺寸主要取决于写入强度的记录设备，例如磁光记录设备。但本发明并不局限于磁光记录设备，它也可应用于其它记录原理，例如采用其结构在用辐射束扫描时可从非晶质改变到晶质或从晶质改变到非晶质的记录载体，（当然这视乎照射的方法而定）。在“相变”式可重写的记录载体上进行记录。

现在参看图1至11更详细地说明本发明其它实施例及其优点。附图中，

图1    示出了一种记录载体;

图2    示出了一个磁光设备;

图3    示出了写入信号及其相应的信息模式;

图4    示出了在毗邻轨迹部分中的一系列信息模式;

图5    示出了读出可靠性随写入强度而变化的函数关系;

图6    示出了在磁光记录情况下磁畴宽度随写入强度变化的函数关系;

图7    示出了用以举例说明本发明的若干信息模式;

图8    示出了用以举例说明本发明的若干测量结果;

图9    示出了用于本发明的记录设备中的一个控制电路的例子;

图10是组成该电路一部分的微计算机的程序流程图;

图11则是为举例说明本发明而示出的记录载体上适宜记录测试信号的部位。

图1示出了可重写式记录载体1的一个实施例，图1a为平面图，图1b示出了沿b-b线截取的小部分剖面图。记录载体具有形成一定图形的轨迹，界定着为记录以光学方法可检测出来的条纹组成的信息模式下的大致同心的信息区。轨迹图形可以包括（例如）确定了信息区中心的连续螺旋形伺服轨迹4。但，这些同心信息区也可以按（例如）荷兰专利申请NL-A8702905（PHN12.339）中所述的伺服图形的结构来确定。为记录起见，记录载体1包括设在透明衬底5上并覆盖有保护层7的记录层6。记录层6由适宜进行磁光记录的材料构成。但应该指出的是，记录层6也可以由其它材料组成，例如“相变”材料，这种材料的结构通过适当的照射方法可从非晶质改变成晶质或反之亦然。

图2示出了一种用以在记录载体1上记录信息的磁光记录设备10。记录设备10包括转盘11和驱动电动机12，用以使记录载体1绕轴线13旋转。转动着的记录载体1的反面配置有普通那种适宜作磁光记录和读出的光写/读头14将辐射束15射向记录层6。记录设备10包括普通的跟踪装置（图中未示出），用以使辐射束15保持对准伺服轨迹4;聚焦装置，用以保持辐射束15在记录层6上聚焦;和普通的编址装置，用以确定特定地址的位置，例如如欧洲专利申请EP-A0265904和荷兰专利申请NL-A8800151（PHN    12.063和PHN    12.398）中所述的那一种。与读/写头14相 对，在记录载体1的另一侧，配置有磁场调制器16，用以产生磁场H，其取向大致垂直于暴露在辐射束15下的范围内的记录层6。磁场调制器16通过构件17刚性地连接到读/写头14。读/写头14和磁场调制器16可借助于传动系统18相对于记录载体作径向运动，构件17确保磁场调制器16始终保持处在直接与读/写头相对的位置。磁场调制器16是那一种可将所产生的磁场的方向调制得使其与双值（bivalent）写入信号Vm一致的调制器。这类磁场调制器，特别是在荷兰专利申请8702451（PHN12，294）中有较全面的介绍，本说明书也将该荷兰申请包括进来，仅供参考。

设备10还包括一控制电路19，用以控制读/写头14和传动系统18，并用以控制所述写入信号Vm的产生。记录信息时，用辐射束15扫描伺服轨迹4，辐射束15的强度系调定到足以将该辐射束所扫描的记录层6的部位加热到接近记录层16的材料的居里温度的写入强度。与此同时，写入信号Vm和因此而产生的磁场H被调制得使其与待记录的信息一致，从而在处于扫描中的伺服轨迹4的部分中获得以与写入信号Vm一致的磁畴形式出现的一定图样的条纹。如此形成的磁畴可用光学方法检测出来，这即将在下面详细说明。

图3以举例说明的方式示出了写入信号Vm、相应的磁场H和由此产生的磁化方向不同的磁畴图形随时间变化的情况。磁化方向不同的各磁畴取不同的编号，即30和31。线条4′表示记录该磁畴图样所在的伺服轨迹的中心。磁畴30、31的图样可用读/写头14读取，为此读/写头14用线性偏振光速扫描该磁畴图样。辐射电子束反射时其偏振方向就沿记录层6被扫描部分的磁化方向所确定的方向旋转。这使对应于磁畴30、31被扫描图样的调制磁畴图样的偏振方向发生变化。这个调制过程按普通方法在读/写头14中检测出来，例如特别象荷兰专利申请NLA8602304（PHQ86.017）中所介绍的那样，用沃拉斯顿棱镜、光电变换器和将光电变换器的输出信号转换成表示待读取的磁畴图样的读出信号Ⅵ的放大器 进行检测。

记录的其中一个主要方面是能可靠地读取所记录的信息。表示读取已录制的CD（激光唱片）信号的可靠性的一个已知参数称为“信息块错误率”（BLER）。参数BLER表示在读出过程中检测出一个或多个错误时每单位时间的EFM（八至十四比特调制）信息块的数目。

图4示出了在伺服轨迹4的多个毗邻轨迹部分上形成的磁畴图样30和31。这里各伺服轨迹的中心线以标号4′表示。轨迹间距，即各伺服轨迹中心线4′之间的距离，以字母q表示。各磁畴在垂直于轨迹方向的方向上的各尺寸以字母P表示。在此方向的磁畴尺寸以下简称为“磁畴宽度”。

图5示出了BLER值随磁畴宽度P而变化的情况。可以看出，在Pmin至Pmax的范围内，BLER值大致上取恒定的最小值，在此范围以外，RLER值则迅速增大。可以看到，磁畴宽度P（它等于轨迹间距q）位于Pmin与Pmax之间范围的中心。按照本发明，磁畴宽度P在记录过程中选取等于轨迹间距q。在此情况下，读出可靠性最不易受磁畴宽度变化的影响，这些磁畴宽度的变化，由于记录系统存在有各种容差，是不可避免的。对应于轨迹间距q的磁畴宽度p，以下称为最佳磁畴宽度Po。磁畴宽度可通过使其适应辐射电子束15的写入能量密度来简单地加以调节。

图6示出了在记录过程中以特定的扫描速度扫描轨迹4时磁畴宽度P随写入强度E而变化的情况。对应于磁畴宽度Pmin、Po和Pmax的写入强度值分别为Emin，Eo和Emax。这样，通过将写入强度调节到对应值Eo即可调节最佳磁畴宽度。对某特定的记录载体例如事先确定最佳写入强度值是可能的。因而在将此信息记录在该记录载体之前，原则上，将记录设备的写入强度调节到此值也是可能的。

可是这一来就出现下列问题：

1）即使各记录层是由同样的磁光材料制成的，其辐射灵敏度也是 大体上是分散的。这是由通常采用的诸如溅射等淀积记录层的方法引起的。

2）扫描速度对最佳写入强度Eo的影响相当大。这一下就成问题，特别是当不同的记录设备的记录速度可能显着变化时（例如在CD信号记录设备中），更是如此，其中容许的记录速度在1.2米/秒和1.4米/秒之间。

3）事实上，要精确确定绝对辐射功率是有问题的。各功率计之间的读数差值在10%左右。此外不同的调节条件还会引起附加误差。

4）最后，辐射束在记录层6上所形成的扫描点的形状和辐射的波长对最佳写入强度也有影响。

上面谈到的是说，最佳写入强度的变化大到这样的程度，以致不可能在写入功率已调节到预定功率时保证磁畴宽度会坐落在图5所示BLER值很小的写入强度范围内。

下面介绍本发明能可靠而简单地调节最佳写入强度的方法和记录设备。首先，参看图7来说明本发明的方法，图中，标号4a′、4b′和4c′表示轨迹4的三个毗邻轨迹部分的中心。本发明方法的第一步是以最大写入强度E1在中心轨迹中记录磁畴30和31的预定第一图样，例如频率为f的周期图样，（如图7a所示）。写入强度E1是选择得使其确保相应磁畴宽度P1大于轨迹间距。然后，以其有关磁畴宽度P2必须小于轨迹间距的最小写入强度E2在所有三个轨迹部分中记录磁畴30和31的第二图形，此第二图形是可与第一图形加以区别的。图7示出了这个记录结果，其中第二图形是频率为f的周期图形而且f小于第一图形频率f。在如此得出的记录中，在原先记录在中心轨迹的第一图形上被部分地重写上第二图形。

在三个轨迹中记录了第二图形之后，读取中心轨迹。鉴于原先记录的第一图形还部分存在（它以标号70表示），因而读出信号除含有对应于 第二图形的信号分量外还含有对应于第一图形的信号分量。对应于第一图形的信号分量存在时是可以检测出来的。然后提高写入强度，再用这个提高了的写入强度在三个轨迹中再记录第二图形。由于写入强度提高使所记录的磁畴宽度要比上次记录第二图形时大，因而使原先已记录的第一图形上将有更大部分被重写。即读出中心轨迹时，读出信号中对应于第一图形的信号分量会有所减少。就这样不断地重复上述三步，即，提高写入强度、用提高了的写入强度记录第二图形、和读出中心轨迹。这时对应于第一图形的读出信号分量就会不断地减少，直至写入强度达到这样一个值为止，该值对应的磁畴宽度大到足以使原先记录的第一图形完全被重写。这就是磁畴宽度P等于轨迹间距q时的情况。在该情况下，记录在毗邻轨迹中两图形的间距已减少到零。图7c举例说明了第二图形在磁畴宽度P等于轨迹间距q时的情况。从图7c可以看到，原先记录的第一图形在此轨迹宽度下业已完全消失。因此最佳写入强度可以这样得出：用不断增加的写入强度记录第二图形，同时检测原先记录的第一图形所产生的信号分量从中心轨迹所产生的读出信号中消失时的写入强度。

图8的曲线80举例说明了对应于原先记录的第一图形的读出信号分量ulf随写入强度E而变化的情况。此外该图还示出了为各种写入强度所测定的BLER值。曲线81表示BLER值的变化情况。从图8中可知，信号分量ulf消失时的写入强度E大致处于BLER值最小的写入强度范围的中心。

图9示出记录设备10的控制电路19的一个实例，用这个电路可以确定最佳写入强度。该控制电路包括分频电路90，分频电路90按一般方式从频率为fosc的周期信号获取两个不同频率（fc和fc）的周期信号Vt1和Vt2。由分频电路90提供的两周期信Vt1和Vt2被分别加到有三个输入端的选择电路91的第一输入端和第二输入端。待记录的信号Vi加到选 择电路91的第三输入端上。选择电路91是这样一种选择电路：它根据控制信号Vse1选择三个输入信号中的一个输入信号并将所选择的输入信号传送到其输出端。选择电路输出端上的信号作为写入信号Vm而加到磁场调制器16上。控制电路19还包括选择性带通滤波器92，此滤波器系调谐到信号Vt1的频率fc。选择性带通滤波器92的输入端98耦合到读/写头14上，供记录读出信号V1之用。选择性滤波器92的输出信号加到峰值检测器93上。以确定经滤波器92滤过波的所加信号的峰值。表示所述峰值的信号Uc1由模-数转换器94进行数字化。经数字化的峰值加到微计算机95上。此外，微计算机95通过信号线路96耦合到选择电路91，将控制信号Vse1加到选择电路96上。

另外，微计算机95耦合到读/写头14，把控制信号VE加上去，以调节辐射束15的强度。微计算机95还包括控制输出端和输入端（图中未示出），用于控制经编址的各轨迹部分的位置的检索过程，例如象荷兰专利申请NL-A    880015（PHN    12.398）中所介绍的那样，在此引入以供参考。微计算机95备有确定最佳写入强度Eo的程序。

现在参照图10和11详细说明某一适当的程序。图10示出了该程序的流程图，图11示出了可记录用于测定最佳写入强度Eo的伺服轨迹4的轨迹部分。该轨迹部分包括三圈邻接的螺旋伺服轨迹4。地址信息系以（例如）伺服轨迹4预形成的调制方式记录在各圈中，（例如象荷兰专利申请NL-A    8800151（PHN    12.399）中所介绍的那样）。三个圈的起始地址分别叫做TR1、TR2和TR3。在半途中记录有起始地址为TR2和地址TR2′的圈。第三圈的末端以地址TR4表示。图10所示流程图的程序以第一步骤开始，在第一步骤中，将写入束E的强度设定到一读出强度E1，这个读出强度低得足以防止记录层6中的磁化过程发生变化。然后在步骤S2，确定地址TR2所表示的轨迹部分的位置。在步骤S3，控制选择电路92控制以使频率为fc1的测试信号Vt1被选作写入信号Vm。在步骤S4 ，将辐射束强度调定到最大写入强度E1，然后开始在地址TR2所表示的轨迹部分以宽磁畴图形的形式对信号Vt1进行记录。在记录的过程中，从步骤S5中被扫描的轨迹中读取各地址。在步骤S6，借助于读取中的信息判定是否已达到地址TR3所表示的轨迹部分的始端。若未达到，则重复步骤S5。若已达到该轨迹部分则在步骤S7期间再次将辐射束15的强度调定到读出强度E1。接着，在步骤S8，使表示写入强度度的值ES与表示最低写入强度E2的值相等。这之后，在步骤S9，确定由起始地址TR1所表示的轨迹部分的位置。在步骤S10，控制选择电路91以使频率为fc2的测试信号Vt2作为写入信号Vs而加到磁场调制器16上。接着，将辐射束15的强度调节到由值Es所指定的强度，然后开始以狭磁畴的形式记录测试信号Vt2。在记录过程中，在进行步骤S12和S13时，检查是否已达到起始地址为TR4的轨迹部分。若未达到，则继续记录。若已达到所述轨迹部分，则进行步骤S14，再次将辐射束强度调定到读出强度E1。然后在步骤S15中确定由起始地址TR2′所表示的轨迹部分的位置，并在某一段特定时间内将此轨迹部分读出，在该段时间ΔT终了时，在执行步骤S17的同时读取Uc1的数字化值。在步骤s18，将如此读出的Uc1值与极小的参考值Umin进行比较，该极小参考值（例如）比对应于非重写测试信号Vt1的信号值小40分贝。若Uc1值超过所述Umin值，则在步骤S19中以适配值ΔE增大Es值，然后按步骤S9进行该程序。但若Uc1值小于参考值Umin，这意味着第一测试信号已完全被重写，因而强度值Es对应于最佳值Eo。此后将辐射束15的强度再次调定到读出强度E1（步骤S20），于是结束该程序。若接着要记录信号Vi，则微计算机75控制选择电路以使信号Vc作为写入信号加到磁场调制器16上，且辐射束15的写入强度调节到等于Es最近的校正值的最佳值Eo。

在本实施例中，在提高写入强度之后，第二信号Vt2每次总是记录在轨迹4命名为起始地址TR1、TR2和TR3的三个圈的整个长度上。但 也有可能将三个圈划分成若干可编址的区段。然后将测试信号Vt2记录在其各不同区段的写入强度可以不同的各三个轨迹部分的一个区段中，并将不同区段所使用的写入强度存储在一存储器中。此后，可以读取中心圈的诸区段，并可确定对应于测试信号Vt1的读出信号分量，且为各区段而这样做的。于是就可从这些测定结果和所存储的写入强度得出最佳写入强度值Eo。

在本磁光记录设备中，在记录过程中是将强度恒定的辐射束射到记录载体上。但应该指出，本发明也可用于其辐射能是以强度恒定的周期性辐射脉冲形式加上去的磁光记录设备中，例如象荷兰专利申请NL-A    870    3011或NL-A    8801205（PHQ    87.044或PHN    12.550）所介绍的那一种。

本发明也不局限于其信息系借助于经调制的磁场进行记录的磁光记录设备。本发明也可应用于象在“菲利浦之技术评论》中一个实例所述的那种磁光记录系统中，该记录系统的信息是按下述步骤进行记录的：先用强度恒定的辐射束扫描记录层，在此过程中，记录层的被扫描部分暴露在恒定磁场下，从而获得磁化均匀的（擦式）轨迹，然后倒转磁场方向并用其强度调制得与待记录信号相适应的辐射束对该磁化均匀的轨迹进行扫描。在这种情况下，测试信号Vt2以不是周期信号而是直流信号为宜，测试信号Vt1则以周期信号为宜。

此外，应该指出的是，尽管本发明极其适用于磁光记录，但并不局限于这种记录方法。举例说，本发明还可用于称之谓“可擦型相变记录”方法，这种方法是将记录层暴露在辐射束下，借此可将记录层的结构从非晶质变换成晶质，或从晶质变换成非晶质（视乎所使用的扫描方法而定）。然后可以先记录周期性测试信号Vt1，再在该测试信号上用若干不同的写入强度重写直流测试信号Vt2。

最后应该指出的是，本发明并不局限于与具同心轨迹图样的盘状记 录载体的配合使用。本发明也可与信息系以直线轨迹形式记录的记录载体配用。

Claims (12)

1、在可重写式记录载体上记录信号的一种方法，该方法是在所述记录载体上以具有特定轨迹间距的大致平行的记录轨迹形式形成用光学方法可检测出的条纹所组成的信息图形，以辐射束扫描该轨迹以形成所述条纹，其特征在于，已录制的条纹在垂直于轨迹方向上的宽度与相邻记录轨迹的中心线之间的距离相等。

2、如权利要求1所述的信号记录方法，其特征在于，所述用光学方法可检测出的条纹是借助于辐射束局部加热所述记录载体的记录层所获得的磁畴，所述记录层适宜进行磁光记录，即记录层经加热的部分暴露在大致垂直作用于记录层的磁场下。

3、如权利要求2所述的信号记录方法，其特征在于，所述磁场是根据待记录信号而被调制的。

4、如权利要求2或3所述的信号记录方法，其特征在于，通过设定辐射束强度使之达到使所述各条纹宽度相等于所述轨迹的中心线之间的距离时的最佳值，来调节用光学方法可检测的条纹宽度，使其与所述距离相等。

5、如权利要求4所述的信号记录方法，其特征在于，它包括一种用于确定所述条纹宽度等于轨迹中心线距离的最佳值的测量方法，该测量方法是在一特定的轨迹部分以辐射束的最大写入强度记录第一测试信号，然后在该特定轨迹部分和在与该特定轨迹部分相对侧的轨迹部分以最大与最小写入强度之间的不同写入强度记录可与第一测试信号加以区别的第二测试信号，记录好第二测试信号之后，就从所述特定轨迹部分读取第二测试信号，以检验所读取的第二测试信号是否含有对应于第一测试信号的信号分量，然后根据该检验结果选取最佳写入强度，最佳写入强度位于其对应于第一测试信号的信号分量存在于读取中的第二测试信号的强度范围与其所述信号分量基本上不存在于读取中的测试信号中的强度范围之间的边界区中，写入强度是在实现该测量方法之后被调节到最佳写入强度值的。

6、如权利要求5所述的信号记录方法，其特征在于，第一和第二测试信号是周期信号。

7、在可重写式记录载体上的平行的记录轨迹中记录信号的一种记录设备，该记录设备包括用于产生一辐射束的辐射源;使所述辐射束射向记录载体的光学系统;一扫描装置，该扫描装置通过代表所述轨迹中的用光学方法可检测的记录条纹的所述辐射束来扫描所述轨迹;以及一设定装置，用以设定辐射束的强度使之达到相当于强度控制信号的数值，其特征在于，所述设备还包括一确定检测信号的装置，该装置根据被记录的条纹确定一检测信号，以指示在垂直于轨迹方向的方向上，被记录的条纹的尺寸是否相当于相邻的记录轨迹的中心线之间的距离;以及还包括一确定强度控制信号数值的装置，该装置根据所述检测信号来确定被记录条纹的宽度相当于所述距离时的强度控制信号的数值。

8、如权利要求7所述的记录设备，其特征在于，所述确定控制信号的装置包括一读出装置，用以借助于读出束而读取已录制的信号;一测试信号发生装置，用以产生第一测试信号和可与第一测试信号加以区别的第二测试信号;控制装置，用以在写入强度达最大值时使第一测试信号记录在一特定轨迹部分中，从而使第二测试信号以位于最小强度与最大强度之间的若干不同的写入强度值记录在该特定轨迹部分中和位于所述特定轨迹部分相对侧轨迹部分中，并用以使以不同写入强度值记录的第二测试信号从该特定轨迹部分读出;检测装置，用以检测相应于读取中的第二测试信号中的第一测试信号的信号分量;以及所述确定强度控制信号数值的装置包括一选择装置，用以从所检测出的信号分量获取最佳写入强度，该最佳写入强度大致上位于其对应于第一测试信号的信号分量出现在读取中的第二测试信号中的强度范围与其所述信号分量基本上不存在于读取中的第二测试信号中的强度范围之间的边界上;所述记录设备还包括写入强度调节装置，用以在已确定最佳写入强度之后将写入强度调节到所述最佳值。

9、如权利要求8所述的记录设备，其特征在于，所述第一和第二测试信号是不同频率的周期信号。

10、如7至9任一权利要求所述的记录设备，其特征在于，该记录设备为磁光设备，该磁光设备包括一线圈，用以在正在为写入束所扫描的轨迹部分中产生磁场。

11、一种形成有轨迹间距大致恒定并且相邻的记录轨迹基本平行的记录载体，所述轨迹呈现用光学方法可检测出来的条纹信息模式，其特征在于，所述各条纹在垂直于轨迹方向的方向上的宽度等于相邻的记录轨迹中心线之间的距离。

12、如权利要求5所述的记录载体，其特征在于，所述记录载体为磁光型的，所述条纹包括磁化方向大致上垂直于记录载体记录平面的磁畴。

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