CN100585908C - 发光器件的制作方法，以及制造装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的目的是提供一种发光器件及其制造方法，该发光器件具有防止氧和潮气到达发光元件的结构。而且，本发明用少的工艺步骤将发光元件用塑料衬底密封而无须封入干燥剂。本发明在粘合提供有发光元件的柔性衬底11和柔性衬底12时，像素区13被其中包含用来维持两个衬底之间间隙的间隙材料(填充剂，细小颗粒等)的第一密封材料16(其粘度大于第二密封材料)环绕着，扩展滴注的几滴透明的第二密封材料17a并使其填充像素区，用第一密封材料和第二密封材料来密封两个衬底。

Description

发光器件的制作方法，以及制造装置
技术领域
本发明涉及一种借助于粘合密封衬底来密封元件(典型的是，具有由薄膜晶体管(以下称为TFT)构成的电路的半导体元件，发光元件，存储元件，感应元件或者光电转换元件)的制造装置，并且该制造装置具有粘合装置(bonding mechanism)。确切地说，本发明涉及在制作用含有有机化合物的层作为发光层的发光器件时，将用于密封发光元件的密封衬底粘合的粘合装置。
背景技术
近几年，对于具有以EL元件作为自发光发光元件的发光器件的研究非常活跃。该发光器件又被称为有机EL显示器或有机发光二极管。由于这些发光器件有适用于动感画面显示的诸如快速响应速度，低电压、低功耗驱动等特征，它们作为用于新一代移动电话和便携式信息终端(PDA)的下一代显示器备受关注。
注意，EL元件包括借助于施加电场而发光(ElectroLuminescence)的含有有机化合物的层(以下称为EL层)、阳极、以及阴极。有机化合物产生的发光是当电子从单重激发态返回到基态时产生的荧光以及当电子从三重激发态返回到基态时产生的磷光。利用本发明的淀积设备和淀积方法制作的发光器件可应用于这两种发光。
发光器件由于其不同于液晶显示器件的自发光性质而不存在视角问题。此发光器件因而比液晶显示器件更适合于户外使用，并且已有以各种形式利用发光器件的提案。
具有EL层的发光元件(EL元件)是EL层被夹在成对的电极之间的结构，且EL层通常具有叠层结构。由空穴输运层、发光层、以及电子输运层组成的叠层结构可以作为典型的例子。此结构具有极高的发光效率，且目前正在研发的几乎所有发光器件都采用这种结构。
诸如“阳极、空穴输运层、发光层、电子输运层”或“阳极、空穴注入层、空穴输运层、发光层、电子输运层、电子注入层”之类的其它结构，也是可以被采用的。可以将荧光颜料掺入到发光层中。可以采用低分子材料或高分子材料来制作这些层。
在本说明书中，EL层是用来表示形成在阴极与阳极之间的所有各个层的通用术语。因此，所有各个上述空穴注入层、空穴输运层、发光层、电子输运层、电子注入层，都是EL层。
在本说明书中，由阴极、EL层、阳极形成的发光元件，被称为EL元件。有两种形成EL元件的方法；一种是简单矩阵，其中EL层被夹在两种彼此正交延伸的条形电极之间，另一种是有源矩阵，其中EL层被夹在排列成矩阵且连接到TFT的像素电极与反电极之间。当像素密度变高时，由于有源矩阵在各个像素(或各个点)中具有开关而能够在低电压下驱动，故认为有源矩阵优越于简单矩阵。
由于EL材料会因为被氧化或吸收氧或潮气而退化，故存在着发光元件发光效率下降或其寿命缩短的问题。
通常，借助于用其中包含干燥空气的包封外壳将发光元件包封起来，并将干燥剂粘合到包封外壳，来防止氧或潮气渗透到发光元件中。
发明内容
本发明的目的是提供一种发光器件以及一种制作此发光器件的方法，通过此方法，防止了氧或潮气渗透进入发光元件中。本发明的另一目的是用很少的步骤来包封发光元件而不包入干燥剂。
本发明还有一个目的是提供可以将具有不均匀表面的衬底或柔性衬底和提供有发光元件的衬底粘合在一起的粘合装置。
因此，本发明具有一个结构，其中，其上制作有发光元件的衬底被粘合到透明密封衬底。当两个衬底粘合时，像素区被透明的第二密封材料覆盖整个表面，并被包含用来维持两个衬底之间的间隙的间隙材料(填料、细小颗粒等)的第一密封材料(其粘度高于第二密封材料)环绕。第一密封材料和第二密封材料于是将发光元件密封。
若第一密封材料的密封图形形状被形成为正方形、反“c”形、或“U”形，且借助于在其上滴注粘度低的第二密封材料而粘合两个衬底，则气泡有可能保留在角落处。
特别是，象塑料那样的柔性膜状衬底有容易产生气泡的倾向。
并且，在衬底的中央部分滴注一滴第二密封材料来粘合两个薄膜衬底时，第二密封材料以同心圆状向外扩大，所以要使该密封材料扩大到四个角落是相当困难的。
因此，在本发明中，第一密封材料的图形形状被形成为无弯曲部分的图形(线状)，不使图形形状成为正方形、反“c”形、或“U”形。在角落处形成开口部分(4个位置)，使气泡通过其中逸出。在被第一密封材料围住的中央部分滴注一大滴第二密封材料，在其周围部分滴注几小滴第二密封材料。
借助于形成这些开口部分，当用粘度低的第二密封材料粘合两个衬底时，粘度低的第二密封材料沿各个角落的开口部分方向被挤出。两个衬底于是能够被密封而气泡不至于混入到像素区上。而且，密封侧上的衬底表面最好平滑并具有优异的平整度，使气泡不混入。
特别是，上述方法在粘合如薄膜衬底那样厚度薄的衬底时是有用的方法。另外，该粘合方法在粘合从玻璃衬底上剥离下来的厚度薄的待剥离层(没有衬底的状态)和膜衬底时也很有用。
在各自按相同的滴注量，滴注多滴第二密封材料的实验中，由于滴注在中央部分的滴注量不够，从而导致了第二密封材料未能够扩大到整个表面，或者，由于滴注在周围部分的第二密封材料过度扩大，从而导致了密封材料蔓延到衬底的边缘(或衬底的背面)。
因此，本发明提供一种制造装置，该装置在衬底盘(substratetray)或衬底台(substrate stage)的表面上涂敷聚四氟乙烯或DLC覆盖，使第二粘合材料难以附着于其上，这样即使第二密封材料过度扩大到衬底的边缘(或背面)也无妨。或者，也可以采用第二粘合材料难以附着的材料作为衬底盘或衬底台本身的材料。根据本发明的制造装置，第二密封材料的滴注量，滴注位置和粘合压力等的粘合条件限度得到扩大。
而且，粘度高的第一密封材料不但用间隙材料来维持衬底间隙，并且调整粘度低的第二密封材料的平面形状。而且，当分割衬底时，第一密封材料还能够用作定位标识。例如，当在一个衬底上制造多个平板(panel)时，亦即在所谓多图形的情况下，可以沿第一密封材料分割衬底。
而且，当接受到来自外部的冲击时，施加的最大负载的位置能够被设定到排列在像素区外面的第一密封材料的位置(仅仅第一密封材料具有间隙材料)，从而能够防止负载被施加到像素部分。亦即，利用本发明的结构，能够制造机械强度甚至更高的发光器件。
而且，发光元件被第一密封材料、第二密封材料、以及衬底密封，从而能够有效地阻挡潮气和氧。注意，最好在压力被降低，或在氮气气氛中进行两个衬底的粘合。
公开在本说明书的本发明的结构是：一种发光器件的制作方法，其中所述发光器件包含一对衬底之间的具有多个发光元件的像素部分，并且该对衬底中至少有一个衬底具有透光性，而且其中所述发光元件分别包含：第一电极；和第一电极表面连接的有机化合物层；以及和该有机化合物层表面连接的第二电极，所述发光器件的制作方法包括以下步骤：
在其中一个衬底上形成像素部分；
在另一个衬底上描画线形状的第一密封材料；
在被所述第一密封材料围住的区域中按不同的滴注量，滴注多滴比所述第一密封材料粘度低的第二密封材料；
粘合所述一对衬底，并安排所述第一密封材料围住所述像素部分，而且使至少一对所述第一密封材料之间填充有所述第二密封材料。
在上述结构中，所述第二密封材料至少被滴注在像素部分的中心位置以及以一定的间隔环绕该中心的位置上，并且，滴注在中心位置的滴注量比滴注在环绕该中心位置的滴注量更大。
而且在上述结构中，所述第一密封材料至少在四个角落处具有开口部分。
而且在上述结构中，所述第一密封材料包含维持一对衬底之间间隔的间隙材料。
而且在上述结构中，所述第二密封材料在所述开口处被暴露，且暴露出来的该第二密封材料的周边呈弯曲状。
而且在上述结构中，所述第二密封材料在开口处被暴露，且暴露出来的该第二密封材料的周边从所述开口凸出。
公开在本发明的其他发明的结构是：一种发光器件的制作方法，其中所述发光器件包含一对衬底之间的具有多个发光元件的像素部分，并且该对衬底中至少有一个衬底具有透光性，而且其中所述发光元件分别包含：第一电极；和第一电极表面连接的有机化合物层；以及和该有机化合物层表面连接的第二电极，所述发光器件的制作方法包括以下步骤：
在其中一个的衬底上形成像素部分；
在另一个衬底上描画线形状的第一密封材料；
在被所述第一密封材料围住的区域中按不同的滴注量，滴注多滴比所述第一密封材料粘度低的第二密封材料；
在粘合所述一对衬底以将所述第一密封材料围住所述所述像素部分时，借助于加压使所述第二密封材料互相相对扩延，从而填充所述第一密封材料之间的空间；
固化所述第一密封材料和第二密封材料。
并且在上述结构中，在完成固化所述第一密封材料和第二密封材料的工艺后，沿着所述第一密封材料分割一对衬底的工艺。
另外，执行上述制作方法的粘合装置也是本发明之一，其结构为：一种具备衬底粘合装置的制造装置，其中，所述衬底粘合装置以预定的间隔粘合一对衬底，该一对衬底中间夹密封材料，所述制造装置包括：
被相对安置的两个衬底支撑台；
以及借助施压于上述两个衬底支撑台之间挤压密封材料的装置，
其中，所述衬底支撑台被氟化树脂所覆盖。
在上述结构中，所述含有氟化树脂的膜是选自聚四氟乙烯，四氟乙烯-六氟丙烯共聚物(tetrafluoroethylene-hexafluoropropylenecopolymer)，聚氯三氟乙烯(Polychlorotrifluoroethylene)，四氟乙烯-乙烯共聚物(tetrafluoroethylene-ethylene copolymer)，聚氟乙烯(Polyvinyl fluoride)，二氟树脂(Po1yvinylidene Fluoride)中之一种。
本发明的制造装置的其它结构为：一种具备衬底粘合装置的制造装置，其中，所述衬底粘合装置以预定的间隔粘合一对衬底，该一对衬底中间夹密封材料，所述制造装置包括：
被相对安置的两个衬底支撑台；
以及借助施压于所述两个衬底支撑台之间挤压密封材料的装置，其中，用双面胶带将衬底各自固定在所述两个衬底支撑台。
在上述结构中，衬底粘合装置提供有光源，所述两个衬底支撑台中至少一个是由透光材料制成，在粘合一对衬底后，从光源照射透过衬底支撑台的光从而固化密封材料，而且，在使用经光照射后其粘接力会降低的双面胶带固定衬底时，在用光的照射固化密封材料的同时可以从衬底支撑台上剥离双面胶带。
在上述结构中，衬底粘合装置提供有光源，所述两个衬底支撑台中至少有一个是由透光材料制成，另一个衬底支撑台的表面是反射光的镜面结构，通过这样结构，可以反射穿过一方的衬底支撑台，并穿过一对衬底的光，使其再次照射密封材料。
在上述结构中，所述两个衬底支撑台的至少其中一方配备有加热装置，在粘合一对衬底后，借助于加热来固化密封材料。而且，在使用经加热后其粘接力会降低的双面胶带固定衬底时，在用加热固化密封材料的同时可以从衬底支撑台上剥离双面胶带。
注意，发光元件(EL元件)具有包含有机化合物的层(以下称为EL层)、阳极、以及阴极，在EL层中，借助于施加电场而产生发光(电致发光)。从单重激发态返回到基态时的光发射(荧光)以及从三重激发态返回到基态时的光发射(磷光)，以有机化合物发光的形式存在。根据本发明制造的发光器件能够被应用于其中任何一种光发射。
具有EL层的发光元件(EL元件)是EL层被夹在成对的电极之间的结构，且EL层通常具有叠层结构。由空穴输运层、发光层、以及电子输运层组成的叠层结构可以作为典型的例子。此结构具有极高的发光效率，且目前正在研发的几乎所有发光器件都采用这种结构。
而且，也可以采用空穴注入层、空穴输运层、发光层、以及电子输运层依次层叠在阳极上的结构。还可以采用空穴注入层、空穴输运层、发光层、电子输运层、以及电子注入层依次层叠在阳极上的结构。还可以将荧光颜料等掺入到发光层中。而且，可以利用所有低分子量材料来形成这些层，也可以利用所有高分子量(聚合物)材料来形成这些层。而且，也可以采用包含无机材料的层。注意，在本说明书中，形成在阴极与阳极之间的所有的层都被通称为EL层。因此，空穴注入层、空穴输运层、发光层、电子输运层、以及电子注入层都被包括在EL层分类中。
而且，对在本发明的显示器件中驱动屏幕显示的方法没有特别的限制。例如，可以采用逐点驱动方法、逐行驱动方法、逐面驱动方法等。典型采用逐行驱动方法，也可以适当地采用时分灰度驱动方法或表面积灰度驱动方法。而且，输入到发光器件源线的图像信号可以是模拟信号和数字信号。可以根据所用的图像信号来适当地设计驱动电路等。
本发明的应用不局限于有源矩阵型发光器件，本发明也可以应用于无源矩阵型发光器件。
附图说明
在附图中：
图1A和1B是根据实施方案模式1的粘合工艺之前后的衬底的俯视图；
图2A-2C是根据实施方案模式1的制造装置的横截面图；
图3A-3D是根据实施方案模式2的粘合工艺之前后的衬底的俯视图；
图4A和4B是根据实施方案模式2的制造装置的横截面图；
图5A-5J是根据实施例1的制作工程的视图；
图6A和6B是根据实施例1的剥离前的横截面TEM照片；
图7A和7B是根据实施例1的剥离后的横截面TEM照片；
图8是根据实施例1的正在显示中的平板的照片；
图9A和9B是根据实施例1的有源矩阵型EL显示器件的结构视图；
图10A和10B是根据实施例2的有源矩阵型EL显示器件的结构视图；
图11A和11B是根据实施例3的粘合工艺之前后的衬底的俯视图；
图12A-12H是根据实施例4的电子器具的例子；
图13A和13B是根据实施方案模式1的粘合工艺之前后的衬底的俯视图；
图14A和14B是根据实施方案模式1的粘合工艺之前后的衬底的俯视图；
图15A和15B是根据实施方案模式2的制造装置的横截面图。
本发明的选择图为图1
具体实施方式
下面解释本发明的实施方案模式。
实施方案模式1
图1A示出了粘合之前密封衬底(第二衬底12)的俯视图的一个例子。图1A示出了从一个衬底形成具有一个像素部分的发光器件的例子。
首先，利用分配器在第二衬底12上形成8条第一密封材料16，然后滴注粘度比第一密封材料低的几滴第二密封材料。另外，图1A是滴注了第二密封材料的第二衬底的俯视图。
然后，将其上形成具有发光元件的像素部分13，或驱动电路部分14以及端子部分15的第一衬底11粘合到第二衬底。图1B示出了一对衬底刚刚被粘合之后的俯视图。第一密封材料的粘度高，故在粘合时扩展很小。但第二密封材料的粘度低，故第二密封材料在粘合时平坦地扩展开，如图1B所示。第二密封材料在各个第一密封材料16之间被挤出，亦即沿图1B所示方向向着开口部分被挤出。因而能够阻止气泡存在于被第二密封材料填充的第一密封材料16之间的区域内。第一密封材料16与第二密封材料17b即使接触也不会混合，第一密封材料16的粘度使得其形成位置不被第二密封材料17b改变。
而且，第一密封材料16包含用来维持两个衬底之间的间隙的间隙材料(填料、细小颗粒等)。而且，这种结构中的第一密封材料16被对称地排列，从而均匀地施加负载，具有良好的平衡。因而能够均匀地分散来自外部的冲击。而且，第一密封材料16具有对称的形状，并被对称地排列，从而能够维持非常恒定的衬底间隙。并且，第一密封材料16被排列在衬底平面内，与x或y方向平行。
而且，在粘合一对衬底时，为了防止第二密封材料17a被挤出而覆盖端子部分的连接终端，可以采用如图13A所示的在端子部分第一密封材料86的间隔狭窄的图案。图13B示出了一对衬底刚刚被粘合之后的俯视图。另外，在粘合一对衬底时，为了防止第二密封材料17a被挤出蔓延到衬底边缘外，可以采用如图14A所示的图案，即第一密封材料96被安排在倾斜于衬底边缘的位置上。图14B示出了一对衬底刚刚被粘合之后的俯视图。注意，在图13和图14中，因和图1不同只有第一密封材料的图案部分，所以图13和图14中与图1A和1B中相同的其他结构部件用相同的参考数字。
而且，最好采用如图2所示的粘合装置来实施粘合，这样即使在粘合时第二密封材料蔓延到衬底边缘也没有关系。
图2A示出了粘合之前的一对衬底的截面图，图2B示出了一对衬底刚刚被粘合之后的截面图，以及图2C示出了一对衬底被粘合之后的截面图。在图2A至图2C中，参考数字21表示第一衬底支撑台，22表示第二衬底支撑台，23表示氟树脂的膜以及24表示顶升杆。注意，在图2中与图1对应的部件用相同的符号。
在图2中表示的粘合装置使用镀有以聚四氟乙烯为典型的氟树脂镀膜的第二衬底支撑台。通过在第二衬底支撑台镀和第二密封材料密接性低的氟树脂的镀膜，即使粘度低的第二密封材料蔓延到衬底边缘，也不会发生第二衬底支撑台和第二衬底粘合在一起而不能剥下的情况。
另外，在第二衬底支撑台中提供有用于固定第二衬底12的凹处，通过将第二衬底嵌入在该凹处而实现固定。并且，为了在粘合两个衬底之后取出第二衬底，在第二衬底支撑物中提供顶升杆24。而且，第一衬底支撑台21具备固定第一衬底的固定装置(固定杆或真空吸盘等)。另外，第一衬底支撑台21或第二衬底支撑台22也可以具备用于固化密封材料的加热装置。
实施方案模式2
实施方案模式1示出了从一个衬底形成一个平板的例子，但在此，用图3A到3D示出从一个衬底形成多个平板的多图形的例子。
首先，在惰性气氛下，用分配器在第二衬底31的预定位置形成第一密封材料32(图3A)。包含填充剂(直径为6-24微米)且粘度为370Pa·s的材料被用作第一密封材料32的透明密封材料。而且，由于第一密封材料32密封图形简单，故可以用印刷工艺来形成第一密封材料32。
接着，将透明的第二密封材料33滴注在第一密封材料32(至少4个角落中具有开口)环绕的区域中(图3B)。此处采用了折射率为1.50，粘度为500cps的抗热性高的紫外线环氧树脂(Electrolite公司制造的，产品名为2500Clear)作为第二密封材料。
然后，其上形成有像素部分34的第一衬底35以及其上形成有密封材料的衬底被粘合(图3C)。注意，最好在马上就要用密封材料粘合一对衬底时，在真空中进行退火，从而执行除气。第二密封材料33被扩展开，以便使之填充第一密封材料32之间的空间。依赖于第一密封材料32的形状和排列，能够使第二密封材料33填充此空间而不引入气泡。接着进行紫外光辐照，使第一密封材料32和第二密封材料33固化。注意，除了紫外线辐照之外，还可以执行热处理。
注意，第一衬底35是塑料衬底，在该塑料衬底上多种TFT按矩阵形状形成从而形成像素部分。而且，第二衬底31也是塑料衬底。
其次，用辊式切纸机等切割装置切割第一衬底35(图3D)。通过以上步骤，能够从一个衬底制作出4个平板。
另外，图4A和图4B示出了不同于实施方案模式1的粘合装置的实例。
在图4A和图4B中，参考数字41表示第一衬底支撑台，42表示第二衬底支撑台，43表示氟树脂的膜，44表示衬底台，48表示下底板，以及49表示光源。注意，在图4中与图3对应的部件用和图3相同的参考数字。
下底板48由透光性的材料构成，从光源49发射的紫外光透过该下底板，从而固化第一密封材料32和第二密封材料33。并且，为了实现高效率地照射光，可以用镜面作为第一衬底支撑台的表面，反射透过下底板48的光，这样反射的光可以再次照射密封材料。另外，作为密封衬底的第二衬底31预先被切成需要的尺寸，被排列在衬底台44之上。注意，在此用镀了氟树脂的镀膜43的玻璃衬底作为衬底台44。在粘合时，降下第一衬底支撑台和第二衬底支撑台之后，施加压力将第一衬底35和第二衬底31粘合在一起，然后如图4B所示，在粘合的状态下照射紫外光，实现固化。
因在图4所示的粘合装置也被氟树脂的膜43覆盖，所以如果第二密封材料33蔓延到第二衬底的边缘或背面，也不会和衬底台44粘在一起。
图15A和图15B示出了不同于图4所示的粘合装置的实例。
在图15A和图15B中，参考数字41表示第一衬底支撑台，42表示第二衬底支撑台，44表示衬底台，48表示下底板，49表示光源，以及60和61表示双面胶带。在图15中，与图4相同的部件使用和图4相同的符号。另外，在图15中，与图3对应的部件用和图3相同的符号。
在图15中，分别用双面胶带60将第一衬底35固定在第一衬底支撑台41，用双面胶带61将第二衬底31固定在衬底台44。双面胶带60和61可以使用借助照射光降低其粘合力的双面胶带，也可以使用借助加热降低其粘合力的双面胶带。
在粘合时，降下第一衬底支撑台和第二衬底支撑台之后，施加压力来将第一衬底35和第二衬底31粘合在一起，然后如图15B所示，照射紫外光从而固化密封材料。在用照射紫外光固化密封材料的情形中，如果采用借助照射紫外光降低其粘合力的双面胶带，还可以同时降低双面胶带的粘合力。所以，在粘合工艺完成后，可以从支撑台取下平板，并且可以从该平板上剥下双面胶带。
本实施方案模式可以与实施方案模式1自由组合。
具有上述结构的本发明的更为详细的解释将由下面所示的各个实施例给出。
实施例
实施例1
本实施例用图5示出利用转移技术将在玻璃衬底上形成的待剥离层粘合到塑料衬底的实例。
在此，采用使用金属膜和氧化硅膜的剥离方法。
首先，在玻璃衬底(第一衬底300)上形成元件。在本实施例中玻璃衬底采用AN100。用溅射法在该玻璃衬底上形成钨膜(膜的厚度为10nm-200nm，优选50nm-75nm)作为金属膜301a，然后，在不暴露于大气的情况下，形成并叠加氧化硅膜(膜的厚度为150nm-200nm)作为氧化物膜302。氧化物膜302的膜的厚度最好是金属膜的大约两倍或更厚。另外，在叠加成叠层的过程中，在金属膜301a与氧化硅膜302之间形成厚度约为2nm-5nm的非晶态的氧化金属膜(氧化钨膜)。在后继的剥离工艺中，氧化钨膜中，氧化钨膜和氧化硅膜的接触面或者氧化钨膜和钨膜的接触面产生分离。
而且，可以采用选自Mo，WN，TiN，TiW的元素，或者以上述元素为主要成分的合金材料或化合物材料组成的单层，或它们的叠层来代替钨膜。
另外，因为溅射法会在衬底边缘形成膜，优选用O2灰化等方法清除形成在衬底边缘的钨膜，氧化钨膜和氧化硅膜。
接着，用PCVD法形成作为底绝缘膜的氧化氮化硅膜(膜的厚度为100nm)，在不暴露于大气的情况下，形成并层叠含有氢的非晶硅膜(膜的厚度为54nm)。注意，氧化氮化硅膜是防止玻璃衬底的碱金属元素等杂质扩散的阻挡膜。
并且，用FT-IR测量上述含有氢的非晶硅膜的氢浓度，得出的结果是：Si-H为每立方厘米1.06×1022原子，Si-H2为每立方厘米8.34×1019原子，计算成分比中的氢密度，得到的结果是21.5％。另外，改变PCVD淀积成膜条件，同样计算氢浓度，结果是得到的成分比中氢密度为16.4％、17.1％、以及19.0％。
接着，采用已知的晶化技术(例如固相生长或激光晶化，以及利用金属催化剂的晶化方法)来晶化上述非晶硅膜，并形成用多晶硅作为激活层的TFT构成的元件。在本实施例中，用金属催化剂的晶化方法来获得多晶硅膜。用甩涂机涂敷含有10ppm重量比的镍的乙酸镍溶液。也可以采用借助于溅射而将镍元素喷射到整个表面的方法来代替涂敷。然后，进行加热处理以执行晶化，从而形成具有结晶结构的半导体膜(此处是多晶硅层)。此处，在进行热处理(500℃下1小时)之后，进行用于晶化的热处理(550℃下4小时)，从而得到具有结晶结构的硅膜。
在含有氢的非晶硅膜被加热以形成多晶硅膜的情况下，410℃或更高温度下的用于晶化的热处理能够同时实现多晶硅膜的形成和氢的扩散。而且，400℃或更高温度下的热处理能够实现非晶态的氧化金属膜的晶化，得到具有结晶结构的氧化金属膜301b。在图6中，表示出一个横截面TEM(透射电子显微镜)照片。所以，通过410℃或更高温度下的热处理，实现了具有结晶结构的氧化金属膜的形成和氢的扩散。在410℃或更高温度下的热处理结束后，施加较小的力(例如，利用人的手，利用喷嘴吹出气体的吹压，利用超声，等等)就在氧化钨膜中，氧化钨膜和氧化硅膜的交接面或者氧化钨膜和钨膜的交接面产生分离。另外，当进行能够形成具有结晶结构的氧化金属膜的温度的热处理时，氧化金属膜的膜的厚度被略微减少。
而且，使用获得的多晶硅膜可以形成以TFT为典型的各种元件(薄膜二极管、由硅的PIN结组成的光电转换元件、硅电阻元件、以及传感器元件(典型为采用多晶硅的压敏指纹传感器))。另外，当进行410℃或更高温度下的热处理但非晶硅膜不被晶化时，该非晶硅膜也可以适用于以非晶硅膜作为激活层的TFT构成的元件。
接着，在用稀释的氢氟酸之类清除具有结晶结构的硅膜表面上的氧化膜之后，在大气中或在氧气氛中执行激光辐照(波长为308nm的XeCl激光)，用来提高晶化率和修复晶粒中残留的缺陷。波长为400nm或以下的准分子激光，或YAG激光器的二次谐波或三次谐波，被用作激光。无论在何种情况下，都采用重复频率约为10-1000Hz的脉冲激光，此脉冲激光被光学系统汇聚成100-500mJ/cm2，以90-95％的重叠率进行辐照，从而可以扫描硅膜表面。此处，激光辐照在重复频率为30Hz和能量密度为470mJ/cm2的大气气氛下进行。注意，由于在大气或氧气氛中进行辐照，故激光辐照在表面上形成氧化物膜。虽然此处示出了采用脉冲激光的例子，但也可以采用连续振荡激光器。当进行非晶半导体膜的晶化时，为了得到大晶粒尺寸的晶体，最好用能够连续振荡的固体激光器应用基波的二次谐波到四次谐波。典型地说，最好采用Nd:YVO4激光器(基波为1064nm)的二次谐波(厚度为532nm)或三次谐波(厚度为355nm)。具体地说，从10W输出的连续振荡型YVO4激光器发射的激光束，被非线性光学元件转换成谐波。而且，可以提供将YVO4晶体和非线性光学元件进入谐振腔而发射谐波的方法。用光学系统将激光束形成为矩形形状或椭圆形形状来辐照待要处理的物质，则更优选。此时，要求约为0.01-100MW/cm2(优选为0.1-10MW/cm2)的能量密度。半导体膜以大约10-2000cm/s的速率相对于激光束移动，以便辐照半导体膜。
除了用这一激光辐照方法形成的氧化物膜之外，借助于用臭氧水处理表面120秒钟而形成的氧化物膜，一起形成总厚度为1-5nm的势垒层。该势垒层是为了除掉在进行晶化时掺杂到膜中的镍而形成。虽然此处用臭氧水形成了势垒层，但也可以采用其它的方法，例如在氧气氛中执行紫外光辐照或氧化物等离子体处理，以便氧化具有晶体结构的半导体膜的表面。此外，作为其它的用来形成势垒层的方法，可以用等离子体CVD方法、溅射方法、蒸发沉淀方法等来淀积厚度约为1-10nm的氧化物膜。而且，在形成势垒层之前，可以清除用激光辐照形成的氧化物膜。
在势垒层上，用溅射方法形成厚度为10-400nm的含有氩元素的非晶硅膜以便用作吸杂位置，在本实施方案中，具体形成100nm的膜。在本实施方案中，用硅靶在含有氩的气氛中形成含有氩的非晶硅膜。当等离子体CVD方法被用来形成含有氩的非晶硅膜时，其形成条件是：单硅烷对氩的流速比(SiH4∶Ar)被控制为1/99；淀积时的压力为6.665Pa(0.05乇)；淀积时的RF功率密度为0.087W/cm2；淀积温度为350℃。
然后加热到650℃的炉子被用于3分钟的吸杂热处理，以便降低具有晶体结构的半导体膜中的镍浓度。可以用灯退火装置来代替炉子。
随后，用势垒层作为腐蚀停止层，选择性地清除吸杂位置的含有氩的非晶硅膜，然后，用稀释的氢氟酸选择性地清除势垒层。注意，在吸杂过程中，存在着镍可能移动到氧浓度高的区域的倾向，因此，最好在吸杂之后清除由氧化物膜组成的势垒层。
注意，在不采用使用催化剂的晶化方法的情况时，不需要执行上述的形成势垒层，形成吸杂位置，进行吸杂热处理，清除吸杂位置和清除势垒层等工艺。
然后，在得到的具有晶体结构的硅膜(也称为多晶硅)的表面上从臭氧水形成薄的氧化物膜之后，形成由抗蚀剂组成的掩模，并对其进行腐蚀工艺，以便得到所希望的形状，从而形成彼此分隔开的小岛状半导体层。在形成半导体层之后，清除由抗蚀剂组成的掩模。
然后，用含有氢氟酸的腐蚀剂清除氧化物膜，同时清洗硅膜的表面。然后，形成含有硅作为其主要成分的绝缘膜，成为栅绝缘膜。在本实施例中，用等离子体CVD方法形成了厚度为115nm的氮化氧化硅膜(组成成分比为：Si＝32％，O＝59％，N＝7％，H＝2％)。
随后，在栅绝缘膜上形成栅电极，并适当地通过掺杂杂质到激活层形成源区/漏区，然后形成层间绝缘膜，形成源电极或漏电极，并实施激活处理，以便得到以多晶硅膜作为激活层的顶栅型TFT303。注意，在图5中，仅示出了像素部分的电流控制TFT，然而开关TFT和驱动像素部分的驱动电路也在同一衬底上形成。
然后，形成在一对电极(阳极，阴极)之间提供含有有机化合物的层(下文称做有机化合物层)，对该一对电极之间施加电场能够得到荧光或磷光的发光元件的第一电极。首先，形成作为阳极或阴极的第一电极304。在此举出采用功函数大的金属膜(Cr，Pt，W等)，或透明导电膜(ITO(氧化铟锡合金)、氧化铟-氧化锌合金(In2O3-ZnO)膜、氧化锌(ZnO)膜等)作为第一电极304，并使其作为阳极发挥作用的例子。
另外，将TFT的源电极或漏电极用作第一电极时，或者另外形成与源区或漏区连接的第一电极时，TFT包括第一电极。
随后，在第一电极(阳极)的两边端上，形成隔离物(也称做堤岸(bank)、障碍物、堤等)305a，并使该隔离物围住第一电极的周边。为了获得良好的覆盖，最好使隔离物的上边缘部分或下边缘部分成为具有曲率半径的弯曲形状。例如，若正性光敏丙烯酸被用作隔离物的材料，则最好仅仅弯曲隔离物的上边缘部分使其具有曲率半径(优选为0.2μm-3μm)。另外，在光照下变成不溶于腐蚀剂的负性光敏材料以及在光照下变成溶于腐蚀剂的正性光敏材料，都能够被用于隔离物305a。
另外，层叠多个有机树脂的情形中，在涂敷或焙烧时，因有使这些有机树脂使用的溶剂的一部分溶解，或使粘合性过高的危险。所以，用有机树脂作为隔离物的材料时，为使在后面的工艺中用水溶性树脂涂敷后容易被去除，最好用无机绝缘膜(SiNX膜，SiNXOY膜，AlNX膜，或AlNXOY膜)覆盖隔离物305a。该无机绝缘膜作为隔离物305b的一部分发挥作用(图5A)。
然后，对整个可溶性粘接材料涂敷水或醇类，并进行焙烧。环氧树脂、丙烯酸树脂、硅树脂等中任何一种可以构成上述粘合材料。在此，用旋涂涂敷由水溶性树脂(东亚合成制：VL-WSHL10)制成的膜(膜的厚度为30μm)306，随后进行2分钟的曝光以实现初步固化，然后用UV光辐照内面2.5分钟，表面10分钟，共计12.5分钟以实现正式固化(图5B)。该水溶性树脂作为平整膜发挥作用，故在后面的粘合衬底的工艺时，可以将平整膜的表面和衬底表面基本平行地粘合在一起。如果不采用该水溶性树脂膜，在被施压时，有产生由电极或TFT导致的不规则的担忧。
为了使后面的剥离工艺容易被实施，下述工艺用于部分降低金属膜301a和金属氧化物膜301b或者金属氧化膜301b和氧化物膜302的粘合性。用于部分降低粘合性的处理是激光照射，其中用激光沿着要剥离区域的周边部分照射金属氧化膜301b，或沿着要剥离区域的周边部分从外部施加局部压力，以损坏金属氧化膜301b的层内的一部分或交接面的一部分。具体地说，用金刚石笔等垂直压下硬针，并且边移动所述层边施加负荷。最好使用划线器装置并且将下压量设在0.1mm到2mm，以便边移动所述层边施加压力。以这种方式在剥离之前对容易发生剥离现象的部分，实施选择性(部分地)降低粘合性的预处理，即引发机制是重要的，从而避免了剥离失败并且提高了产量。
然后，使用双面胶带307将由水溶性树脂制成的膜306粘合到第二衬底308。并且，使用双面胶带309将第一衬底300粘合到第三衬底310(图5C)。第三衬底310保护第一衬底300在后面的剥离工艺中不受损伤。第二衬底308和第三衬底310最好采用刚度比第一衬底300更高的衬底，比如，石英衬底，半导体衬底。另外，可以采用粘合剂来代替双面胶带，比如可以使用通过紫外线照射来剥离的粘合剂。
接下来，将其上形成有金属膜301a的第一衬底300、用物理方法从部分降低了粘接力的区域的那一侧开始撕开。可用相对小的力(如用人的手、通过喷嘴喷射的气压、超声波等)撕开并剥离。这样，就可以从第一衬底300分离在氧化硅层302上形成的待剥离层。图5D示出剥离时的状态。另外，图7A表示剥离后的第一衬底300的横截面TEM(透射电子显微镜)照片。注意，图7A是与图6A不对应，分别是表示不同部分的TEM照片。如图7A所示，在一部分存在着氧化钨膜厚度薄的部分和完全没有氧化钨膜的部分。虽然在待剥离层上残留有氧化钨膜的一部分，但由于该氧化钨膜具有透明性，所以可以清除也可以不清除该氧化钨膜。在本实施例中，该氧化钨膜被清除。
而且，通过利用上述转移技术，不用玻璃衬底就不能得到的电特性(典型的是场效应迁移率)优良的TFT，可以在保持其优良电特性的状态下被转移到塑料衬底上。
然后，用粘接材料311粘接第四衬底312和氧化物层302(以及待剥离层)(图5E)。重要的是，用粘接材料311粘接的第四衬底312和氧化物层302(以及待剥离层)的粘接性高于用双面胶带307粘接的第二衬底308和待剥离层的粘接性。
第四衬底312使用塑料衬底(由具有极性基的冰片烯(norbornene)树脂组成的ARTON：日本JSR公司制造)。另外，可以采用聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚醚砜(PES)、聚萘酸乙酯(polyethylene naphthalate)(PEN)、聚碳酸脂(PC)、尼龙、聚醚醚酮(PEEK)、聚砜(PSF)、聚醚酰亚胺(PEI)、聚芳酯(PAR)、聚对苯二甲酸丁二酯(PBT)和聚酰亚胺等的塑料衬底。
反应固化型粘合剂，热固化型粘合剂、紫外线固化型等的光固化型粘合剂，厌氧型粘合剂等各种固化型粘合剂可以作为粘合材料311。
接着，从双面胶带307分离第二衬底308(图5F)。
然后剥离双面胶带307(图5G)。
然后，用水溶化水溶性树脂306并清除掉该水溶性树脂306(图5H)。如果在此有水溶性树脂被残留，会成为缺陷的原因，所以优选通过清洗处理或O2等离子处理来清洁第一电极304的表面。
如果有必要，可以将交接面(interface)活性剂(弱碱)包含于多孔海绵(典型地，由PVA(聚乙烯醇)或尼龙制成)中，用其擦拭和清洗第一电极304的表面以便其清洁表面。
然后，在形成含有有机化合物的层313之前，进行真空加热以便清除附着于提供有TFT以及隔离物的衬底整体的水分。并且，在马上就要形成含有有机化合物的层313时，对第一电极进行紫外线照射。
然后，在第一电极上用使用气相淀积掩膜的气相淀积法，或者喷墨法选择地形成含有有机化合物的层313。作为含有机化合物的层313，它可以作成由高分子量材料、低分子量材料、无机材料构成的层，或由这些材料混合构成的层，或这些材料分散在其中的层，或由这些层适当组合构成的叠层。
然后，在含有有机化合物的层313上形成第二电极(阴极)314(图5I)。阴极314可使用功函数小的材料(例如Al，Ag，Li、Ca，或这些材料的合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、或CaN)的薄膜(使光能透射过去的厚度)和透明导电膜的叠层。另外，如果有必要，可以用溅射法或气相淀积法形成覆盖第二电极的保护层。作为保护层，可以使用通过溅射或CVD得到的氮化硅膜，氧化硅膜，氮化氧化硅膜(SiNO膜(成分比N＞O)或SiON膜(成分比N＜O))和以碳作为主要成分的薄膜(诸如DLC膜，CN膜)。
然后，在作为密封材料的第五衬底316上按如图1所示的第一密封材料的图案描画包含维持一对衬底间隙的间隙材料的密封材料(图中没有表示出)。因在本实施例中举出的是使发光元件的发光透过第五衬底316的例子，第五衬底316是具有透光性的衬底。在此，第五衬底采用和第四衬底相同的塑料衬底(ARTON：日本JSR公司制造)以便实现它们具有相同的热膨胀系数由此防止衬底的翘曲。ARTON衬底不容易产生双折射，是吸水性低的衬底，故适合做第五衬底的材料。使用塑料衬底的情况时，在描画第一密封材料的图案之前，优选实施提高塑料衬底和密封材料的粘合性的预处理(乙醇擦拭，紫外线照射，O2等离子处理等)。
然后，根据实施方案模式1，滴注几滴粘度低的密封材料，使用图2或图4所示的粘合装置来粘合密封衬底和有源矩阵衬底，而不会形成气泡。在图2或图4中所示的粘合装置特别在粘合两个柔软塑料衬底时能发挥其作用。另外，滴注几滴粘度低的密封材料的粘合方法，对于粘合两个柔软塑料衬底，也是有用的方法。通过上述粘合工艺，密封了衬底并使提供在密封衬底上的密封材料图案处于围住提供在有源矩阵衬底上的发光区域的位置，另外，在被密封材料围住的空间中填充由有机树脂制成的透明粘合材料315来实现密封(图5J)
通过以上的工艺，能够制作以塑料衬底312和塑料衬底316为支撑部件并具有TFT和发光元件的发光器件。通过以上工艺得到的发光器件因用塑料衬底作为支撑部件，所以该发光器件的厚度薄，重量轻，并且具有柔性。在图8中示出一个一边用手指弄弯屏幕一边在屏幕上显示图像的有源矩阵型发光器件。在图8所示的发光器件是根据本实施例的制作方法制成的器件。
下文将用图9A和9B说明底面发射结构的发光器件的一个实例。
图9A是示出发光器件的俯视图，图9B是沿图9A中线A-A’切割构成的横截面视图。用虚线表示的1201是源信号线驱动电路、1202是像素部分、1203是栅信号线驱动电路。1204是塑料衬底(ARTON)、1205是含有保持两个衬底间隔的间隙材料的密封材料，密封材料1205围成的内侧空间由密封材料1207填充。
另外，用于传送输入到源信号线驱动电路1201和栅信号线驱动电路1203的信号的线路1208从作为外部输入终端的FPC(柔性印刷电路)1209接收视频信号或时钟信号。
其次，横截面结构将参考图9B说明。驱动电路和像素部分中间夹粘合材料1240形成在具有透光性的衬底1210之上，这里，示出作为驱动电路的源信号线驱动电路1201和像素部分1202。另外，源信号线驱动电路1201用n沟道型TFT 1223和p沟道型TFT 1224组合的CMOS电路形成。
另外，像素部分1202由多个像素形成，每个包括开关TFT 1211、电流控制TFT 1212和由透明导电膜制成的第一电极(阳极)1213，其中第一电极与电流控制TFT 1212的漏区有电连接。
这里示出的结构为：第一电极1213的一部分和连接电极重叠，第一电极1213经连接电极电连接到TFT的漏区。第一电极1213优选使用有透明性而且功函数大的导电膜(ITO(氧化铟氧化锡合金)、氧化铟氧化锌合金(In2O3-ZnO)、氧化锌(ZnO)等)。
而且，在第一电极(阳极)1213的两边沿部分上，形成绝缘体(称为堤坝、隔离物，障碍物，势垒等)1214。为了获得良好的覆盖，最好使绝缘体1214的上边沿部分或下边沿部分成为具有曲率半径的弯曲形状。可以用由氮化铝膜、氮化氧化铝膜、以碳为主要成分的薄膜，或氮化硅膜制作的保护膜来覆盖绝缘体1214。
用使用气相淀积掩模的气相淀积法或用喷墨方法将含有有机化合物层1215选择地形成在第一电极(阳极)1213。第二电极(阴极)1216形成在含有有机化合物的层1215之上。阴极可使用功函数小的材料(例如Al，Ag，Li、Ca，或这些材料的合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、或CaN)。通过以上步骤形成由第一电极(阳极)1213，含有有机化合物的层1215及第二电极(阴极)1216构成的发光元件1218。这里，发光元件1218按图9所示的箭头方向发光。这里，发光元件1218是从R，G或B的单色发光得到的发光元件的一个，通过各自选择地形成能够得到R，G，B发光的含有有机化合物的层而形成的3个发光元件，可以得到全色显示。
为了密封发光元件1218形成保护层1217，作为透明保护层1217，优选使用通过溅射法(DC法或RF法)或PCVD法获得的以氮化硅或氮化氧化硅作为主要成分的绝缘膜，以碳作为主要成分的薄膜(诸如DLC膜，CN膜)或这些膜的叠层。如果使用硅制成的靶在包括氮和氩的气氛中形成的膜作为保护膜，可以获得对水和碱性金属等杂质有极高封闭效果的氮化硅膜。另外，可使用氮化硅制成的靶代替用硅制成的靶。保护层还可以借助使用遥控等离子体的膜形成设备而形成。
另外，为了密封发光元件1218，在惰性气体气氛中，用第一密封材料1205和第二密封材料1207将衬底和塑料衬底1204粘合在一起。另外，作为第一密封材料1205，优选使用具有高粘度且含有填充剂的环氧类树脂。而且，作为第二密封材料1207，优选使用具有高透光性和低粘度的环氧类树脂。此外，密封材料1205和1207优选尽量不渗透潮气或氧的材料。
另外，衬底1210是在形成了TFT之后粘合的塑料衬底(ARTON)。注意，粘合衬底1210之前使用的衬底，通过上述剥离法被去除或剥离。
注意，虽然在此使用从氧化钨膜的交接面附近剥离的方法，但剥离方法并不特别受限于此，比如可以使用在第一衬底上形成含有氢元素的非晶硅膜之后，辐照激光束来执行分离的剥离法，也可以使用用溶液或气体来蚀刻或者机械研磨来削去第一衬底的剥离法。
本实施例能够与实施方案模式1或2中的任何一个自由组合。
实施例2
虽然在实施例1中示出了粘合塑料衬底的例子，但本发明也可以适用于粘合其它衬底。本实施例用图10A和10B示出制作发光器件(顶部发光结构)的一个实例，其中，发光器件在玻璃衬底上具有以有机化合物层为发光层的发光元件。
在常规的具有发光元件的发光器件结构中，其中发光元件是由在衬底上形成一个电极作为阳极、在阳极上形成有机化合物层，以及在有机化合物层上形成阴极而构成，并且有机化合物层中产生的光是从阳极朝向TFT的方向获取(以下将这种结构称为底部发射)。
虽然上述底部发射结构的发光元件可以覆盖包封外壳，但在衬底上形成一个电极作为阳极、在阳极上形成有机化合物层、并在其上形成阴极作为透明电极的结构(以下将这种结构称为顶部发射)无法使用由遮光材料制成的包封外壳。并且，在顶部发射结构中，像素部分上的干燥剂干扰了显示。而且，为了不使其吸湿，要求小心处置和快速封闭干燥剂。
与底部发射结构相比，顶部发射结构中在有机化合物层产生的光所需通过的材料层少，因而能够抑制反射率不同的各个材料层之间的杂散光。
本实施例中，在粘合玻璃衬底1104和玻璃衬底1110时，采用在实施方案模式1或实施方案模式2中所示的粘合方法以及粘合装置。
另外，图10A是示出发光器件的俯视图，图10B是沿图10A中线A-A’切割的横截面图。用虚线表示的1101是源信号线驱动电路、1102是像素部分、1103是栅信号线驱动电路。1104是透明的密封衬底、1105是第一密封材料，第一密封材料1105围成的内侧填充有透明的第二密封材料1107。第一密封材料1105中含有保持衬底间隔的间隙材料。
另外，用于传送输入到源信号线驱动电路1101和栅信号线驱动电路1103的信号的线路1108从作为外部输入终端FPC(柔性印刷电路)1109接收视频信号或时钟信号。尽管这里只说明了FPC，此FPC可以附连有印刷线路板(PWB)。
其次，横截面结构将参考图10B说明。在玻璃衬底1110上形成驱动电路和像素部分，其中两者中间夹叠层1150和粘接材料1140，但是这里，仅示出作为驱动电路的源信号线驱动电路1101和像素部分1102。
另外，源信号线驱动电路1101由n沟道型TFT 1123和p沟道型TFT 1124组合的CMOS电路形成。而且，根据实施例1也可以形成上述TFT。另外，形成驱动电路的TFT可以用众所周知的CMOS电路、PMOS电路或NMOS电路形成。另外，尽管在本实例中，示出了在衬底之上形成驱动电路的驱动器集成型，然而驱动器集成型不是必须需要的，驱动电路可以不形成在衬底之上，可以在其外。另外，以多晶硅膜作激活层的TFT的结构不受特别限制，其可以是顶栅型TFT，也可以是底栅型TFT。
另外，像素部分1102由多个像素形成，每个包括开关TFT 1111、电流控制TFT 1112，和第一电极(阳极)1113，第一电极电连接到电流控制TFT 1112的漏区。作为电流控制TFT 1112，其可以是n沟道型TFT也可以是p沟道型TFT。在其与阳极连接的情形中，优选的是p沟道型TFT。另外，优选的是适当地提供存储电容器(没有图示出)。另外，无数个被排列的像素当中，只有一个像素的横截面被示出，这里虽示出2个TFT用于此一个像素的实例，3个TFT或更多，也可以被适当地用于一个像素。
由于第一电极1113直接接触到TFT的漏区，故优选第一电极1113的底层由能够与漏区形成欧姆接触的硅组成的材料构成，并且，与有机化合物层接触的第一电极1113的表面，最好由功函数大的材料组成。当第一电极由三层叠层结构，例如氮化钛膜、铝基膜、以及氮化钛膜组成时，第一电极能够减小线路电阻，形成对漏区的良好欧姆接触，并用作阳极。此外，第一电极1113可以由氮化钛膜，铬膜，钨膜，Zn膜，Pt膜等单层膜，或者3层或更多层的叠层构成。
而且，在第一电极(阳极)1113的两边沿部上，形成绝缘体(称为堤坝、隔离物，障碍物，势垒等)1114。绝缘体1114可以由有机树脂膜或含有硅的绝缘膜组成。此处，正性光敏丙烯酸树脂膜被用来形成如图10所示的绝缘体1114。
为了获得良好的覆盖度，最好使绝缘体1114的上边沿部分或下边沿部分成为具有曲率半径的弯曲形状。例如，若正性光敏丙烯酸被用作绝缘材料1114的材料，则最好仅仅弯曲绝缘材料的上边沿部分使其具有曲率半径(优选为0.2μm-3μm)。在光照下变成不溶于腐蚀剂的负性光敏材料以及在光照下变成溶于腐蚀剂的正性光敏材料，都能够被用于绝缘体1114。
可以用由氮化铝膜、氮化氧化铝膜、以碳为主要成分的薄膜，或氮化硅膜制作的保护膜来覆盖绝缘体1114。
通过使用气相淀积掩模的气相淀积法或用喷墨方法将含有有机化合物的层1115选择地形成在第一电极(阳极)1113之上。第二电极(阴极)1116形成在含有有机化合物的层1115之上。阴极可使用功函数小的材料(例如Al，Ag，Li、Ca，或这些材料的合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2、或CaN)。这里，为使光能透射过去，第二电极1116使用包括厚度薄的金属薄膜，透明导电膜(由氧化铟氧化锡合金(ITO)、氧化铟氧化锌合金(In2O3-ZnO)、氧化锌(ZnO)等)制成的叠层。注意，形成该透明导电膜是为了降低电阻。通过以上步骤形成由包括第一电极(阳极)1113，含有有机化合物的层1115及第二电极(阴极)1116构成的发光元件1118。这里示出的是发光元件1118发白色光的实例，因而，提供有由上色层1131和光遮挡层1132制成的滤色器(为简单起见，外涂层在这里没有图示出)。
另外，如果各自选择地形成能够得到R，G，B发光的含有有机化合物的层，不需要滤色器也可以得到全色显示。
为了密封发光元件1118形成透明保护层1117，作为透明保护层1117，优选的是，使用通过溅射法(DC法或RF法)或PCVD法获得的以氮化硅或氮化氧化硅作为主要成分的绝缘膜，以碳作为主要成分的薄膜(诸如DLC膜，CN膜)或这些膜的叠层。如果使用用硅制成的靶在含有氮和氩的气氛中形成的膜，可以获得对水和碱性金属等杂质有极高封闭效果的氮化硅膜。另外，可使用氮化硅制成的靶代替硅制成的靶。透明保护层还可以通过使用遥控等离子体(remote plasma)的形成膜的设备而形成。为使光能透射过透明保护层，优选的是，使透明保护层的膜的厚度尽可能地薄。
另外，为了密封发光元件1118，在惰性气体气氛中，用第一密封材料1105，第二密封材料1107将衬底和密封衬底1104粘合在一起。另外，作为第一密封材料1105和第二密封材料1107，优选的是使用环氧类树脂。此外，第一密封材料1105和第二密封材料1107优选尽量不渗透潮气或氧的材料。
通过如上所述，密封发光元件于第一密封材料1105和第二密封材料1107，发光元件可以完全地与外界阻断，所以可以防止诸如潮气或氧这样加速有机化合物层退化的物质从外界入侵。
本实施例可以与实施方案模式1或2，实施例1中任意一个自由组合。
实施例3
本实施例用图11A和11B示出不同于实施方案模式1的密封材料图案的实例。
图11A示出了粘合之前密封衬底(第二衬底72)的俯视图的一个例子。图11A示出了从一个衬底形成具有一个像素部分的发光器件的例子。
首先，利用分配器在塑料衬底的第二衬底72上形成6条第一密封材料76，然后在其中滴注几滴粘度比第一密封材料低的第二密封材料。第一密封材料的安置要使第二密封材料不蔓延到端子部分。注意，滴注了第二密封材料的第二衬底的俯视图对应于图11A。注意，塑料衬底的第二衬底72预先切成需要的尺寸。
然后，将其上形成有像素部分73或驱动电路部分74以及端子部分75的第一衬底71粘合到第二衬底。第一衬底71可以是玻璃衬底，也可以是塑料衬底。但是，如果衬底之间的热膨胀系数不同，就有产生衬底翘曲的危险，所以第一衬底采用和第二衬底有相同热膨胀系数的材料。图11B示出了一对衬底刚刚被粘合之后的俯视图。第一密封材料的粘度高，故在粘合时扩展很小。但第二密封材料的粘度低，故第二密封材料在粘合时平坦地扩展开，如图11B所示。第二密封材料在各个第一密封材料76之间被挤出，亦即沿图11B所示方向向着开口部分被挤出。因而能够阻止气泡存在于被第二密封材料填充的第一密封材料76之间的区域内。第一密封材料76与第二密封材料77b即使接触也不会混合，且第一密封材料76的粘度使得其形成位置不被第二密封材料77b改变。注意，第一密封材料76包含用来维持两个衬底之间的间隙的间隙材料(填充剂，细小颗粒等)。
本实施例可以与实施方案模式1或2，实施例1或2中任意的一个自由组合。
实施例4
借助于将实施本发明而得到的发光器件用于其中的显示部分，能够生产各种电子器具。这些电子器具的例子包括摄像机、数码相机、风镜式显示器(头戴式显示器)、导航系统、放声器(汽车音响、音响部件等)、笔记本计算机、游戏机、便携式信息终端(移动计算机、手提电话、便携式游戏机、电子图书等)、以及包括记录媒质的放像设备(具体地说是能够处理诸如数字万能碟盘(DVD)之类的记录媒质中的数据并具有能够显示数据图像的显示器的装置)。图12A-12H示出了其实际例子。
图12A示出了一种电视，它包含机壳2001、底座2002、显示部分2003、扬声器单元2004、图像输入端子2005等。本发明被用于显示部分2003。术语电视包括用来显示信息的所有电视，例如个人计算机的电视、用来接收TV广播的电视、以及用于广告的电视。
图12B示出了一种数码相机，它包含主体2101、显示部分2102、图像接收单元2103、操作键2104、外部接口2105、快门2106等。本发明被用于显示部分2102。
图12C示出了一种笔记本计算机，它包含主体2201、机壳2202、显示部分2203、键盘2204、外部接口2205、鼠标2206等。本发明被用于显示部分2203。
图12D示出了一种移动式计算机，它包含主体2301、显示部分2302、开关2303、操作键2304、红外端口2305等。本发明被用于显示部分2302。
图12E示出了一种配备有记录媒质(具体地说是DVD播放器)的便携式放像设备。此设备包含主体2401、机壳2402、显示部分A 2403、显示部分B 2404、记录媒质(例如DVD)读出单元2405、操作键2406、扬声器单元2407等。显示部分A 2403主要显示图像信息，而显示部分B 2404主要显示文本信息。本发明被用于显示部分A 2403和B2404。术语配备有记录媒质的放像装置包括家用游戏机。
图12F示出了一种游戏机，它包含主体2501、显示部分2505、以及操作开关2504等。
图12G示出了一种摄像机，它包含主体2601、显示部分2602、机壳2603、外部接口2604、遥控接收单元2605、图像接收单元2606、电池2607、声音输入单元2608、操作键2609等。本发明被用于显示部分2602。
图12H示出了一种手提电话，它包含主体2701、机壳2702、显示部分2703、声音输入单元2704、声音输出单元2705、操作键2706、外部接口2707、天线2708等。本发明被用于显示部分2703。借助于显示部分2703在黑色背景上显示白色字符，则能够降低手提电话的功耗。
如上所述，借助于实施本发明而得到的发光器件可以被用作任何电子器具的显示部分。本实施例的电子器具可以采用实施方案模式1或2，实施例1乃至3所示发光器件的任何一种结构。
根据本发明，在粘合一对衬底(确切地说，具有柔性的塑料衬底)时，能够使透明密封材料填充空间而不包含气泡。因此，能够得到具有高可靠性的发光器件。

Claims (17)

1.一种发光器件的制作方法，其中所述发光器件包含一对衬底之间的具有多个发光元件的像素部分，并且该对衬底中至少有一个衬底具有透光性，而且其中所述发光元件分别包含：第一电极；和该第一电极表面连接的有机化合物层；以及和该有机化合物层表面连接的第二电极，所述发光器件的制作方法包括以下步骤：
在其中一个衬底上形成像素部分；
在另一个衬底上描画各具有直线形状的至少一对第一密封材料；
在被所述第一密封材料围住的区域中按不同的滴注量，滴注多滴比所述第一密封材料粘度低的第二密封材料；
粘合所述一对衬底，并安排所述第一密封材料围住所述像素部分，而且使至少一对所述第一密封材料之间填充有所述第二密封材料；
其中，所述第二密封材料至少被滴注在由所述第一密封材料围住的中心部分以及环绕该中心部分的位置上，并且，滴注在中心部分的滴注量比滴注在环绕该中心部分的位置的滴注量更大。
2.根据权利要求1的发光器件的制作方法，其中，当描画至少两对第一密封材料时，至少在四个角落处存在开口部分。
3.根据权利要求1的发光器件的制作方法，其中，所述第一密封材料包含维持所述一对衬底之间间隔的间隙材料。
4.根据权利要求1的发光器件的制作方法，其中，所述第二密封材料在所述开口处被暴露，且该暴露出来的第二密封材料的周边呈弯曲状。
5.根据权利要求1的发光器件的制作方法，其中，所述第二密封材料在所述开口处被暴露，且该暴露出来的第二密封材料的周边从所述开口处凸出。
6.一种发光器件的制作方法，其中所述发光器件包含一对衬底之间的具有多个发光元件的像素部分，并且该对衬底中至少有一个衬底具有透光性，而且其中所述发光元件分别包含：第一电极；和该第一电极表面连接的有机化合物层；以及和该有机化合物层表面连接的第二电极，所述发光器件的制作方法包括以下步骤：
在其中一个衬底上形成像素部分；
在另一个衬底上描画直线形状的第一密封材料；
在被所述第一密封材料围住的区域中按不同的滴注量，滴注多滴比所述第一密封材料粘度低的第二密封材料；
在粘合所述一对衬底以将所述第一密封材料围住所述像素部分时，借助于加压使所述第二密封材料互相相对扩延，从而填充所述第一密封材料之间的空间；
固化所述第一密封材料和第二密封材料；
其中，所述第二密封材料至少被滴注在由所述第一密封材料围住的中心部分以及环绕该中心部分的位置上，并且，滴注在中心部分的滴注量比滴注在环绕该中心部分的位置的滴注量更大。
7.根据权利要求6的发光器件的制作方法，其中，固化所述第一密封材料和第二密封材料的工艺采用辐照紫外线工艺或加热工艺。
8.根据权利要求6的发光器件的制作方法，其中，在完成固化所述第一密封材料和第二密封材料的工艺后，沿着所述第一密封材料分割所述一对衬底。
9.一种制造装置，它包括：
以预定的间隔粘合一对衬底的衬底粘合装置；
被安置成互相面对面的两个衬底支撑台；以及
借助施压于上述两个衬底支撑台从而挤压密封材料的装置，
其中，至少其中一个所述衬底支撑台被氟化树脂的膜所覆盖。
10.根据权利要求9的制造装置，其中，所述含有氟化树脂的膜是选自聚四氟乙烯，四氟乙烯-六氟丙烯共聚物(tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer)，聚氯三氟乙烯(Polychlorotrifluoroethylene)，四氟乙烯-乙烯共聚物(tetrafluoroethylene-ethylene copolymer)，聚氟乙烯(Polyvinyl fluoride)，二氟树脂(Polyvinylidene Fluoride)中之一种。
11.一种制造装置，它包括：
以预定的间隔粘合一对衬底的衬底粘合装置；
被安置成互相面对面的两个衬底支撑台；以及
借助施压于上述两个衬底支撑台从而挤压密封材料的装置，
其中，用双面胶带将所述衬底各自固定在所述两个衬底支撑台。
12.根据权利要求11的制造装置，其中所述两个衬底支撑台中至少有一个是由透光材料制成，并且，在粘合所述一对衬底后，照射透过一方衬底支撑台的光从而固化所述密封材料。
13.根据权利要求11的制造装置，其中，所述双面胶带是光照射后其粘接力会降低的胶带，并且，在粘合所述一对衬底后，照射透过衬底支撑台的光从而固化所述密封材料，同时也降低了所述双面胶带的粘接力。
14.根据权利要求13的制造装置，其中，所述两个衬底支撑台的至少一方是由透光材料构成，从光源发射出来的光透过一方的衬底支撑台，被反射在另一方的衬底支撑台的表面。
15.根据权利要求14的制造装置，其中，所述两个衬底支撑台的至少一方配备有加热装置，在粘合所述一对衬底后，借助加热来固化所述密封材料。
16.一种发光器件的制作方法，包括以下步骤：
在第一衬底上形成像素部分；
在第二衬底上描画各具有直线形状的至少一对第一密封材料；
在被所述第一密封材料围住的区域中按不同的滴注量，滴注多滴比该第一密封材料粘度低的第二密封材料；以及
粘合所述一对衬底，并安排所述第一密封材料围住所述像素部分，而且使至少一对所述第一密封材料之间填充有所述第二密封材料；
其中，所述第二密封材料至少被滴注在由所述第一密封材料围住的中心部分以及环绕该中心部分的位置上，并且，滴注在中心部分的滴注量比滴注在环绕该中心部分的位置的滴注量更大。
17.一种发光器件的制作方法，包括以下步骤：
在第一衬底上形成像素部分；
在第二衬底上描画各具有直线形状的至少一对第一密封材料；
在被所述第一密封材料围住的第一区域和第二区域中滴注比该第一密封材料粘度低的第二密封材料，并使滴注在第一区域的滴注量比滴注在第二区域的滴注量大；以及
粘合所述一对衬底，并安排所述第一密封材料围住所述像素部分，而且使至少一对所述第一密封材料之间填充有所述第二密封材料；
其中，所述第二密封材料至少被滴注在由所述第一密封材料围住的中心部分以及环绕该中心部分的位置上，并且，滴注在中心部分的滴注量比滴注在环绕该中心部分的位置的滴注量更大。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107863357A (zh) * 2017-11-15 2018-03-30 上海天马微电子有限公司 一种阵列基板、显示面板及显示装置

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10203809B4 (de) * 2002-01-31 2010-05-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement
JP4240276B2 (ja) 2002-07-05 2009-03-18 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
KR101032337B1 (ko) 2002-12-13 2011-05-09 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광장치 및 그의 제조방법
CN1732714B (zh) * 2002-12-26 2011-07-13 株式会社半导体能源研究所 发光装置
US7109655B2 (en) * 2002-12-26 2006-09-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method for manufacturing the same
EP2256807A3 (en) * 2003-01-08 2017-05-17 Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. Semiconductor device and its fabricating method
JP4401657B2 (ja) * 2003-01-10 2010-01-20 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の製造方法
JP3865245B2 (ja) * 2003-03-12 2007-01-10 富士電機ホールディングス株式会社 有機ｅｌディスプレイの製造方法および製造装置
US7253391B2 (en) 2003-09-19 2007-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Optical sensor device and electronic apparatus
US7495272B2 (en) * 2003-10-06 2009-02-24 Semiconductor Energy Labortaory Co., Ltd. Semiconductor device having photo sensor element and amplifier circuit
US7202504B2 (en) 2004-05-20 2007-04-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element and display device
KR101020661B1 (ko) 2004-06-02 2011-03-09 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치
TWI287657B (en) * 2004-07-09 2007-10-01 Innolux Display Corp Curing sealant device, curing sealant method and fabricating method for liquid crystal panel
US7591863B2 (en) * 2004-07-16 2009-09-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laminating system, IC sheet, roll of IC sheet, and method for manufacturing IC chip
US7316756B2 (en) * 2004-07-27 2008-01-08 Eastman Kodak Company Desiccant for top-emitting OLED
WO2006022169A1 (en) 2004-08-23 2006-03-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and manufacturing method thereof
US7753751B2 (en) 2004-09-29 2010-07-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of fabricating the display device
JP4817636B2 (ja) 2004-10-04 2011-11-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置およびその作製方法
TWI405496B (zh) * 2004-12-13 2013-08-11 Sanyo Electric Co 有機電場發光元件之封裝方法，及發光面板以及顯示面板之製造方法
WO2006071106A1 (en) * 2004-12-27 2006-07-06 Otb Group B.V. Method for manufacturing an oled or a blank for forming an oled as well as such a blank or oled
JP2006210297A (ja) * 2005-01-31 2006-08-10 Tdk Corp Ｅｌパネルの製造方法
US7588969B2 (en) * 2005-05-31 2009-09-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor device
KR100799289B1 (ko) * 2005-09-27 2008-01-30 세이코 엡슨 가부시키가이샤 발광 장치 및 발광 장치의 제조 방법
KR100781613B1 (ko) * 2006-01-19 2007-12-05 네오뷰코오롱 주식회사 화상표시장치, 유기발광다이오드 장치 및 그것의 제조 방법
KR100707391B1 (ko) * 2006-04-06 2007-04-13 주식회사 아바코 유기발광소자의 캡 글라스에 접착필름을 부착하는 장치 및방법
KR100822204B1 (ko) * 2006-06-07 2008-04-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치
EP1986238A3 (en) * 2007-04-27 2010-12-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Resin molded optical semiconductor device and corresponding fabrication method
US8716850B2 (en) 2007-05-18 2014-05-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
KR20090015734A (ko) 2007-08-09 2009-02-12 엘지이노텍 주식회사 광원 장치
JP5591479B2 (ja) * 2009-03-13 2014-09-17 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
KR101084274B1 (ko) 2009-10-08 2011-11-16 삼성모바일디스플레이주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
KR101094280B1 (ko) * 2009-11-10 2011-12-19 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광표시장치 및 그의 제조 방법
TWI463450B (zh) * 2010-07-28 2014-12-01 E Ink Holdings Inc 顯示器及其製造方法
US8654537B2 (en) 2010-12-01 2014-02-18 Apple Inc. Printed circuit board with integral radio-frequency shields
US8279625B2 (en) 2010-12-14 2012-10-02 Apple Inc. Printed circuit board radio-frequency shielding structures
JP5581249B2 (ja) * 2011-03-10 2014-08-27 新日鉄住金化学株式会社 インクジェット印刷装置による直線描画方法
US9179538B2 (en) 2011-06-09 2015-11-03 Apple Inc. Electromagnetic shielding structures for selectively shielding components on a substrate
JP2013109836A (ja) * 2011-11-17 2013-06-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 有機ｅｌパネルの製造方法及び有機ｅｌパネルの封止装置
CN103187542B (zh) * 2011-12-29 2016-09-07 丽佳达普株式会社 有机发光元件封装装置以及有机发光元件封装方法
KR101879831B1 (ko) * 2012-03-21 2018-07-20 삼성디스플레이 주식회사 플렉시블 표시 장치, 유기 발광 표시 장치 및 플렉시블 표시 장치용 원장 기판
WO2014021698A1 (ko) 2012-08-03 2014-02-06 주식회사 엘지화학 접착 필름 및 이를 이용한 유기전자장치의 봉지 방법
KR102481056B1 (ko) 2012-08-10 2022-12-27 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 전자 장치
KR20140064167A (ko) * 2012-11-19 2014-05-28 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치의 제조 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법
KR102055281B1 (ko) * 2013-05-21 2019-12-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
TWI671141B (zh) * 2013-08-30 2019-09-11 半導體能源研究所股份有限公司 支撐體供應裝置及供應支撐體的方法
JP6425877B2 (ja) * 2013-09-26 2018-11-21 株式会社ジャパンディスプレイ 表示素子およびその製造方法
JP6513929B2 (ja) 2013-11-06 2019-05-15 株式会社半導体エネルギー研究所 剥離方法
WO2015162893A1 (ja) * 2014-04-22 2015-10-29 株式会社Ｊｏｌｅｄ 有機ｅｌパネルの製造方法
KR102405943B1 (ko) 2014-11-11 2022-06-07 엘지디스플레이 주식회사 컬러필터 어레이 기판 및 그 제조방법과 이를 이용한 유기전계발광 표시장치
CN205723639U (zh) * 2016-04-19 2016-11-23 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 一种封框胶结构、显示面板和显示装置
US10804407B2 (en) 2016-05-12 2020-10-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser processing apparatus and stack processing apparatus
CN206774584U (zh) * 2017-06-06 2017-12-19 京东方科技集团股份有限公司 薄膜封装结构和显示装置
CN109308851B (zh) * 2018-09-29 2020-12-22 京东方科技集团股份有限公司 可拉伸显示基板及其制造方法、显示装置

Family Cites Families (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57162352A (en) 1981-03-30 1982-10-06 Fujitsu Ltd Manufacture of resin-sealed semiconductor device
US4691995A (en) * 1985-07-15 1987-09-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal filling device
JPS6454420A (en) 1987-08-25 1989-03-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display element
US5148301A (en) * 1990-02-27 1992-09-15 Casio Computer Co., Ltd. Liquid crystal display device having a driving circuit inside the seal boundary
JP2776040B2 (ja) 1990-04-27 1998-07-16 凸版印刷株式会社 有機薄膜ｅｌ素子
JP2793048B2 (ja) 1991-02-22 1998-09-03 三井化学株式会社 有機発光素子の封止方法
JPH055890A (ja) * 1991-06-27 1993-01-14 Sanyo Electric Co Ltd 液晶表示パネルおよびその製造方法
JPH06176867A (ja) 1992-12-10 1994-06-24 Denki Kagaku Kogyo Kk 電界発光素子
JP3578417B2 (ja) 1994-10-21 2004-10-20 出光興産株式会社 有機ｅｌデバイス
JPH09148066A (ja) * 1995-11-24 1997-06-06 Pioneer Electron Corp 有機ｅｌ素子
US6195142B1 (en) * 1995-12-28 2001-02-27 Matsushita Electrical Industrial Company, Ltd. Organic electroluminescence element, its manufacturing method, and display device using organic electroluminescence element
US5776622A (en) 1996-07-29 1998-07-07 Eastman Kodak Company Bilayer eletron-injeting electrode for use in an electroluminescent device
JP3162313B2 (ja) * 1997-01-20 2001-04-25 工業技術院長 薄膜製造方法および薄膜製造装置
US5874804A (en) * 1997-03-03 1999-02-23 Motorola, Inc. Organic electroluminescent device hermetic encapsulation package and method of fabrication
JPH10275680A (ja) 1997-03-31 1998-10-13 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 有機ｅｌ素子
DE19748358A1 (de) 1997-11-03 1999-05-06 Bayer Ag Elektrochromes System
JP3139462B2 (ja) 1998-07-17 2001-02-26 日本電気株式会社 有機薄膜ｅｌデバイスの製造方法
JP2000068050A (ja) * 1998-08-24 2000-03-03 Casio Comput Co Ltd 電界発光素子及びその製造方法
JP3080164B2 (ja) * 1998-10-28 2000-08-21 信越エンジニアリング株式会社 エレクトロルミネセンス素子封止方法
JP2000150145A (ja) 1998-11-02 2000-05-30 Toyota Motor Corp Ｅｌ素子の密封方法
US6274887B1 (en) * 1998-11-02 2001-08-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method therefor
US6512271B1 (en) * 1998-11-16 2003-01-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US6317186B1 (en) * 1998-12-28 2001-11-13 International Business Machines Corporation Method for sealing corner regions of a liquid crystal display
US6281552B1 (en) * 1999-03-23 2001-08-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistors having ldd regions
WO2000077567A1 (fr) * 1999-06-11 2000-12-21 Seiko Epson Corporation Ecran a cristaux liquides et procede de fabrication correspondant
US6833668B1 (en) * 1999-09-29 2004-12-21 Sanyo Electric Co., Ltd. Electroluminescence display device having a desiccant
JP4255187B2 (ja) 1999-10-22 2009-04-15 スタンレー電気株式会社 有機ｅｌ表示装置の製造方法および該方法により製造された有機ｅｌ表示装置
JP3804360B2 (ja) 1999-11-02 2006-08-02 株式会社日立製作所 液晶表示装置及びその製造方法
US7112115B1 (en) * 1999-11-09 2006-09-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
TW493152B (en) * 1999-12-24 2002-07-01 Semiconductor Energy Lab Electronic device
JP3885440B2 (ja) 1999-12-27 2007-02-21 凸版印刷株式会社 光電変換素子及びその製造方法
US6559594B2 (en) * 2000-02-03 2003-05-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
CN1227751C (zh) 2000-02-17 2005-11-16 Lg电子株式会社 有机电致发光显示板及其封装方法
TWI249363B (en) * 2000-02-25 2006-02-11 Seiko Epson Corp Organic electroluminescence device and manufacturing method therefor
US7208868B2 (en) 2000-03-15 2007-04-24 Sony Corporation Light-emitting device and its use
JP4474721B2 (ja) 2000-03-15 2010-06-09 ソニー株式会社 有機又は無機発光素子
US6853130B2 (en) * 2000-03-21 2005-02-08 Seiko Epson Corporation Organic electroluminescent device and manufacturing method therefor
JP4810739B2 (ja) 2000-03-21 2011-11-09 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法
JP2001338755A (ja) 2000-03-21 2001-12-07 Seiko Epson Corp 有機ｅｌ素子およびその製造方法
JP3620706B2 (ja) 2000-04-13 2005-02-16 日本精機株式会社 有機ｅｌパネルの製造方法
JP2001357973A (ja) 2000-06-15 2001-12-26 Sony Corp 表示装置
US6433358B1 (en) * 2000-09-11 2002-08-13 International Business Machines Corporation Method for producing an organic light emitting device (OLED) and OLED produced thereby
US6661025B2 (en) * 2000-09-22 2003-12-09 Seiko Epson Corporation Method of manufacturing electro-optical apparatus substrate, electro-optical apparatus substrate, electro-optical apparatus and electronic apparatus
JP2002134272A (ja) 2000-10-25 2002-05-10 Ricoh Co Ltd エレクトロルミネセンス素子及びその作製方法
KR100628259B1 (ko) 2000-11-22 2006-09-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 디스플레이 패널
US6473148B1 (en) 2000-11-28 2002-10-29 Yafo Networks, Inc. Seal pattern for liquid crystal device
JP2002198170A (ja) 2000-12-26 2002-07-12 Nippon Seiki Co Ltd 有機ｅｌパネル
JP4338335B2 (ja) 2001-04-18 2009-10-07 トッキ株式会社 真空蒸着装置
TW493358B (en) * 2001-06-14 2002-07-01 Ritdisplay Corp Package method and apparatus of organic light-emitting diode display device
JP4869509B2 (ja) * 2001-07-17 2012-02-08 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US6911675B2 (en) * 2001-11-30 2005-06-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix display device and manufacturing method thereof
US6791660B1 (en) * 2002-02-12 2004-09-14 Seiko Epson Corporation Method for manufacturing electrooptical device and apparatus for manufacturing the same, electrooptical device and electronic appliances
JP4069640B2 (ja) 2002-02-12 2008-04-02 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、及び電子機器
KR100720414B1 (ko) * 2002-02-27 2007-05-22 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 표시 장치의 제조 방법
JP2004022277A (ja) 2002-06-14 2004-01-22 Dainippon Printing Co Ltd 有機ｅｌ素子の封止方法
JP4240276B2 (ja) * 2002-07-05 2009-03-18 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
KR101061882B1 (ko) * 2002-09-11 2011-09-02 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광장치 및 그의 제조방법
KR101032337B1 (ko) 2002-12-13 2011-05-09 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광장치 및 그의 제조방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107863357A (zh) * 2017-11-15 2018-03-30 上海天马微电子有限公司 一种阵列基板、显示面板及显示装置

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